[發(fā)明專利]自動光學檢測系統(tǒng)及其檢測隱形眼鏡邊緣瑕疵的方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010121338.8
• 申請日: 2020-02-26
• 公開（公告）號: CN113311006A
• 公開（公告）日: 2021-08-27
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 黃璽軒;張書修;詹皓仲;黃哲瑄;徐佳豪;林俊佑;張舜博
• 申請（專利權(quán)）人: 樂達創(chuàng)意科技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/958
• 分類號: G01N21/958;G01N21/95;G01M11/02
• 代理公司: 北京律和信知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11446
• 代理人: 張羽;項榮

1.一種自動光學檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述自動光學檢測系統(tǒng)包括：

一載盤，用來承載一隱形眼鏡；

一光源模塊，置于所述載盤下方，用來發(fā)射平行光至所述隱形眼鏡上；

一影像擷取模塊，置于所述載盤上方，并對應(yīng)于所述隱形眼鏡的位置，用來取得所述隱形眼鏡的一輪廓影像；以及

一系統(tǒng)主機，耦接所述影像擷取模塊，用來將所述輪廓影像上的所述隱形眼鏡邊緣分為多個區(qū)段，然后對多個所述區(qū)段交互進行相似性分析，并根據(jù)所述相似性分析的結(jié)果，檢測所述隱形眼鏡邊緣是否有瑕疵。

2.如權(quán)利要求1所述的自動光學檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述相似性分析的結(jié)果用以一相似性測度表示，并當多個所述區(qū)段的一第一區(qū)段和一第二區(qū)段的所述相似性測度低于一門限值時，所述系統(tǒng)主機則檢測出所述隱形眼鏡邊緣有所述瑕疵，并判斷所述第一區(qū)段和所述第二區(qū)段的至少一者為有所述瑕疵的所述隱形眼鏡邊緣。

3.如權(quán)利要求2所述的自動光學檢測系統(tǒng)，其特征在于，當所述第一區(qū)段和一第三區(qū)段的所述相似性測度也低于所述門限值，但所述第二區(qū)段和所述第三區(qū)段的所述相似性測度高于所述門限值時，所述系統(tǒng)主機則判斷所述第一區(qū)段為有所述瑕疵的所述隱形眼鏡邊緣。

4.如權(quán)利要求2所述的自動光學檢測系統(tǒng)，其特征在于，當所述第二區(qū)段和一第三區(qū)段的所述相似性測度也低于所述門限值，但所述第一區(qū)段和所述第三區(qū)段的所述相似性測度高于所述門限值時，所述系統(tǒng)主機則判斷所述第二區(qū)段為有所述瑕疵的所述隱形眼鏡邊緣。

5.如權(quán)利要求1所述的自動光學檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)主機是以受光照程度相似的多個所述區(qū)段來交互進行所述相似性分析。

6.一種檢測隱形眼鏡邊緣瑕疵的方法，執(zhí)行于一自動光學檢測系統(tǒng)中，其特征在于，所述自動光學檢測系統(tǒng)包括一載盤、一光源模塊、一影像擷取模塊和一系統(tǒng)主機，所述方法包括：

利用所述載盤承載所述隱形眼鏡，并利用所述光源模塊發(fā)射平行光至所述隱形眼鏡上；

利用所述影像擷取模塊取得所述隱形眼鏡的一輪廓影像；以及

利用所述系統(tǒng)主機將所述輪廓影像上的所述隱形眼鏡邊緣分為多個區(qū)段，然后對多個所述區(qū)段交互進行相似性分析，并根據(jù)所述相似性分析的結(jié)果，檢測所述隱形眼鏡邊緣是否有所述瑕疵。

7.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述相似性分析的結(jié)果用以一相似性測度表示，并當多個所述區(qū)段的一第一區(qū)段和一第二區(qū)段的所述相似性測度低于一門限值時，所述系統(tǒng)主機則檢測出所述隱形眼鏡邊緣有所述瑕疵，并判斷所述第一區(qū)段和所述第二區(qū)段的至少一者為有所述瑕疵的所述隱形眼鏡邊緣。

8.如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，當所述第一區(qū)段和一第三區(qū)段的所述相似性測度也低于所述門限值，但所述第二區(qū)段和所述第三區(qū)段的所述相似性測度高于所述門限值時，所述系統(tǒng)主機則判斷所述第一區(qū)段為有所述瑕疵的所述隱形眼鏡邊緣。

9.如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，當所述第二區(qū)段和一第三區(qū)段的所述相似性測度也低于所述門限值，但所述第一區(qū)段和所述第三區(qū)段的所述相似性測度高于所述門限值時，所述系統(tǒng)主機則判斷所述第二區(qū)段為有所述瑕疵的所述隱形眼鏡邊緣。

10.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述系統(tǒng)主機是以受光照程度相似的多個所述區(qū)段來交互進行所述相似性分析。