[發明專利]微波探測裝置

在審

• 申請號: 202010102072.2
• 申請日: 2020-02-19
• 公開（公告）號: CN113281574A
• 公開（公告）日: 2021-08-20
• 發明（設計）人: 曾中明;熊家紀;朱可強;張寶順
• 申請（專利權）人: 中國科學院蘇州納米技術與納米仿生研究所
• 主分類號: G01R29/08
• 分類號: G01R29/08;H01Q1/50;H01Q1/24
• 代理公司: 深圳市銘粵知識產權代理有限公司 44304
• 代理人: 孫偉峰

1.一種微波探測裝置，其特征在于，包括：

信號接收模塊，用于接收微波信號并將微波信號轉化為交流信號；

磁電轉化模塊，包括磁性隧道結，所述磁性隧道結用于將所述交流信號轉換為直流信號。

2.根據權利要求1所述的微波探測裝置，其特征在于，所述信號接收模塊包括天線以及與所述天線連接的阻抗匹配電路。

3.根據權利要求2所述的微波探測裝置，其特征在于，所述磁電轉化模塊還包括：

磁場生成裝置，用于生成不同強度的磁場，以調整磁性隧道結的磁矩方向。

4.根據權利要求2所述的微波探測裝置，其特征在于，所述磁性隧道結包括依序層疊設置的固定磁性層、非磁性隔離層和磁性自由層。

5.根據權利要求4所述的微波探測裝置，其特征在于，所述磁性隧道結還包括；

第一電極層，設置于所述磁性自由層上且與所述磁性自由層電接觸；

第二電極層，設置于所述固定磁性層上且與所述固定磁性層電接觸。

6.根據權利要求5所述的微波探測裝置，其特征在于，所述磁性隧道結還包括絕緣層，所述絕緣層設置于所述第一電極層和所述磁性自由層之間，所述第一電極層的朝向所述磁性自由層的表面上形成有凸柱，所述絕緣層上具有通孔，所述凸柱穿設于所述通孔且與所述磁性自由層電接觸。

7.根據權利要求6所述的微波探測裝置，其特征在于，所述凸柱和所述通孔的數量均為多個。

8.根據權利要求1所述的微波探測裝置，其特征在于，所述微波探測裝置還包括：

升壓模塊，用于放大所述直流信號；

顯示模塊，用于顯示放大后的直流信號。

9.根據權利要求8所述的微波探測裝置，其特征在于，所述顯示模塊包括單片機和顯示屏，所述單片機用于采集放大后的直流信號，并將采集的直流信號通過所述顯示屏顯示。

10.根據權利要求3所述的微波探測裝置，其特征在于，所述微波探測裝置還包括：

電流調節模塊，用于調節所述磁場生成裝置的電流大小，以使得所述磁場生成裝置產生不同強度的磁場。