[發(fā)明專利]檢測輸入/輸出(I/O)回路中的回路電阻和泄漏電流在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010114254.1 | 申請日： | 2020-02-24 |
| 公開（公告）號： | CN111610773A | 公開（公告）日： | 2020-09-01 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 蘇博利亞·拉瓦特;沙拉德·吉塔拉姆·帕坦雷;薩拉比吉特·辛格;阿南特·維塔爾·維德萬斯 | 申請（專利權(quán)）人： | 霍尼韋爾國際公司 |
| 主分類號： | G05B23/02 | 分類號： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 陳嵐 |
| 地址： | 美國新*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 檢測 輸入 輸出 回路 中的 電阻 泄漏 電流 | ||
1.一種裝置，包括：
至少一個處理設(shè)備(220，224)，所述至少一個處理設(shè)備被配置為：
獲取耦接到輸入/輸出(I/O)回路(114)的現(xiàn)場設(shè)備(102，204)的端子(216)上的電壓的不同測量結(jié)果，所述電壓測量結(jié)果與流過所述I/O回路的對應(yīng)的回路電流相關(guān)聯(lián)；
使用所述電壓測量結(jié)果和所述回路電流來識別所述I/O回路的基線回路電阻測量結(jié)果；
獲取所述現(xiàn)場設(shè)備的所述端子上的電壓的附加測量結(jié)果，所述附加電壓測量結(jié)果與流過所述I/O回路的附加對應(yīng)回路電流相關(guān)聯(lián)；
使用所述附加電壓測量結(jié)果和所述附加回路電流來識別所述I/O回路的附加回路電阻測量結(jié)果；以及
基于所述基線回路電阻測量結(jié)果和所述附加回路電阻測量結(jié)果來檢測所述I/O回路的問題。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其中所述至少一個處理設(shè)備被配置為使用所述電壓測量結(jié)果之間的差值和所述回路電流之間的差值來識別所述基線回路電阻測量結(jié)果。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其中所述至少一個處理設(shè)備被進(jìn)一步配置為響應(yīng)于檢測到所述I/O回路的所述問題而生成并輸出通知。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其中當(dāng)所述I/O回路處于已知良好狀態(tài)時，捕獲所述電壓測量結(jié)果。
5.一種方法，包括：
獲取(604)耦接到輸入/輸出(I/O)回路(114)的現(xiàn)場設(shè)備(102，204)的端子(216)上的電壓的不同測量結(jié)果，所述電壓測量結(jié)果與流過所述I/O回路的對應(yīng)的回路電流相關(guān)聯(lián)；
使用所述電壓測量結(jié)果和所述回路電流來識別(606)所述I/O回路的基線回路電阻測量結(jié)果；
獲取(610)所述現(xiàn)場設(shè)備的所述端子上的電壓的附加測量結(jié)果，所述附加電壓測量結(jié)果與流過所述I/O回路的附加對應(yīng)回路電流相關(guān)聯(lián)；
使用所述附加電壓測量結(jié)果和所述附加回路電流來識別(612)所述I/O回路的附加回路電阻測量結(jié)果；以及
基于所述基線回路電阻測量結(jié)果和所述附加回路電阻測量結(jié)果來檢測(614-616)所述I/O回路的問題。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其中使用所述電壓測量結(jié)果之間的差值和所述回路電流之間的差值來識別所述基線回路電阻測量結(jié)果。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其中所述I/O回路的所述問題包括所述附加回路電阻測量結(jié)果超過或低于所述基線回路電阻測量結(jié)果閾值量或百分比中的至少一者。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，還包括：
響應(yīng)于識別到所述I/O回路的所述問題而生成并輸出(618)通知。
9.一種裝置，包括：
至少一個處理設(shè)備(220，224)，所述至少一個處理設(shè)備被配置為：
獲取耦接到輸入/輸出(I/O)回路(114)的現(xiàn)場設(shè)備(102，204)的端子(216)上的電壓的不同測量結(jié)果，所述電壓測量結(jié)果與流過所述I/O回路的對應(yīng)的回路電流相關(guān)聯(lián)；
使用所述電壓測量結(jié)果和所述回路電流來識別基于所述I/O回路中的電阻的一個或多個值；以及
基于所述一個或多個值來檢測所述I/O回路中的泄漏電流的存在。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其中：
所述至少一個處理設(shè)備被進(jìn)一步配置為：
獲取所述現(xiàn)場設(shè)備的所述端子上的電壓的初始測量結(jié)果，所述初始電壓測量結(jié)果與流過所述I/O回路的對應(yīng)初始回路電流相關(guān)聯(lián)；以及
使用所述初始電壓測量結(jié)果和所述初始回路電流來識別所述I/O回路的基線回路電阻測量結(jié)果；以及
所述至少一個處理設(shè)備被配置為使用所述基線回路電阻測量結(jié)果來檢測所述泄漏電流的所述存在。
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