[發(fā)明專利]微型分析物檢測裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010104100.4 | 申請日： | 2020-02-20 |
| 公開（公告）號： | CN112394097A | 公開（公告）日： | 2021-02-23 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 楊翠軍 | 申請（專利權(quán)）人： | 上海移宇科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N27/327 | 分類號： | G01N27/327 |
| 代理公司： | 上海光華專利事務(wù)所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 陳珊珊 |
| 地址： | 201203 上海市浦東新區(qū)*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 微型 分析 檢測 裝置 | ||
1.一種微型分析物檢測裝置，其特征在于，包括：
底殼，所述底殼底面設(shè)置有安裝孔，所述安裝孔邊緣設(shè)置有第一卡合部；
探頭結(jié)構(gòu)，所述探頭結(jié)構(gòu)包括探頭和探頭基座，所述探頭包括信號輸出端和檢測端，所述探頭基座邊緣設(shè)置有第二卡合部，所述探頭基座邊緣的輪廓形狀與所述安裝孔邊緣的輪廓形狀相匹配，所述第一卡合部與所述第二卡合部互相卡合，所述安裝孔邊緣與所述探頭基座邊緣相互嵌合，所述探頭基座安裝于所述安裝孔內(nèi)；和
發(fā)射器，所述發(fā)射器包括發(fā)射器殼體和設(shè)置于所述發(fā)射器殼體內(nèi)的電子器件，所述電子器件設(shè)置有電連接區(qū)，當(dāng)所述發(fā)射器被安裝至工作位置后，所述電連接區(qū)與所述信號輸出端電連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微型分析物檢測裝置，其特征在于，所述探頭整體上呈彎曲狀或彎折狀。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的微型分析物檢測裝置，其特征在于，所述信號輸出端為平面結(jié)構(gòu)，所述信號輸出端鋪設(shè)于所述探頭基座頂部。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的微型分析物檢測裝置，其特征在于，所述信號輸出端長度方向所確定的直線與所述檢測端長度方向所確定的直線相交或異面。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的微型分析物檢測裝置，其特征在于，所述信號輸出端長度方向所確定的直線與所述檢測端長度方向所確定的直線垂直。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的微型分析物檢測裝置，其特征在于，所述檢測端長度方向所確定的直線與所述檢測端穿刺位置的皮膚表面垂直。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微型分析物檢測裝置，其特征在于，所述電連接區(qū)裸露于所述發(fā)射器殼體外部，所述電連接區(qū)的位置與所述信號輸出端的位置相對應(yīng)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微型分析物檢測裝置，其特征在于，還包括導(dǎo)電膠條，所述導(dǎo)電膠條設(shè)置于所述電連接區(qū)與所述信號輸出端之間，所述電連接區(qū)與所述信號輸出端通過所述導(dǎo)電膠條實(shí)現(xiàn)電連接。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微型分析物檢測裝置，其特征在于，還包括密封環(huán)，所述密封環(huán)環(huán)繞設(shè)置于所述電連接區(qū)與所述信號輸出端電連接位置的周圍。
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