[發明專利]一種電子設備的恢復方法、裝置及系統有效
| 申請號: | 202010105053.5 | 申請日: | 2020-02-20 |
| 公開(公告)號: | CN111367717B | 公開(公告)日: | 2022-08-16 |
| 發明(設計)人: | 黎興建;胡勝發 | 申請(專利權)人: | 廣州安凱微電子股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/14 | 分類號: | G06F11/14 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 510555 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 電子設備 恢復 方法 裝置 系統 | ||
本發明公開了一種電子設備的恢復方法、裝置及系統,該方法先獲取存儲介質內第一數據塊的狀態信息;根據所述第一數據塊的狀態信息,判斷所述第一數據塊是否有損壞;若所述第一數據塊無損壞時,則判斷是否能獲取所述第一數據塊內第一數據頁的數據信息;若不能獲取所述第一數據塊內第一數據頁的數據信息時,則在所述第一數據頁上標記錯誤標識后進行重啟;當讀取到所述錯誤標識后,從備份庫中提取與所述第一數據頁對應的備份信息到所述第一數據頁中;本發明技術方案能夠在無需更換存儲介質的前提下實現存儲數據的自動恢復,從而提高系統的穩定性和降低成本,進而提高用戶體驗。
技術領域
本發明涉及系統恢復技術領域,尤其涉及一種電子設備的恢復方法、裝置及系統。
背景技術
目前,消費電子產品的存儲介質在使用過程中會出現數據塊損壞的問題,當系統在啟動的時,若讀取損壞的數據塊里的存儲信息時,因讀取錯誤數據將引起系統混亂,從而導致系統崩潰,進而影響用戶體驗。
現有技術中,電子設備的恢復方法主要通過更換新的存儲介質,并重新燒錄程序到新的存儲介質中,以實現系統的正常工作。但是該電子設備的恢復方法在每次因讀取錯誤數據而導致系統崩潰時,均需要更換一塊存儲介質,成本高;除此之外,該方法還需要專業的技術人員進行更換處理,系統無法自行恢復,進而影響用戶體驗。
發明內容
本發明實施例提供了一種電子設備的恢復方法、裝置及系統,能夠在無需更換存儲介質的前提下實現存儲數據的自動恢復,從而提高系統的穩定性和降低成本,進而提高用戶體驗。
為了解決上述技術問題,本發明實施例提供了一種電子設備的恢復方法,包括:
獲取存儲介質內每一數據塊對應的存儲信息,并將所述存儲信息備份到備份庫中;
獲取存儲介質內第一數據塊的狀態信息,其中,所述存儲介質為SPI NAND;
根據所述第一數據塊的狀態信息,判斷所述第一數據塊是否有損壞;
若所述第一數據塊無損壞時,則判斷是否能獲取所述第一數據塊內第一數據頁的數據信息;
若不能獲取所述第一數據塊內第一數據頁的數據信息時,則在所述第一數據頁上標記錯誤標識后進行重啟;
當讀取到所述錯誤標識后,從所述備份庫中提取與所述第一數據頁對應的備份信息到所述第一數據頁中。
作為優選方案,所述根據所述第一數據塊的狀態信息判斷所述第一數據塊是否有損壞,具體為:
所述第一數據塊包括K個數據頁,其中K為大于1的整數;
根據頁碼,獲取排在最前的數據頁的數據信息,并判斷所述數據信息中第i個字符的標志位是否為預設值,其中i為大于1的整數;
若所述標志位為預設值時,則所述第一數據塊無損壞;
若所述標志位不為預設值時,則所述第一數據塊有損壞。
作為優選方案,在判斷所述第一數據塊是否有損壞之后,還包括:
若所述第一數據塊有損壞時,則獲取存儲介質內第二數據塊的狀態信息。
作為優選方案,所述判斷是否能獲取所述第一數據塊內第一數據頁的數據信息,具體為:
所述第一數據塊包括K個數據頁,其中K為大于1的整數;
將第一數據頁的數據信息與備份庫中與所述第一數據頁對應的備份信息進行比對;
若所述第一數據頁的數據信息與備份庫中與所述第一數據頁對應的備份信息的不同點小于或等于預設閾值時,則表示能獲取所述第一數據頁的數據信息;
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