[發明專利]陣列基板和顯示面板

有效

• 申請號: 202010114854.8
• 申請日: 2020-02-25
• 公開（公告）號: CN113376908B
• 公開（公告）日: 2023-07-28
• 發明（設計）人: 韓林宏;張毅;黃煒赟;龍躍;王予;張猛;姜曉峰;尚庭華;張祎楊;秦世開
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;成都京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G02F1/1362
• 分類號: G02F1/1362;G09F9/33;H10K59/12
• 代理公司: 北京律智知識產權代理有限公司 11438
• 代理人: 王輝;闞梓瑄

本公開提供了一種陣列基板和顯示面板，屬于顯示技術領域。該陣列基板包括電性檢測引線、兩個電性檢測焊盤、多個第一檢測開關、亮線檢測焊盤、亮線檢測引線和多個第二檢測開關，其中，電性檢測引線環繞所述陣列基板的顯示區；所述電性檢測引線包括第一引線和第二引線，所述第一引線和所述第二引線分別與所述電性檢測引線的兩端連接；兩個電性檢測焊盤分別連接所述第一引線和所述第二引線；多個第一檢測開關各個所述第一檢測開關的輸入端與所述電性檢測引線電連接；亮線檢測引線連接所述亮線檢測焊盤；多個第二檢測開關各個所述第二檢測開關的輸入端與所述亮線檢測引線電連接。該陣列基板能夠提高電性檢測的準確性。

技術領域

本公開涉及顯示技術領域，尤其涉及一種陣列基板和顯示面板。

背景技術

在陣列基板的制備過程中和模組段，需要通過電性檢測和亮線檢測以檢測陣列基板上的不良，例如檢測陣列基板上是否存在裂紋等不良。因此，陣列基板上需要設置電性檢測引線和亮線檢測引線，亮線檢測引線上設置有多個與數據線電連接的檢測開關，亮線檢測引線和電性檢測引線電連接。

然而，在通過測量電性檢測引線的電阻以判斷是否存在裂紋時，經常出現電阻測量不準確的情形，降低了電性檢測的準確性。

所述背景技術部分公開的上述信息僅用于加強對本公開的背景的理解，因此它可以包括不構成對本領域普通技術人員已知的現有技術的信息。

發明內容

本公開的目的在于提供一種陣列基板和顯示面板，提高電性檢測的準確性。

為實現上述發明目的，本公開采用如下技術方案：

根據本公開的第一個方面，提供一種陣列基板，包括：

電性檢測引線，環繞所述陣列基板的顯示區；所述電性檢測引線包括第一引線和第二引線，所述第一引線和所述第二引線分別與所述電性檢測引線的兩端連接；

兩個電性檢測焊盤，分別連接所述第一引線和所述第二引線；

多個第一檢測開關，各個所述第一檢測開關的輸入端與所述電性檢測引線電連接；

亮線檢測焊盤；

亮線檢測引線，連接所述亮線檢測焊盤；

多個第二檢測開關，各個所述第二檢測開關的輸入端與所述亮線檢測引線電連接。

在本公開的一種示例性實施例中，所述亮線檢測焊盤包括第一亮線檢測焊盤和第二亮線檢測焊盤，所述亮線檢測引線包括第一亮線檢測引線和第二亮線檢測引線；

所述第一亮線檢測引線和所述第一亮線檢測焊盤電連接，所述第二亮線檢測引線和所述第二亮線檢測焊盤電連接；

部分所述第二檢測開關的輸入端與所述第一亮線檢測引線電連接，其余所述第二檢測開關的輸入端與所述第二亮線檢測引線電連接。

在本公開的一種示例性實施例中，部分所述第二檢測開關和至少部分所述第一檢測開關沿第一直線排列；

其余所述第二檢測開關和其余所述第一檢測開關沿第二直線排列，所述第一直線和所述第二直線平行。

在本公開的一種示例性實施例中，所述第一直線位于所述第二直線與所述陣列基板的顯示區之間。

在本公開的一種示例性實施例中，所有的所述第一檢測開關均位于所述第一直線。

在本公開的一種示例性實施例中，所述電性檢測引線包括依次電連接的第一引線、第四引線、第三引線、第五引線和第二引線，其中，所述第一引線、所述第二引線和所述第三引線位于所述第一直線和所述第二直線之間；

所述第一引線連接一個所述電性檢測焊盤和部分所述第一檢測開關；所述第二引線連接另一個所述電性檢測焊盤和其余所述第一檢測開關；