[發明專利]在執行X射線檢查時運行X射線設備的方法及X射線設備

有效

• 申請號: 202010115083.4
• 申請日: 2020-02-25
• 公開（公告）號: CN111603189B
• 公開（公告）日: 2023-10-20
• 發明（設計）人: P.伯恩哈特;A.伯廷;S.博姆;B.斯托瓦瑟
• 申請（專利權）人: 西門子醫療有限公司
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 劉暢

1.一種在執行X射線檢查時運行醫學X射線設備的方法，具有如下方法步驟：

-拍攝檢查對象的身體區域的多個第一X射線圖像，

其中，利用恒定的X射線圖像拍攝頻率和對于每個X射線圖像拍攝恒定的X射線輻射劑量，來拍攝所述多個第一X射線圖像；

-產生掩模圖像，其中，產生所述掩模圖像包括對所述多個第一X射線圖像進行平均；

-在拍攝所述多個第一X射線圖像之后的另一個時間點，拍攝身體區域的至少一個第二X射線圖像，

其中，利用與用于拍攝第一X射線圖像相同的恒定的X射線圖像拍攝頻率和相同的對于每個X射線圖像拍攝恒定的X射線輻射劑量，來拍攝所述至少一個第二X射線圖像；

-至少根據所述掩模圖像和所述至少一個第二X射線圖像，產生總圖像。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在產生所述總圖像時，將所述掩模圖像和所述至少一個第二X射線圖像彼此相減。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，附加地根據第二后續圖像來產生所述總圖像，

-其中，由第一X射線圖像中的至少一個，產生第一后續圖像，

-其中，所述第二后續圖像

-通過第一后續圖像的自適應平均，并且

-至少根據所述至少一個第二X射線圖像，

來確定。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述自適應平均包括對所述第一后續圖像和所述至少一個第二X射線圖像進行平均。

5.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，確定與偏差大小相關的平均參量，用于所述第一后續圖像和所述至少一個第二X射線圖像的自適應平均，其中，通過第一X射線圖像中的至少一個與所述至少一個第二X射線圖像之間的偏差，來確定所述偏差大小。

6.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，確定與偏差大小相關的平均參量，用于所述第一后續圖像和所述至少一個第二X射線圖像的自適應平均，其中，通過所述第一后續圖像與所述至少一個第二X射線圖像之間的偏差，來確定所述偏差大小。

7.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，確定與偏差大小相關的平均參量，

-其中，對多個第一X射線圖像進行平均，以形成第一中間平均圖像，并且對相同數量的第二X射線圖像進行平均，以形成第二中間平均圖像，

-其中，通過所述第一中間平均圖像，形成所述第一后續圖像，

-其中，通過所述第一后續圖像與所述第二中間平均圖像之間的偏差，來確定所述偏差大小，

-其中，自適應平均包括對所述第一后續圖像和所述第二中間平均圖像進行平均。

8.根據權利要求3至7所述的方法，其特征在于，在產生所述總圖像時，將所述掩模圖像和所述第二后續圖像彼此相減。

9.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其特征在于，其中，為了產生所述掩模圖像，僅對第一X射線圖像的一部分進行平均。

10.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其特征在于，拍攝多個第二X射線圖像，其中，通過多個第二X射線圖像的數量，來確定為了產生所述掩模圖像而進行平均的多個第一X射線圖像的數量。

11.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其特征在于，拍攝多個第二X射線圖像，其中，產生多個總圖像，其中，通過從多個第二X射線圖像中的一個減去所述掩模圖像，來產生多個總圖像中的每個。

12.根據權利要求11所述的方法，其特征在于，所述X射線設備具有X射線單元和檢測器，其中，在拍攝至少一個第二X射線圖像之后和/或之前，在檢測器不曝光的情況下拍攝至少一個暗圖像。