[發明專利]一種應用于二維正交結構的漏波天線的傳播常數的計算方法在審
| 申請號： | 202010103728.2 | 申請日： | 2020-02-20 |
| 公開（公告）號： | CN111403916A | 公開（公告）日： | 2020-07-10 |
| 發明（設計）人： | 曾祥家;李元新;龍云亮 | 申請（專利權）人： | 中山大學 |
| 主分類號： | H01Q13/20 | 分類號： | H01Q13/20;H01Q1/38;H01Q1/50;G01R29/10;G06F30/20 |
| 代理公司： | 北京中濟緯天專利代理有限公司 11429 | 代理人： | 黃啟文 |
| 地址： | 510275 廣東*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 應用于 二維 正交 結構 天線 傳播常數 計算方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種應用于二維正交結構的漏波天線的傳播常數的計算方法，其特征在于，包括以下步驟：
S1：使用原用于一維周期漏波天線的宏元胞法，對其計算參數重新優化，得到應用于二維正交貼片結構的改進宏元胞法；
S2：通過雙端口測量所述二維正交貼片漏波天線各個角度的散射參數；
S3：通過所述測得的散射參數，計算得到各個角度的傳播常數。
2.根據權利要求1所述的一種應用于二維正交結構的漏波天線的傳播常數的計算方法，其特征在于，所述二維正交貼片結構包括正交金屬貼片輻射體(3)、金屬地板(4)和饋電接頭(6)。
3.根據權利要求1所述的一種應用于二維正交結構的漏波天線的傳播常數的計算方法，其特征在于，所述通過雙端口測量所述二維正交貼片漏波天線各個角度的散射參數包括通過位于天線中心和天線邊緣的雙端口獲得天線的散射參數，包括S11、S12、S21、S22的實部值以及虛部值。
4.根據權利要求1所述的一種應用于二維正交結構的漏波天線的傳播常數的計算方法，其特征在于，所述計算參數重新優化包括對計算參數中的周期單元間距和周期單元個數進行重新等效計算。
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