[發(fā)明專利]一種內(nèi)存應(yīng)用等級預(yù)測方法、系統(tǒng)、終端及存儲介質(zhì)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010110189.5
• 申請日: 2020-02-23
• 公開（公告）號: CN111367732B
• 公開（公告）日: 2022-10-18
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 高文艷
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 濟南舜源專利事務(wù)所有限公司 37205
• 代理人: 張營磊

本發(fā)明提供一種內(nèi)存應(yīng)用等級預(yù)測方法、系統(tǒng)、終端及存儲介質(zhì)，包括：將內(nèi)存測試組的時序參數(shù)依次設(shè)置為不同等級，所述內(nèi)存測試組包括多個內(nèi)存條；獲取內(nèi)存測試組在不同時序參數(shù)等級下的壓力測試故障率，將所述時序參數(shù)等級下的壓力測試故障率不同內(nèi)存測試組的故障率數(shù)組；統(tǒng)計內(nèi)存測試組的實際應(yīng)用故障率，并根據(jù)預(yù)設(shè)應(yīng)用等級和所述實際應(yīng)用故障率的關(guān)系確認(rèn)所述內(nèi)存測試組所屬應(yīng)用等級；利用多組內(nèi)存測試組的故障率數(shù)組和對應(yīng)應(yīng)用等級訓(xùn)練K均值模型；獲取批量生產(chǎn)的內(nèi)存組的故障率數(shù)組并通過將所述故障率數(shù)組輸入K均值模型獲取所述內(nèi)存組的應(yīng)用等級。本發(fā)明能夠能夠?qū)崿F(xiàn)預(yù)測批量生產(chǎn)的內(nèi)存條的實際應(yīng)用等級，為內(nèi)存條的質(zhì)量預(yù)判提供技術(shù)支撐。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及內(nèi)存測試平臺技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種內(nèi)存應(yīng)用等級預(yù)測方法、系統(tǒng)、終端及存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)

內(nèi)存是與CPU進(jìn)行溝通的橋梁。計算機中所有程序的運行都是在內(nèi)存中進(jìn)行的，因此內(nèi)存的性能對計算機的影響非常大。內(nèi)存(Memory)也被稱為內(nèi)存儲器，其作用是用于暫時存放CPU中的運算數(shù)據(jù)，以及與硬盤等外部存儲器交換的數(shù)據(jù)。只要計算機在運行中，CPU就會把需要運算的數(shù)據(jù)調(diào)到內(nèi)存中進(jìn)行運算，當(dāng)運算完成后CPU再將結(jié)果傳送出來，內(nèi)存的運行也決定了計算機的穩(wěn)定運行。

在DDR4的設(shè)計中，內(nèi)存的時序參數(shù)遵循JEDEC規(guī)范來進(jìn)行設(shè)計，但每個廠家會留存設(shè)計余量，另外由于制造工藝等原因?qū)嶋H生產(chǎn)出的內(nèi)存也會存在差異。由于內(nèi)存的時序參數(shù)的設(shè)計余量不同，會對系統(tǒng)的穩(wěn)定運行起到關(guān)鍵作用。

如何依據(jù)內(nèi)存的時序參數(shù)來對內(nèi)存做準(zhǔn)確的等級劃分，預(yù)測實際應(yīng)用中的內(nèi)存等級情況，來滿足不同可靠性要求的場景，在當(dāng)前并無一種簡單有效的方法。

發(fā)明內(nèi)容

針對現(xiàn)有技術(shù)的上述不足，本發(fā)明提供一種內(nèi)存應(yīng)用等級預(yù)測方法、系統(tǒng)、終端及存儲介質(zhì)，以解決上述技術(shù)問題。

第一方面，本發(fā)明提供一種內(nèi)存應(yīng)用等級預(yù)測方法，包括：

將內(nèi)存測試組的時序參數(shù)依次設(shè)置為不同等級，所述內(nèi)存測試組包括多個內(nèi)存條；

獲取內(nèi)存測試組在不同時序參數(shù)等級下的壓力測試故障率，將所述時序參數(shù)等級下的壓力測試故障率不同內(nèi)存測試組的故障率數(shù)組；

統(tǒng)計內(nèi)存測試組的實際應(yīng)用故障率，并根據(jù)預(yù)設(shè)應(yīng)用等級和所述實際應(yīng)用故障率的關(guān)系確認(rèn)所述內(nèi)存測試組所屬應(yīng)用等級；

利用多組內(nèi)存測試組的故障率數(shù)組和對應(yīng)應(yīng)用等級訓(xùn)練K均值模型；

獲取批量生產(chǎn)的內(nèi)存組的故障率數(shù)組并通過將所述故障率數(shù)組輸入K均值模型獲取所述內(nèi)存組的應(yīng)用等級。

進(jìn)一步的，所述將內(nèi)存測試組的時序參數(shù)依次設(shè)置為不同等級，包括：

將內(nèi)存時序參數(shù)值劃分為三個等級；

通過BIOS修改內(nèi)存時序參數(shù)余量將內(nèi)存時序參數(shù)值設(shè)置為目標(biāo)等級。

進(jìn)一步的，所述獲取內(nèi)存測試組在不同時序參數(shù)等級下的壓力測試故障率，包括：

利用壓力測試腳本對內(nèi)存測試組執(zhí)行壓力測試；

收集壓力測試日志并篩選出測試失敗的內(nèi)存條數(shù)量；

根據(jù)測試失敗內(nèi)存條數(shù)量和內(nèi)存測試組的內(nèi)存條總數(shù)量計算故障率并對所述故障率標(biāo)記當(dāng)前內(nèi)存測試組的時序參數(shù)等級。

進(jìn)一步的，所述統(tǒng)計內(nèi)存測試組的實際應(yīng)用故障率，并根據(jù)預(yù)設(shè)的應(yīng)用等級劃分條件和所述實際應(yīng)用故障率確認(rèn)所述內(nèi)存測試組所屬應(yīng)用等級，包括：

設(shè)置應(yīng)用故障率閾值并設(shè)置達(dá)到所述應(yīng)用故障率閾值的應(yīng)用時間與應(yīng)用等級的對應(yīng)關(guān)系；

將內(nèi)存測試組的內(nèi)存條安裝至服務(wù)器進(jìn)行應(yīng)用測試；