[發明專利]平整度測量方法、裝置、計算機設備和存儲介質

有效

• 申請號: 202010118310.9
• 申請日: 2020-02-26
• 公開（公告）號: CN113310438B
• 公開（公告）日: 2023-04-07
• 發明（設計）人: 趙聞迪;郭小凡
• 申請（專利權）人: 廣東博智林機器人有限公司
• 主分類號: G01B11/30
• 分類號: G01B11/30;G06N3/08
• 代理公司: 華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 周清華

本申請涉及一種平整度測量方法、裝置、系統、計算機設備和存儲介質。所述方法包括：獲取初始條紋圖像；所述初始條紋圖像包括若干條等距排布的線狀條紋：將所述初始條紋圖像投影至待測表面，以在所述待測表面形成條紋投影圖像；采集所述待測表面的條紋投影圖像；根據所述條紋投影圖像中的條紋彎曲特征和所述條紋投影圖像中的條紋稀疏特征，確定所述待測表面的平整度信息。采用本方法能夠提高墻面平整度的測量效率。

技術領域

本申請涉及智能建筑技術領域，特別是涉及一種平整度測量方法、裝置、計算機設備和存儲介質。

背景技術

現有技術在對建筑物的墻面平整度進行測量時，往往需要使用專業的墻面平整度測量尺等測量工具對墻面的平整度進行人工測量。這也使得在測量人員在面臨大面積的墻面平整度測量場景下時墻面平整度的測量效率不高。

因此，現有技術在測量墻面平整度的過程中存在效率不高的問題。

發明內容

基于此，有必要針對上述技術問題，提供一種能夠提高墻面平整度測量效率的平整度測量方法、裝置、計算機設備和存儲介質。

一種平整度測量方法，所述方法包括：

獲取初始條紋圖像；所述初始條紋圖像包括若干條等距排布的線狀條紋：

將所述初始條紋圖像投影至待測表面，以在所述待測表面形成條紋投影圖像；

采集所述待測表面的條紋投影圖像；

根據所述條紋投影圖像中的條紋彎曲特征和所述條紋投影圖像中的條紋稀疏特征，確定所述待測表面的平整度信息。

在其中一個實施例中，所述根據所述條紋投影圖像中的條紋彎曲特征和所述條紋投影圖像中的條紋稀疏特征，確定所述待測表面的平整度信息，包括：

將所述條紋投影圖像輸入至預訓練的識別模型；

通過所述預訓練的識別模型，提取所述條紋投影圖像中的條紋彎曲特征，以及，提取所述條紋投影圖像中的條紋稀疏特征，并根據所述條紋彎曲特征和所述條紋稀疏特征，生成所述條紋投影圖像的模型輸出結果；

根據所述條紋投影圖像的模型輸出結果，確定所述待測表面的平整度信息。

在其中一個實施例中，所述根據所述條紋投影圖像的模型輸出結果，確定所述待測表面的平整度信息，包括：

根據所述條紋投影圖像的模型輸出結果，確定所述條紋投影圖像中的條紋畸變區域；所述條紋畸變區域與所述待測表面的非平整區域對應；

確定所述條紋畸變區域在所述條紋投影圖像中的位置坐標，以及，確定所述條紋畸變區域對應的畸變程度值；

將所述位置坐標和所述畸變程度值，作為所述待測表面的平整度信息。

在其中一個實施例中，在所述將所述條紋投影圖像輸入至預訓練的識別模型的步驟之前，還包括：

獲取條紋投影樣本圖像；

將所述條紋投影樣本圖像輸入至待訓練的識別模型；所述待訓練的識別模型用于對輸入的條紋投影樣本圖像進行處理，得到所述條紋投影樣本圖像的模型輸出結果；所述條紋投影樣本圖像具有對應的標簽信息；

基于所述條紋投影樣本圖像的模型輸出結果與所述條紋投影樣本圖像的標簽信息，更新所述待訓練的識別模型的模型參數，得到訓練后的識別模型，并將所述訓練后的識別模型作為所述待訓練的識別模型；

重復執行上述步驟，直至得到所述預訓練的識別模型。

在其中一個實施例中，所述采集所述待測表面的條紋投影圖像，包括：

獲取原始條紋投影圖像；