[發(fā)明專利]電子部件裝載狀態(tài)檢測裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010099140.4 | 申請日: | 2016-12-21 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111474598B | 公開(公告)日: | 2023-06-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 盧種基;李斗吉 | 申請(專利權(quán))人: | 泰克元有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01V8/10 | 分類號(hào): | G01V8/10;G01D21/02 |
| 代理公司: | 上海翼勝專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 31218 | 代理人: | 翟羽 |
| 地址: | 韓國京畿*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電子 部件 裝載 狀態(tài) 檢測 裝置 | ||
1.一種電子部件裝載狀態(tài)檢測裝置,其特征在于,
包括:
至少一個(gè)光照射器,對以垂直立式狀態(tài)裝載于裝載托盤的多個(gè)電子部件照射具有規(guī)定形態(tài)的檢測圖案的光;
至少一個(gè)攝像頭,為了通過上述光照射器照射的光與多個(gè)電子部件相接而反射的多個(gè)電子部件上端的多個(gè)反射點(diǎn)的反射光圖案確認(rèn)是否具有上述多個(gè)反射點(diǎn)的排列高度差,對通過上述光照射器來照射光的多個(gè)電子部件進(jìn)行拍攝;
分析器,對在通過上述至少一個(gè)攝像頭獲得的圖像上的上述多個(gè)反射點(diǎn)的光的圖案進(jìn)行分析來檢測電子部件的裝載狀態(tài),
從正面觀察時(shí),連接反射點(diǎn)和上述攝像頭的第一直線和連接上述反射點(diǎn)和上述光照射器的第二直線形成的角度大于0度小于180度,上述反射點(diǎn)為通過上述至少一個(gè)光照射器向多個(gè)電子部件照射的光與多個(gè)電子部件相接的位置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子部件裝載狀態(tài)檢測裝置,其特征在于,上述分析器根據(jù)通過上述攝像頭所拍攝的圖像中在多個(gè)電子部件產(chǎn)生的多個(gè)反射點(diǎn)是否具有正常圖案來分析電子部件的裝載狀態(tài)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子部件裝載狀態(tài)檢測裝置,其特征在于,通過上述光照射器所照射的光是在平面上以線性來表現(xiàn)的線性光。
4.一種電子部件裝載狀態(tài)檢測裝置,其特征在于,
包括:
至少一個(gè)光照射器,對以垂直立式狀態(tài)裝載于裝載托盤的多個(gè)電子部件照射在平面上以線性來表現(xiàn)的直線形態(tài)的線性光;
至少一個(gè)攝像頭,為了通過上述光照射器照射的線性光與多個(gè)電子部件相接而反射的多個(gè)電子部件上端的多個(gè)反射點(diǎn)的反射光圖案確認(rèn)是否具有上述多個(gè)反射點(diǎn)的排列高度差,對通過上述光照射器來照射光的多個(gè)電子部件進(jìn)行拍攝;
分析器,對在通過上述至少一個(gè)攝像頭獲得的圖像上的上述多個(gè)反射點(diǎn)的光的圖案進(jìn)行分析來檢測電子部件的裝載狀態(tài),
從正面觀察時(shí),連接反射點(diǎn)和上述攝像頭的第一直線和連接上述反射點(diǎn)和上述光照射器的第二直線形成的角度大于0度小于180度,上述反射點(diǎn)為通過上述至少一個(gè)光照射器向多個(gè)電子部件照射的線性光與多個(gè)電子部件相接的位置,
上述分析器根據(jù)通過上述攝像頭所拍攝的圖像中在多個(gè)電子部件產(chǎn)生的多個(gè)反射點(diǎn)是否具有正常圖案來分析電子部件的裝載狀態(tài)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或4所述的電子部件裝載狀態(tài)檢測裝置,其特征在于,上述至少一個(gè)光照射器配置在上述反射點(diǎn)的一側(cè)上方,上述至少一個(gè)攝像頭配置在上述反射點(diǎn)的另一側(cè)上方。
6.根據(jù)權(quán)利要求1或4所述的電子部件裝載狀態(tài)檢測裝置,其特征在于,通過上述光照射器所照射的光是激光。
7.根據(jù)權(quán)利要求1或4所述的電子部件裝載狀態(tài)檢測裝置,其特征在于,還包括調(diào)節(jié)器,上述調(diào)節(jié)器執(zhí)行調(diào)節(jié)上述光照射器的高度或者調(diào)節(jié)上述光照射器的照射角中的至少一個(gè)功能。
8.根據(jù)權(quán)利要求1或4所述的電子部件裝載狀態(tài)檢測裝置,其特征在于,在俯視圖上觀察,上述攝像頭以脫離多個(gè)電子部件的裝載區(qū)域的方式設(shè)置。
9.根據(jù)權(quán)利要求1或4所述的電子部件裝載狀態(tài)檢測裝置,其特征在于,在俯視圖上觀察,上述光照射器以脫離多個(gè)電子部件的裝載區(qū)域的方式設(shè)置。
10.一種電子部件裝載狀態(tài)檢測裝置,其特征在于,
包括:
至少一個(gè)光照射器,對以垂直立式狀態(tài)裝載于裝載托盤的多個(gè)電子部件照射具有一定形態(tài)的檢測圖案的光;
至少一個(gè)攝像頭,為了通過上述光照射器照射的光與多個(gè)電子部件相接而反射的多個(gè)電子部件上端的多個(gè)反射點(diǎn)的反射光圖案確認(rèn)是否具有上述多個(gè)反射點(diǎn)的排列高度差,對通過上述光照射器來照射光的多個(gè)電子部件進(jìn)行拍攝;
分析器,對在通過上述至少一個(gè)攝像頭獲得的圖像上的上述多個(gè)反射點(diǎn)的光的圖案進(jìn)行分析來檢測電子部件的裝載狀態(tài),
通過上述多個(gè)光照射器所照射的多個(gè)光在電子部件的寬度內(nèi)具有相互隔開的間距,使通過上述多個(gè)光照射器所照射的多個(gè)光在一個(gè)電子部件產(chǎn)生多個(gè)反射點(diǎn)。
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