[發(fā)明專利]具有浮柵晶體管的物理不可克隆功能的器件及其制造方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010108955.4 | 申請(qǐng)日： | 2020-02-21 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN111613255A | 公開（公告）日： | 2020-09-01 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | F·拉羅薩 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 意法半導(dǎo)體(魯塞)公司 |
| 主分類號(hào)： | G11C7/24 | 分類號(hào)： | G11C7/24;G06F21/73 |
| 代理公司： | 北京市金杜律師事務(wù)所 11256 | 代理人： | 王茂華;崔卿虎 |
| 地址： | 法國*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 具有 晶體管 物理 不可 克隆 功能 器件 及其 制造 方法 | ||
1.一種物理不可克隆功能器件，包括：
浮柵晶體管對(duì)集合，所述浮柵晶體管對(duì)集合中的浮柵晶體管具有屬于共同隨機(jī)分布的經(jīng)隨機(jī)分布的有效閾值電壓；
差分讀取電路，被配置為測(cè)量所述浮柵晶體管對(duì)集合中的浮柵晶體管對(duì)的浮柵晶體管的所述有效閾值電壓之間的閾值差，并且將其中所測(cè)量的閾值差小于裕度值的浮柵晶體管對(duì)標(biāo)識(shí)為不可靠的浮柵晶體管對(duì)；以及
寫入電路，被配置為將所述不可靠的浮柵晶體管對(duì)的浮柵晶體管的所述有效閾值電壓移位到所述共同隨機(jī)分布內(nèi)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的器件，其中所述共同隨機(jī)分布是從未被寫入的浮柵晶體管的閾值電壓的分布。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的器件，其中所述寫入電路被配置為通過生成用于熱載流子注入以在所述浮柵晶體管的柵極電介質(zhì)中捕獲電荷的狀況來將所述浮柵晶體管的所述有效閾值電壓移位。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的器件，其中所述寫入電路被配置為通過施加一系列寫入脈沖來生成用于熱載流子注入的所述狀況，所述寫入脈沖中的每個(gè)寫入脈沖被配置為將基本電荷量注入到所述浮柵晶體管的浮柵中。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的器件，其中所述差分讀取電路被配置為在所述一系列寫入脈沖中的至少一個(gè)寫入脈沖之后執(zhí)行裕度驗(yàn)證，其中執(zhí)行所述裕度驗(yàn)證包括將所測(cè)量的閾值差與所述裕度值進(jìn)行比較。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的器件，其中所述差分讀取電路進(jìn)一步被配置為讀取所述浮柵晶體管對(duì)集合中的浮柵晶體管對(duì)的邏輯狀態(tài)，其中當(dāng)所述浮柵晶體管對(duì)中的所述浮柵晶體管的所述有效閾值電壓之間的電壓差超過所述裕度值時(shí)，所述邏輯狀態(tài)由所述電壓差限定。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的器件，其中所述浮柵晶體管對(duì)集合的所述邏輯狀態(tài)形成隨機(jī)數(shù)據(jù)序列。
8.一種集成電路，包括：
根據(jù)權(quán)利要求7所述的物理不可克隆功能器件；以及
加密器件，被配置為使用密鑰來加密數(shù)據(jù)，其中所述密鑰包括所述隨機(jī)數(shù)據(jù)序列。
9.一種方法，包括：
提供浮柵晶體管對(duì)集合，其中所述浮柵晶體管對(duì)集合中的浮柵晶體管的有效閾值電壓根據(jù)共同隨機(jī)分布而被隨機(jī)分布；
測(cè)量所述浮柵晶體管對(duì)集合中的浮柵晶體管的有效閾值電壓之間的閾值差，并且將所述浮柵晶體管對(duì)集合中的所測(cè)量的閾值差小于裕度值的浮柵晶體管對(duì)標(biāo)識(shí)為不可靠的浮柵晶體管對(duì)；以及
將所述不可靠的浮柵晶體管對(duì)中的浮柵晶體管的所述有效閾值電壓移位到所述共同隨機(jī)分布內(nèi)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其中所述移位包括：將所述不可靠的浮柵晶體管對(duì)的所述閾值差增加到所述裕度值以上。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其中將所述浮柵晶體管的所述有效閾值電壓移位包括：施加一系列寫入脈沖，所述一系列寫入脈沖各自將基本電荷量注入到所述浮柵晶體管的浮柵中。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，進(jìn)一步包括：在所述一系列寫入脈沖中的至少一個(gè)寫入脈沖之后執(zhí)行裕度驗(yàn)證，其中執(zhí)行所述裕度驗(yàn)證包括將所測(cè)量的閾值差與所述裕度值進(jìn)行比較。
13.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，進(jìn)一步包括：讀取所述浮柵晶體管對(duì)集合中的浮柵晶體管對(duì)的邏輯狀態(tài)，其中當(dāng)所述閾值差超過裕度值時(shí)，所述邏輯狀態(tài)由所述閾值差限定。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，其中所述浮柵晶體管對(duì)集合的邏輯狀態(tài)形成隨機(jī)數(shù)據(jù)序列。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的方法，進(jìn)一步包括：使用密鑰來加密數(shù)據(jù)，其中所述密鑰包括所述隨機(jī)數(shù)據(jù)序列。
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