[發(fā)明專利]點(diǎn)膠管控方法、顯示模組及電子設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010114152.X
• 申請日: 2020-02-24
• 公開（公告）號: CN111337500B
• 公開（公告）日: 2023-01-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陸忠恒
• 申請（專利權(quán)）人: OPPO廣東移動通信有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 深圳市慧實(shí)專利代理有限公司 44480
• 代理人: 孫東杰

1.一種點(diǎn)膠管控方法，其特征在于，包括：

在基材的盲孔內(nèi)的點(diǎn)膠位點(diǎn)膠，以形成膠體；

在點(diǎn)膠閥的點(diǎn)膠口與所述點(diǎn)膠位之間的連線上確定預(yù)設(shè)干涉位置，使所述預(yù)設(shè)干涉位置與待安裝于所述盲孔內(nèi)的電子器件之間的間距大于或等于預(yù)設(shè)間距；

在所述點(diǎn)膠閥的點(diǎn)膠口與所述點(diǎn)膠位之間的連線上確定目標(biāo)位置，使所述目標(biāo)位置位于所述膠體輪廓面與所述連線的交接點(diǎn)；

檢測所述目標(biāo)位置是否位于所述點(diǎn)膠位與所述預(yù)設(shè)干涉位置之間，若檢測結(jié)果為是，則所述點(diǎn)膠工序合格；若檢測結(jié)果為否，則所述點(diǎn)膠工序不合格。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的點(diǎn)膠管控方法，其特征在于，所述在基材的盲孔內(nèi)的點(diǎn)膠位點(diǎn)膠，以形成膠體，包括：

在背光模組上設(shè)置液晶基板，以形成基材；

在所述基材上形成盲孔，使所述盲孔貫穿所述背光模組，及所述液晶基板朝向所述背光模組的表面形成所述盲孔的底面，使所述盲孔的孔內(nèi)壁與所述液晶基板之間的連接處形成點(diǎn)膠位；

在所述點(diǎn)膠位上點(diǎn)膠，以形成膠體。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的點(diǎn)膠管控方法，其特征在于，所述在所述點(diǎn)膠位上點(diǎn)膠，以形成膠體，包括：

經(jīng)所述盲孔在所述液晶基板與所述背光模組之間形成第一道膠體，使所述第一道膠體密封連接所述液晶基板與所述背光模組之間；

經(jīng)所述盲孔在所述液晶基板與所述盲孔的孔內(nèi)壁之間形成第二道膠體，使所述第二道膠體密封連接所述液晶基板與所述盲孔的孔內(nèi)壁。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的點(diǎn)膠管控方法，其特征在于，所述經(jīng)所述盲孔在所述液晶基板與所述背光模組之間形成第一道膠體，使所述第一道膠體密封連接所述液晶基板與所述背光模組之間，包括：

將所述基材傾斜第一角度，使所述點(diǎn)膠位設(shè)于與點(diǎn)膠閥相對應(yīng)的位置，旋轉(zhuǎn)所述基材，以使所述點(diǎn)膠閥對所述點(diǎn)膠位點(diǎn)膠，形成第一道膠體，所述第一角度大于或等于0°，且所述第一角度小于或等于10°；

所述經(jīng)所述盲孔在所述液晶基板與所述盲孔的孔內(nèi)壁之間形成第二道膠體，使所述第二道膠體密封連接所述液晶基板與所述盲孔的孔內(nèi)壁，包括：

將所述基材傾斜第二角度，使所述第一道膠體與所述盲孔的孔內(nèi)壁的連接處設(shè)于與點(diǎn)膠閥相對應(yīng)的位置，旋轉(zhuǎn)所述基材，以使所述點(diǎn)膠閥對所述第一道膠體與所述盲孔的孔內(nèi)壁的連接處點(diǎn)膠，形成第二道膠體，所述目標(biāo)位置位于所述第二道膠體的輪廓面上，所述第二角度大于或等于40°，且所述第二角度小于或等于50°。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的點(diǎn)膠管控方法，其特征在于，所述預(yù)設(shè)干涉位置包括第一坐標(biāo)和第二坐標(biāo)，所述第一坐標(biāo)為所述預(yù)設(shè)干涉位置與所述盲孔的孔內(nèi)壁之間的距離；所述第二坐標(biāo)為所述預(yù)設(shè)干涉位置與所述液晶基板之間的距離。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的點(diǎn)膠管控方法，其特征在于，所述確定所述膠體輪廓面上與所述預(yù)設(shè)干涉位置相對應(yīng)的目標(biāo)位置，還包括：

通過激光掃描所述第二道膠體的輪廓面，獲取所述預(yù)設(shè)干涉位置與所述目標(biāo)位置之間的目標(biāo)距離；

根據(jù)所述目標(biāo)距離、所述第一坐標(biāo)和所述第二坐標(biāo)獲取所述目標(biāo)位置的第三坐標(biāo)和第四坐標(biāo)，所述第三坐標(biāo)為所述目標(biāo)位置與所述盲孔的孔內(nèi)壁之間的距離；所述第四坐標(biāo)為所述目標(biāo)位置與所述液晶基板之間的距離。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的點(diǎn)膠管控方法，其特征在于，所述檢測所述目標(biāo)位置是否位于所述點(diǎn)膠位與所述預(yù)設(shè)干涉位置之間，若檢測結(jié)果為是，則所述點(diǎn)膠工序合格；若檢測結(jié)果為否，則所述點(diǎn)膠工序不合格，包括：

判斷所述第三坐標(biāo)是否小于或等于所述第一坐標(biāo)，及所述第四坐標(biāo)是否小于或等于所述第二坐標(biāo)；

當(dāng)所述第三坐標(biāo)小于或等于所述第一坐標(biāo)，且所述第四坐標(biāo)小于或等于所述第二坐標(biāo)時(shí)，則確定所述點(diǎn)膠工序合格；

當(dāng)所述第三坐標(biāo)大于所述第一坐標(biāo)或所述第四坐標(biāo)大于所述第二坐標(biāo)時(shí)，則確定所述點(diǎn)膠工序不合格。