[發明專利]存取方法有效
| 申請號: | 202010098002.4 | 申請日: | 2020-02-18 |
| 公開(公告)號: | CN111597126B | 公開(公告)日: | 2023-09-12 |
| 發明(設計)人: | 張益壽 | 申請(專利權)人: | 慧榮科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F12/06 | 分類號: | G06F12/06;G06F11/10 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務所有限公司 31100 | 代理人: | 陳亮 |
| 地址: | 中國臺灣新竹縣*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 存取 方法 | ||
1.一種存取方法,其特征在于,適用于一存儲裝置,所述存儲裝置耦接于一主機裝置,所述主機裝置用以提供一數據,所述存儲裝置包括一固態數據存儲裝置(SSD)控制器及一易失性存儲器,所述易失性存儲器耦接于SSD控制器,且所述易失性存儲器包括一數據存儲區與一校驗碼存儲區,所述存取方法包括:
所述SSD控制器接收所述數據;
所述SSD控制器根據所述數據,以產生對應的一循環冗余校驗碼;
所述SSD控制器根據所述數據以及所述循環冗余校驗碼,以產生對應的一錯誤更正碼;所述SSD控制器將所述數據存儲至所述數據存儲區,其中,當所述SSD控制器將所述數據存儲于所述數據存儲區時執行一次預充電指令(PREA),并于下一次時不執行所述預充電指令;以及
所述SSD控制器將所述循環冗余校驗碼存儲至所述校驗碼存儲區;
所述SSD控制器將所述錯誤更正碼存儲至所述校驗碼存儲區。
2.如權利要求1所述之存取方法,其特征在于,所述存儲裝置更包括一循環冗余校驗碼產生器,所述循環冗余校驗碼產生器耦接于所述SSD控制器,在所述SSD控制器根據所述數據,以產生對應的所述循環冗余校驗碼的步驟中,更包括:
所述SSD控制器將所述數據,傳送至所述循環冗余校驗碼產生器,以產生對應所述數據的所述循環冗余校驗碼。
3.一種存取方法,其特征在于,適用于一存儲裝置,所述存儲裝置耦接于一主機裝置,所述主機裝置用以提供一數據,所述存儲裝置包括一固態數據存儲裝置(SSD)控制器及一易失性存儲器,所述易失性存儲器耦接于SSD控制器,且所述易失性存儲器包括一數據存儲區,所述存取方法包括:
所述SSD控制器接收所述數據;
所述SSD控制器根據所述數據,以產生對應的一循環冗余校驗碼;
所述SSD控制器根據所述數據以及所述循環冗余校驗碼,以產生對應的一錯誤更正碼;
所述SSD控制器將所述數據與所述循環冗余校驗碼依序存儲至所述數據存儲區,其中,當所述SSD控制器將所述數據存儲于所述數據存儲區時執行一次預充電指令(PREA),并于下一次時不執行所述預充電指令;以及
所述SSD控制器將所述錯誤更正碼存儲至所述數據存儲區。
4.如權利要求3所述之存取方法,其特征在于,所述存儲裝置更包括一循環冗余校驗碼產生器,所述循環冗余校驗碼產生器耦接于所述SSD控制器,在所述SSD控制器根據所述數據,以產生對應的所述循環冗余校驗碼的步驟中,更包括:
所述SSD控制器將所述數據,傳送至所述循環冗余校驗碼產生器,以產生對應所述數據的所述循環冗余校驗碼。
5.一種存取方法,其特征在于,適用于一存儲裝置,所述存儲裝置耦接于一主機裝置,所述主機裝置用以提供一數據,所述存儲裝置包括一固態數據存儲裝置(SSD)控制器及一易失性存儲器,所述易失性存儲器耦接于SSD控制器,且所述易失性存儲器包括一數據存儲區,所述存取方法包括:
所述SSD控制器接收所述數據,且依預設大小將所述數據分割為多個子數據;
所述SSD控制器根據所述數據,以產生對應的一循環冗余校驗碼;
所述SSD控制器根據每一所述多個子數據,以產生對應的一子錯誤更正碼;
所述SSD控制器輪流將每一所述多個子數據及其對應的所述子錯誤更正碼存儲至所述數據存儲區;以及
所述SSD控制器將所述數據所對應的所述循環冗余校驗碼存儲至所述數據存儲區。
6.如權利要求5所述之存取方法,其特征在于,所述存儲裝置更包括一錯誤更正碼產生器,所述錯誤更正碼產生器耦接于所述SSD控制器,在所述SSD控制器根據每一所述多個子數據,以產生對應的所述子錯誤更正碼的步驟中,更包括:
所述SSD控制器將每一所述多個子數據,傳送至所述錯誤更正碼產生器,以產生對應每一所述多個子數據的所述子錯誤更正碼。
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