[發明專利]一種對混合光源進行分離的方法和裝置有效
| 申請號： | 202010099956.7 | 申請日： | 2020-02-18 |
| 公開（公告）號： | CN111221137B | 公開（公告）日： | 2021-09-24 |
| 發明（設計）人： | 高華;鄭志遠;董愛國;黃昊翀 | 申請（專利權）人： | 中國地質大學（北京） |
| 主分類號： | G02B27/10 | 分類號： | G02B27/10;G02B1/00 |
| 代理公司： | 北京知呱呱知識產權代理有限公司 11577 | 代理人： | 孫志一 |
| 地址： | 100083*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 混合 光源 進行 分離 方法 裝置 | ||
1.一種對混合光源進行分離的方法，其特征在于，將包括兩個不同波長的混合光源分別從分光設備的兩個完全相反的方向照射，以實現混合光源的分離；混合光源具有第一目標波長的光源和第二目標波長的光源；
分光設備包括光柵和光子晶體；
所述方法包括：
將混合光源對分光設備進行照射時；
混合光源沿著分光設備中從光柵到光子晶體的方向垂直照射；則從光子晶體側射出第一目標波長的光源；
將混合光源沿著從光子晶體到光柵的方向垂直照射；從光柵側射出第二目標波長的光源；
其中，所述光子晶體的結構滿足產生一個光子帶隙，所述第一目標波長和第二目標波長在所述帶隙的范圍內，所述光子晶體中間設置有一個缺陷層，所述缺陷層能夠產生一個缺陷模共振；
調節光子晶體的缺陷層的厚度以使得光子晶體在第二目標波長處達到缺陷模共振，在光子晶體缺陷模共振的頻率處，以及調節光柵的厚度使得從光柵側垂直入射時衍射0級的能量為0；
調節分光設備中的光柵的周期以滿足光子晶體層波導模式共振所需的波矢匹配條件。
2.一種對混合光源進行分離的裝置，其特征在于，包括光子晶體和光柵；
混合光源包括兩個波長不同的光源；混合光源具有第一目標波長的光源和第二目標波長的光源；
當光柵一側接收混合光源的垂直照射時，從光子晶體側射出第一目標波長的光源；
當光子晶體一側接收混合光源的垂直照射時，從光柵側射出第二目標波長的光源；
光子晶體包括缺陷層；調節光子晶體的缺陷層的厚度以使得光子晶體在第二目標波長處達到缺陷模共振；以及調節光柵的厚度使得從光柵側垂直入射時衍射0級的能量為0；當混合光源從光子晶體側垂直入射時，從光柵側射出第二目標波長的第二光源；
調節光柵的周期以使得光子晶體層達到導模共振的條件；從光柵側垂直入射混合光源；從光子晶體側射出第一目標波長的第一光源；
其中，所述光子晶體的結構滿足產生一個光子帶隙，所述第一目標波長和第二目標波長在所述帶隙的范圍內，所述光子晶體中間設置有一個缺陷層，所述缺陷層能夠產生一個缺陷模共振；
調節光子晶體的缺陷層的厚度以使得光子晶體在第二目標波長處達到缺陷模共振，在光子晶體缺陷模共振的頻率處，以及調節光柵的厚度使得從光柵側垂直入射時衍射0級的能量為0；
調節分光設備中的光柵的周期以滿足光子晶體層波導模式共振所需的波矢匹配條件。
3.如權利要求2所述的對混合光源進行分離的裝置，其特征在于，所述第二目標波長為1.536μm。
4.如權利要求2所述的對混合光源進行分離的裝置，其特征在于，所述第一目標波長為1.522μm。
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