[發(fā)明專利]用于產(chǎn)生低電壓域的獨(dú)立于過程、電壓、溫度(PVT)的電流的系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010097225.9 | 申請(qǐng)日: | 2020-02-17 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111831044B | 公開(公告)日: | 2022-08-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 褚煒路 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 美光科技公司 |
| 主分類號(hào): | G05F1/567 | 分類號(hào): | G05F1/567 |
| 代理公司: | 北京律盟知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11287 | 代理人: | 王龍 |
| 地址: | 美國(guó)愛*** | 國(guó)省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 產(chǎn)生 電壓 立于 過程 溫度 pvt 電流 系統(tǒng) | ||
1.一種設(shè)備,其包括:
帶隙電路,其被配置成輸出帶隙電壓和與絕對(duì)溫度成比例PTAT的第一電流;
修整電路,其被配置成至少部分地基于所述帶隙電壓輸出參考電壓,其中所述參考電壓不同于所述帶隙電壓;和
參考電流產(chǎn)生電路,其包括:
與絕對(duì)溫度互補(bǔ)CTAT的電流產(chǎn)生部分,其被配置成基于所述參考電壓產(chǎn)生CTAT電流;
PTAT電流調(diào)諧部分,其被配置成:
從所述帶隙電路接收所述第一PTAT電流;和
調(diào)諧所述第一PTAT電流以產(chǎn)生第二PTAT電流,其中所述第二PTAT電流與所述CTAT電流互補(bǔ);和
獨(dú)立于變化的參考電流產(chǎn)生部分,其被配置成至少部分地基于所述CTAT電流和所述第二PTAT電流產(chǎn)生參考電流,其中所述參考電流產(chǎn)生電路經(jīng)配置以由與驅(qū)動(dòng)所述帶隙電路的電源電壓VPP不同的電壓驅(qū)動(dòng)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其中所述修整電路包括電阻器堆疊,其被配置成將所述帶隙電壓調(diào)整為所述參考電壓的電壓電平。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其中所述參考電壓是0.8伏特,且其中所述參考電流獨(dú)立于過程、電壓和溫度PVT條件的變化。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其包括耦合到所述CTAT電流產(chǎn)生部分、所述PTAT電流調(diào)諧部分和所述獨(dú)立于變化的參考電流產(chǎn)生部分的電壓跟隨器放大器。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的設(shè)備,其中所述電壓跟隨器放大器被配置成:
從所述修整電路接收所述參考電壓;和
將所述參考電壓輸出到所述CTAT電流產(chǎn)生部分。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其中所述CTAT電流產(chǎn)生部分包括CTAT電阻器,且其中所述CTAT電阻器被配置成至少部分地基于跨所述CTAT電阻器的等效于所述參考電壓的電壓降,產(chǎn)生所述CTAT電流。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其中所述PTAT電流調(diào)諧部分包括被配置成產(chǎn)生所述第二PTAT電流的多個(gè)金屬-氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管MOSFET分支。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的設(shè)備,其中所述多個(gè)MOSFET分支的第一部分被配置成從所述帶隙電路接收所述第一PTAT電流,且其中所述多個(gè)MOSFET分支的所述第一部分被配置成通過形成使所述第一PTAT電流的量值除以所述多個(gè)MOSFET分支的所述第一部分的MOSFET分支的數(shù)目的電流除法器,調(diào)諧所述第一PTAT電流以產(chǎn)生所述第二PTAT電流。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的設(shè)備,其中所述多個(gè)MOSFET分支的第二部分以電流鏡配置耦合到所述多個(gè)MOSFET分支的所述第一部分。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的設(shè)備,其中所述多個(gè)MOSFET分支的第二部分被配置成:仿真所述多個(gè)MOSFET分支的所述第一部分所產(chǎn)生的所述第二PTAT電流;和將所述第二PTAT電流發(fā)射到所述獨(dú)立于變化的參考電流產(chǎn)生部分。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其中所述獨(dú)立于變化的參考電流產(chǎn)生部分耦合到所述CTAT電流產(chǎn)生部分的CTAT電阻器和所述PTAT電流調(diào)諧部分的金屬-氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管MOSFET分支。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其中所述獨(dú)立于變化的參考電流產(chǎn)生部分包括MOSFET分支,其被配置成通過將所述CTAT電流與所述第二PTAT電流求和以減小PVT變化對(duì)所述獨(dú)立于變化的參考電流產(chǎn)生部分所輸出的參考電流的效應(yīng),產(chǎn)生所述參考電流。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的設(shè)備,其中所述獨(dú)立于變化的參考電流產(chǎn)生包括以電流鏡配置耦合到所述MOSFET分支的另一MOSFET分支。
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