[發明專利]非接觸角度傳感器

在審

• 申請號: 202010113252.0
• 申請日: 2020-02-24
• 公開（公告）號: CN111721328A
• 公開（公告）日: 2020-09-29
• 發明（設計）人: 野尻成和;后藤龍樹;星野真人
• 申請（專利權）人: 日本電產科寶電子株式會社
• 主分類號: G01D5/14
• 分類號: G01D5/14;G01B7/30
• 代理公司: 北京安信方達知識產權代理有限公司 11262
• 代理人: 李薇;楊明釗

本發明的實施方式涉及非接觸角度傳感器。圓柱形磁體(16)通過被測定體(17)旋轉，包含S極和N極。基板(12)被磁體(16)貫通。霍爾元件(14)配置于基板(12)的從磁體(16)的中心偏離的位置。運算部(25)校準霍爾元件(14)從磁體(16)的偏移，以使磁體(16)的中心和霍爾元件(14)的中心一致。

技術領域

本發明的實施方式涉及非接觸地測定旋轉角度的作為所謂電位計的非接觸角度傳感器。

背景

非接觸角度傳感器具備永磁體(以下稱為磁體)和磁阻元件(以下稱為霍爾元件)，通過霍爾元件檢測永磁體的旋轉角度(例如參照專利文獻1)。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特公平7－85441號公報

發明概述

發明所要解決的問題

現有的非接觸角度傳感器需要準確地設定設置于旋轉體的磁體和霍爾元件的位置關系。具體而言，如果不使磁體和霍爾元件準確地對置，則就不能準確地檢測旋轉角度。因此，必須使磁體的旋轉中心和霍爾元件的中心準確地一致。

本實施方式提供一種非接觸角度傳感器，即使磁體的旋轉中心和霍爾元件的中心偏離，也能夠探測準確的角度。

用于解決問題的技術方案

本實施方式的非接觸角度傳感器具備：圓柱狀的磁體，其通過被測定體旋轉，包含S極和N極；基板，所述磁體貫通所述基板；霍爾元件，其配置于所述基板的從所述磁體的中心偏離的位置；以及運算部，其校準所述霍爾元件從所述磁體的偏移，以使所述磁體的中心和所述霍爾元件的中心一致。

附圖說明

圖1是表示本實施方式的非接觸角度傳感器的俯視圖。

圖2是沿著圖1的II-II線的剖視圖。

圖3是將本實施方式的非接觸角度傳感器分解表示的立體圖。

圖4是表示本實施方式的非接觸角度傳感器的電路結構的一例的框圖。

圖5是表示本實施方式的非接觸角度傳感器的校準動作的一例的流程圖。

圖6是表示本實施方式的霍爾元件和磁體的位置關系的一例的圖。

圖7是表示對應于圖6的校準動作的一例的圖。

圖8是表示對應于圖6的校準動作的另一例的圖。

圖9是表示本實施方式的霍爾元件和磁體的位置關系的另一例的圖。

圖10是表示對應于圖9的校準動作的一例的圖。

圖11是表示對應于圖9的校準動作的另一例的圖。

圖12是表示本實施方式的非接觸角度傳感器的角度檢測動作的一例的流程圖。

圖13是表示檢測角度時的修正動作的一例的圖。

圖14是表示檢測角度時的修正動作的另一例的圖。

具體實施方式

以下，參照附圖說明實施方式。在附圖中，對同一部分標注相同的符號。

(裝置結構)

圖1～圖3表示本實施方式的非接觸角度傳感器10。在圓筒狀的主體11的內部設置有基板12及覆蓋基板12的罩13。在基板12的例如表面設置有霍爾元件14及處理霍爾元件14的輸出信號的后述的電路。