[發(fā)明專利]一種誤差補(bǔ)償設(shè)備及誤差補(bǔ)償方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010113624.X
• 申請(qǐng)日: 2020-02-24
• 公開（公告）號(hào): CN111240057B
• 公開（公告）日: 2022-04-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 景小紅
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 惠州市華星光電技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G02F1/13
• 分類號(hào): G02F1/13
• 代理公司: 深圳紫藤知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44570
• 代理人: 徐世俊

1.一種誤差補(bǔ)償設(shè)備，用以顯示面板對(duì)位貼合，其特征在于，包括

寄存器，存儲(chǔ)有第一基板中每一像素的初始坐標(biāo)和第二基板中每一像素的初始坐標(biāo)，所述第一基板中每一像素的初始坐標(biāo)對(duì)應(yīng)所述第二基板中每 一像素的初始坐標(biāo)；

圖形發(fā)生器，用于點(diǎn)亮所述第一基板中若干像素，生成第一圖形標(biāo)志；以及點(diǎn)亮所述第二基板中與所述第一基板對(duì)應(yīng)的若干像素，生成第二圖形標(biāo)志；

傳感器，當(dāng)所述第一基板和所述第二基板相互貼合時(shí)，用于檢測(cè)所述第一圖形標(biāo)志中任意一點(diǎn)的坐標(biāo)位置和所述第二圖形標(biāo)志中的對(duì)應(yīng)點(diǎn)的坐標(biāo)位置，并計(jì)算出所述第一圖形標(biāo)志中這一點(diǎn)的坐標(biāo)位置和第二圖形標(biāo)志中對(duì)應(yīng)點(diǎn)的位置差值；

地址燒錄器，用以根據(jù)所述位置差值重新分配所述第二基板中每一像素的坐標(biāo)，使所述第二基板中每一像素的坐標(biāo)與所述第一基板中每一像素的初始坐標(biāo)重新對(duì)應(yīng)，并將重新分配后的所述第二基板中每一像素的坐標(biāo)更新至所述寄存器。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的誤差補(bǔ)償設(shè)備，其特征在于，所述第一圖形標(biāo)志和第二圖形標(biāo)志為十字線交叉點(diǎn)或正方形點(diǎn)或框型點(diǎn)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的誤差補(bǔ)償設(shè)備，其特征在于，所述第二基板的顯示區(qū)面積大于所述第一基板的顯示區(qū)面積。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的誤差補(bǔ)償設(shè)備，其特征在于，所述第一基板和第二基板中對(duì)應(yīng)的每一像素的初始坐標(biāo)包括X軸坐標(biāo)和Y軸的坐標(biāo)，所述X軸坐標(biāo)和Y軸坐標(biāo)構(gòu)成二維垂直坐標(biāo)系。

5.一種誤差補(bǔ)償方法，其特征在于，所述誤差補(bǔ)償方法包括以下步驟：

提供如權(quán)利要求1所述的誤差補(bǔ)償設(shè)備以及第一基板和第二基板，所述第一基板中的每一像素和第二基板每一像素相互對(duì)應(yīng)；

坐標(biāo)系建立步驟：建立坐標(biāo)系，賦予所述第一基板中每一像素一坐標(biāo)，賦予所述第二基板中每一像素一坐標(biāo)；

基板貼合步驟：將所述第一基板貼合至所述第二基板上；

圖形標(biāo)志生成步驟：點(diǎn)亮所述第一基板中若干像素，生成第一圖形標(biāo)志；以及點(diǎn)亮所述第二基板中與所述第一基板對(duì)應(yīng)的若干像素，生成第二圖形標(biāo)志；

圖形標(biāo)志檢測(cè)步驟：檢測(cè)所述第一圖形標(biāo)志中任意一點(diǎn)的坐標(biāo)位置和所述第二圖形標(biāo)志中的對(duì)應(yīng)點(diǎn)的坐標(biāo)位置，并計(jì)算出所述第一圖形標(biāo)志中這一點(diǎn)的坐標(biāo)位置和第二圖形標(biāo)志中對(duì)應(yīng)點(diǎn)的位置差值；

坐標(biāo)更新步驟：根據(jù)所述位置差值重新分配所述第二基板中每一像素的坐標(biāo)，使所述第二基板中每一像素的坐標(biāo)與所述第一基板中每一像素的初始坐標(biāo)重新對(duì)應(yīng)，并更新重新分配后的所述第二基板中每一像素的坐標(biāo)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的誤差補(bǔ)償方法，其特征在于，在坐標(biāo)更新步驟中，包括

判斷所述位置差值是否為0，若是，則判斷所述第一圖形標(biāo)志中任意一點(diǎn)的坐標(biāo)位置和所述第二圖形標(biāo)志中的對(duì)應(yīng)點(diǎn)的坐標(biāo)標(biāo)志重合，若否，則根據(jù)所述位置差值重新分配所述第二基板中的像素的坐標(biāo)，并返回所述圖形標(biāo)志生成步驟，直至所述位置差值為0。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的誤差補(bǔ)償方法，其特征在于，在建立坐標(biāo)系步驟中，包括建立具有X軸坐標(biāo)和Y軸坐標(biāo)的二維垂直坐標(biāo)系，所述第一基板中第N個(gè)像素的坐標(biāo)表示為(Xn，Yn)，所述第二基板中第M個(gè)像素的坐標(biāo)表示為(Xm，Ym)。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的誤差補(bǔ)償方法，其特征在于，在所述圖形標(biāo)志檢測(cè)步驟中，所述第一基板中第N個(gè)像素的坐標(biāo)與所述第二基板中對(duì)應(yīng)的第N個(gè)像素的坐標(biāo)差值為(Xn-Xm，Yn-Ym)。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的誤差補(bǔ)償方法，其特征在于，在所述計(jì)算位置差值步驟中，包括

抓取三個(gè)第一基板和與第二基板的對(duì)應(yīng)位置，計(jì)算每個(gè)對(duì)應(yīng)位置在X軸坐標(biāo)的差值，再算出三個(gè)X軸坐標(biāo)差值的平均值，再計(jì)算每個(gè)對(duì)應(yīng)位置在Y軸坐標(biāo)的差值，再算出三個(gè)Y軸坐標(biāo)差值的平均值，以所述X軸坐標(biāo)差值的平均值和所述Y軸坐標(biāo)差值的平均值作為實(shí)際的位置差值。

10.根據(jù)權(quán)利要求5所述的誤差補(bǔ)償方法，其特征在于，所述第一圖形標(biāo)志和第二圖形標(biāo)志為十字線交叉點(diǎn)或正方形點(diǎn)或框型點(diǎn)。