[發明專利]一種微球腔的制備方法有效
| 申請號: | 202010104921.8 | 申請日: | 2020-02-20 |
| 公開(公告)號: | CN111313218B | 公開(公告)日: | 2022-05-17 |
| 發明(設計)人: | 姜校順;李勝軍;李昊;劉洋;肖敏 | 申請(專利權)人: | 南京大學 |
| 主分類號: | H01S3/08 | 分類號: | H01S3/08 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 鞏克棟 |
| 地址: | 210093 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 微球腔 制備 方法 | ||
1.一種微球腔的制備方法,其特征在于,所述制備方法包括如下步驟:
(1)選取基片,所述基片包括相復合的支撐層和器件層;
(2)在所述基片的器件層上形成光刻膠層,經過光刻和顯影后,在所述器件層上形成光刻膠圓盤;
(3)以所述光刻膠圓盤作為掩模,刻蝕掉所述光刻膠圓盤區域之外的器件層材料,然后去除所述光刻膠圓盤,在所述支撐層上形成器件圓盤;
(4)刻蝕-回流:
刻蝕:刻蝕所述器件圓盤周圍的支撐層材料,形成支撐所述器件圓盤的支撐柱;回流:用激光照射所述器件圓盤,使所述器件圓盤的邊緣熔融并向內收縮至所述支撐柱頂端邊緣,形成器件環芯;
(5)對所述支撐柱和器件環芯重復進行所述刻蝕-回流的步驟,使所述支撐柱和器件環芯的直徑逐步縮小,直至形成微球腔;
所述刻蝕-回流的步驟中,每次刻蝕后,所述支撐柱頂端的直徑小于所述器件圓盤或器件環芯的直徑;
所述刻蝕-回流的步驟中,每次刻蝕后,所述支撐柱頂端半徑的減小值不超過所述器件層厚度的20倍;
所述器件層的厚度為1-12μm;
步驟(3)中所述器件圓盤的直徑為所述器件層厚度的120-150倍;
在每次回流之前,采用激光對所述器件圓盤或器件環芯進行預熱;
所述預熱采用的激光的波長為10.6μm,功率為使所述器件圓盤或器件環芯熔融的最低功率的40-100%,不包括100%。
2.根據權利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述支撐層的材料為硅。
3.根據權利要求1或2所述的制備方法,其特征在于,所述器件層的材料為二氧化硅。
4.根據權利要求1所述的制備方法,其特征在于,步驟(3)中所述刻蝕的方法為用氫氟酸溶液進行刻蝕。
5.根據權利要求1所述的制備方法,其特征在于,步驟(3)中去除所述光刻膠圓盤的方法為:用去膠劑進行溶解。
6.根據權利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述刻蝕-回流的步驟中,刻蝕的方法為用二氟化氙氣體進行刻蝕。
7.根據權利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述回流的步驟中,采用的激光的波長為10.6μm,功率為15-30W。
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