[發(fā)明專利]存儲(chǔ)器裝置和調(diào)整用于存儲(chǔ)器裝置的參數(shù)的方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010104774.4
• 申請(qǐng)日: 2020-02-20
• 公開（公告）號(hào): CN113284533B
• 公開（公告）日: 2023-10-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 連存德;林紀(jì)舜
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 華邦電子股份有限公司
• 主分類號(hào): G11C13/00
• 分類號(hào): G11C13/00;G11C29/02
• 代理公司: 北京同立鈞成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205
• 代理人: 羅英;劉芳

1.一種存儲(chǔ)器裝置，包括：

連接接口；

存儲(chǔ)器陣列，包括錯(cuò)誤計(jì)數(shù)器和多個(gè)存儲(chǔ)單元，所述存儲(chǔ)器陣列與參數(shù)相關(guān)聯(lián)；以及

存儲(chǔ)器控制電路，耦合到所述錯(cuò)誤計(jì)數(shù)器、所述連接接口以及所述存儲(chǔ)器陣列，且所述存儲(chǔ)器控制電路配置成至少：

通過所述連接接口接收操作以對(duì)所述存儲(chǔ)器陣列進(jìn)行所述操作，所述操作中的每一個(gè)是讀取操作或?qū)懭氩僮鳎?/p>

基于對(duì)所述存儲(chǔ)器陣列進(jìn)行所述操作來檢測(cè)讀取錯(cuò)誤，所述讀取錯(cuò)誤是二進(jìn)制0讀取錯(cuò)誤或二進(jìn)制1讀取錯(cuò)誤；

通過響應(yīng)于所述讀取錯(cuò)誤是所述二進(jìn)制1讀取錯(cuò)誤而遞增所述錯(cuò)誤計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)器值且響應(yīng)于所述讀取錯(cuò)誤是所述二進(jìn)制0讀取錯(cuò)誤而遞減所述計(jì)數(shù)器值來更新所述錯(cuò)誤計(jì)數(shù)器；以及

響應(yīng)于所述計(jì)數(shù)器值已達(dá)到正預(yù)定閾值或負(fù)預(yù)定閾值而調(diào)整所述參數(shù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器裝置，其中所述計(jì)數(shù)器值記錄來自對(duì)所述存儲(chǔ)器陣列進(jìn)行所述操作的二進(jìn)制1讀取錯(cuò)誤量與二進(jìn)制0讀取錯(cuò)誤量之間的差。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的存儲(chǔ)器裝置，其中所述存儲(chǔ)器控制電路配置成對(duì)所述存儲(chǔ)器陣列進(jìn)行所述操作包括：

通過應(yīng)用裕度來對(duì)所述存儲(chǔ)器陣列進(jìn)行包含所述讀取操作的所述操作。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的存儲(chǔ)器裝置，其中所述存儲(chǔ)器控制電路配置成調(diào)整所述參數(shù)包括：

調(diào)整與所述多個(gè)存儲(chǔ)單元相關(guān)聯(lián)的感測(cè)參考，所述感測(cè)參考是感測(cè)放大器的參考電壓或參考電流。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的存儲(chǔ)器裝置，其中所述存儲(chǔ)器控制電路配置成響應(yīng)于所述計(jì)數(shù)器值已達(dá)到所述正預(yù)定閾值或所述負(fù)預(yù)定閾值而調(diào)整所述參數(shù)包括：

響應(yīng)于所述計(jì)數(shù)器值已達(dá)到預(yù)定閾值的絕對(duì)值而調(diào)整所述感測(cè)參考。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的存儲(chǔ)器裝置，其中所述存儲(chǔ)器控制電路配置成調(diào)整與所述多個(gè)存儲(chǔ)單元相關(guān)聯(lián)的所述感測(cè)參考包括：

將所述計(jì)數(shù)器值重置到零；

對(duì)所述多個(gè)存儲(chǔ)單元進(jìn)行讀取操作；

累積所述二進(jìn)制1讀取錯(cuò)誤量和所述二進(jìn)制0讀取錯(cuò)誤量；以及

基于所述二進(jìn)制1讀取錯(cuò)誤量和所述二進(jìn)制0讀取錯(cuò)誤量中較高的讀取錯(cuò)誤量來調(diào)整所述感測(cè)參考以便遞減所述二進(jìn)制1讀取錯(cuò)誤量或所述二進(jìn)制0讀取錯(cuò)誤量。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的存儲(chǔ)器裝置，其中所述存儲(chǔ)器控制電路進(jìn)一步配置成反復(fù)調(diào)整所述感測(cè)參考直到所述計(jì)數(shù)器值低于所述正預(yù)定閾值或高于所述負(fù)預(yù)定閾值為止。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的存儲(chǔ)器裝置，其中所述存儲(chǔ)器控制電路配置成更新所述錯(cuò)誤計(jì)數(shù)器包括：

通過在所述存儲(chǔ)器控制電路配置成調(diào)整所述參考電壓或所述參考電流之前應(yīng)用預(yù)定數(shù)據(jù)模式和與所述預(yù)定數(shù)據(jù)模式相反的二進(jìn)制來更新所述錯(cuò)誤計(jì)數(shù)器。

9.根據(jù)權(quán)利要求4所述的存儲(chǔ)器裝置，其中所述存儲(chǔ)器控制電路進(jìn)一步配置成在所述感測(cè)參考根據(jù)不同溫度來變化時(shí)在不同溫度下調(diào)整所述感測(cè)參考。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器裝置，其中所述參數(shù)是感測(cè)參考、寫入電壓、編程電壓、設(shè)定電壓、重置電壓、形成電壓或時(shí)序。

11.一種調(diào)整用于存儲(chǔ)器裝置的參數(shù)的方法，所述方法包括：

通過連接接口接收操作以對(duì)存儲(chǔ)器陣列進(jìn)行所述操作，所述操作中的每一個(gè)是讀取操作或?qū)懭氩僮鳎?/p>

基于對(duì)所述存儲(chǔ)器陣列進(jìn)行所述操作來檢測(cè)讀取錯(cuò)誤，所述讀取錯(cuò)誤是二進(jìn)制0讀取錯(cuò)誤或二進(jìn)制1讀取錯(cuò)誤；

通過響應(yīng)于所述讀取錯(cuò)誤是所述二進(jìn)制1讀取錯(cuò)誤而遞增錯(cuò)誤計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)器值且響應(yīng)于所述讀取錯(cuò)誤是所述二進(jìn)制0讀取錯(cuò)誤而遞減所述計(jì)數(shù)器值來更新所述存儲(chǔ)器陣列的所述錯(cuò)誤計(jì)數(shù)器；以及

響應(yīng)于所述計(jì)數(shù)器值已達(dá)到正預(yù)定閾值或負(fù)預(yù)定閾值而調(diào)整所述參數(shù)。