[發明專利]一種基于Sagnac實體干涉儀的光譜儀裝調方法

有效

• 申請號: 202010104905.9
• 申請日: 2020-02-20
• 公開（公告）號: CN111240032B
• 公開（公告）日: 2020-12-25
• 發明（設計）人: 胡炳樑;劉歡;李思遠;白清蘭;李立波;鄒純博;武俊強;趙強
• 申請（專利權）人: 中國科學院西安光學精密機械研究所
• 主分類號: G02B27/62
• 分類號: G02B27/62
• 代理公司: 西安智邦專利商標代理有限公司 61211
• 代理人: 王凱敏

1.一種基于Sagnac實體干涉儀的光譜儀裝調方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟1：將傅氏鏡與探測器穿心，并確定傅氏鏡與探測器的軸向距離；

步驟2：將大地水平作為外部基準，調整Sagnac實體干涉儀底座，使Sagnac實體干涉儀的反射面與大地垂直；

步驟3：將準直鏡、Sagnac實體干涉儀、傅氏鏡進行穿心；

步驟4：在準直鏡焦面位置處懸掛鉛垂線，引入外部基準；

步驟5：照亮Sagnac實體干涉儀的有效通光口徑，使Sagnac實體干涉儀產生的零級干涉條紋與鉛垂線同時成像在探測器上；

步驟6：調整Sagnac實體干涉儀底面相對于大地水平的傾斜，使零級干涉條紋與鉛垂線在探測器上所成像之間的夾角達到設計允許范圍；

步驟7：安裝前置鏡，并確定前置鏡一次像面的軸向位置；

步驟8：再次測試全系統狀態下零級干涉條紋與鉛垂線在探測器上所成像之間的夾角，若未在設計允許范圍內，則微調探測器位置，直至零級干涉條紋與鉛垂線在探測器上所成像之間的夾角達到設計允許范圍，至此，光譜儀裝調完成。

2.根據權利要求1所述的基于Sagnac實體干涉儀的光譜儀裝調方法，其特征在于：所述步驟3是利用經緯儀將準直鏡、傅氏鏡以及Sagnac實體干涉儀光軸對準，將三者進行穿心。

3.根據權利要求2所述的基于Sagnac實體干涉儀的光譜儀裝調方法，其特征在于：所述步驟5是利用可覆蓋準直鏡視場的積分球作為照亮光源，照亮Sagnac實體干涉儀的有效通光口徑。

4.根據權利要求3所述的基于Sagnac實體干涉儀的光譜儀裝調方法，其特征在于：所述步驟6調整Sagnac實體干涉儀相對于大地水平的傾斜是通過修切干涉儀修切墊的傾斜角度實現的，修切過程中應始終保證干涉儀修切墊與Sagnac實體干涉儀底面為面接觸。