[發明專利]一種芯片共享資源串行測試裝置及方法

有效

• 申請號: 202010113069.0
• 申請日: 2020-02-24
• 公開（公告）號: CN111273157B
• 公開（公告）日: 2022-07-08
• 發明（設計）人: 薛孟錫
• 申請（專利權）人: 上海御渡半導體科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 上海天辰知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 31275
• 代理人: 陶金龍;馬盼

本發明公開了一種芯片共享資源串行測試方法，包括如下步驟：S01：將芯片A和芯片B通過雙擲繼電器同時連接至測試平臺；S02：測試平臺錄入每個芯片中各個測試項目的占用時間；S03：測試平臺控制雙擲繼電器連接至芯片A，當芯片A的測試項目X的閑置時間大于芯片B的一個或多個測試項目的測試時間時，進入步驟S04；否則，測試平臺對芯片A各個測試項目依次進行測試，測試完成之后，測試平臺控制雙擲繼電器連接至芯片B，測試平臺對芯片B進行測試；S04：測試平臺控制雙擲繼電器連接至芯片B，測試平臺對芯片B進行一個或多個測試項目的測試；S05：測試平臺控制雙擲繼電器連接至芯片A，返回步驟S03。本發明可以節省芯片測試時間。

技術領域

本發明涉及芯片測試領域，具體涉及一種芯片共享資源串行測試裝置及方法。

背景技術

在芯片的測試過程中，常常需要對各種芯片進行不同的功能測試。現有的芯片測試方法均采用排隊測試法，即同一批芯片依次進入測試平臺(ATE)進行功能測試。

但是在實際應用過程中，每個芯片都要占用一些ATE資源，使得ATE測試平臺不能實現最優資源分配。在目前這種依次測試的裝置和方法中，當芯片測試時，特別是存儲型芯片，有些命令發出以后，芯片內部需要等待很長時間才能反饋測試結果，比如擦除芯片的動作需要2s甚至更長，在等待過程中，測試機不會對該芯片做除供電以外的任何動作，相當于該時間內測試機處于閑置狀態，所以造成時間的浪費。

因此現有技術中依次測試芯片的方法，存在以下兩個問題：第一，現有技術中當芯片處于測試項目的等待過程中時，芯片的每個引腳均連接在測試平臺上，這些引腳此時并沒有進行測試，卻要占用測試平臺的資源，造成資源浪費。第二，每個芯片的測試進程中均有些閑置時間沒有利用起來，造成時間浪費。

發明內容

本發明的目的是提供一種芯片共享資源串行測試裝置及方法，可以減小現有技術中測試平臺的資源浪費，還能節省芯片測試時間。

為了實現上述目的，本發明采用如下技術方案：一種芯片共享資源串行測試方法，包括如下步驟：

S01：將芯片A和芯片B通過雙擲繼電器同時連接至測試平臺；

S02：測試平臺錄入每個芯片中各個測試項目的占用時間；

S03：所述測試平臺控制雙擲繼電器連接至芯片A，所述測試平臺對芯片A進行測試，當芯片A的測試項目X的閑置時間大于芯片B的一個或多個測試項目的測試時間時，所述測試平臺對芯片A發送測試項目X的測試命令，并進入步驟S04；否則，所述測試平臺對芯片A各個測試項目依次進行測試，測試完成之后，所述測試平臺控制雙擲繼電器連接至芯片B，所述測試平臺對芯片B進行測試；

S04：所述測試平臺控制雙擲繼電器連接至芯片B，所述測試平臺對芯片B進行一個或多個測試項目的測試；

S05：所述測試平臺控制雙擲繼電器連接至芯片A，所述測試平臺接收芯片A的測試項目X的測試結果，返回步驟S03。

進一步地，所述芯片A和芯片B為同一批次的芯片，且測試項目相同。

進一步地，所述芯片A和芯片B均包含N個測試引腳，一個電源引腳和一個接地引腳，所述芯片A和芯片B中相同的測試引腳連接同一個雙擲繼電器；N為大于1的正整數。

進一步地，所述雙擲繼電器分別通過對應的測試通道連接至所述測試平臺。

進一步地，當所述測試平臺對芯片A進行測試時，所述N個雙擲繼電器均連接至芯片A；當所述測試平臺對芯片B進行測試時，所述N個雙擲繼電器均連接至芯片B。

進一步地，所述步驟S03中，當芯片A的測試項目X的閑置時間大于所述雙擲繼電器的切換時間與芯片B的一個或多個測試項目的測試時間之和時，所述測試平臺對芯片A發送測試項目X的測試命令，并進入步驟S04。