[發明專利]鏡面、類鏡面物體表面缺陷檢測方法

有效

• 申請號: 202010093393.0
• 申請日: 2020-02-14
• 公開（公告）號: CN111257338B
• 公開（公告）日: 2022-09-02
• 發明（設計）人: 郭寅;尹仕斌;孫博;郭磊;姜碩
• 申請（專利權）人: 易思維（杭州）科技有限公司
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種鏡面、類鏡面物體表面缺陷檢測方法，包括以下步驟：對左、右相機及投影裝置進行系統標定，標記出其中一部相機圖像中的缺陷區域；框選缺陷區域，選取預選點集并任選一點記為標記點，記標記點對應在被測物表面上的點為s₁；利用第一相機得到法向量n₁；利用第二相機得到法向量n₂；計算n₁、n₂的夾角；更新點s₁的坐標位置，再次計算夾角β；重復上述過程，將β值最小的一次對應的點s₁存儲為候選空間點；遍歷預選點集中各點，得出各點所對應的候選空間點；將各個候選空間點加和求取平均值，將計算結果記為缺陷區域中心所在的空間位置坐標，實現對缺陷區域的空間定位；本方法有效解決了因缺陷區域相位信息丟失而無法對缺陷區域進行空間定位的技術難點。

技術領域

本發明涉及缺陷檢測領域，具體涉及一種鏡面、類鏡面物體表面缺陷檢測方法。

背景技術

鏡面、類鏡面物體廣泛存在于現代制造業中，如汽車涂裝車身、玻璃面板、光學鏡片等，缺陷檢測是保證鏡面物體表面質量的必要環節。

目前物體表面缺陷檢測大多是采用：人工目視的方法，此方法主要依靠工人主觀判斷，存在漏檢率高的問題，且人工目視的方法檢測效率低，對人眼傷害較大，人工成本高；另一種檢測方法為：相位測量偏折術(Phase Measuring Deflectometry，PMD)，此方法向物體表面投射相位編碼的條紋圖像，通過解算反射圖像相位實現缺陷檢測區域識別；但是，由于缺陷區域存在相位信息丟失，因此相位測量偏折術檢測方法無法直接實現對缺陷區域的空間定位。

發明內容

針對上述問題，本發明提出一種鏡面、類鏡面物體表面缺陷檢測方法，本方法利用雙目系統及投影裝置(相位測量偏折術)，不僅可以獲得鏡面、類鏡面物體表面相位信息，基于相位信息識別出缺陷區域；還能夠利用標定信息解算出缺陷區域的三維信息，有效解決了：因缺陷區域相位信息丟失而無法對缺陷區域進行空間定位的技術難點。

一種鏡面、類鏡面物體表面缺陷檢測方法，包括以下步驟：

1)對左、右相機及投影裝置進行系統標定；投影裝置向被測物表面投射光柵條紋，左、右相機采集投射在被測物表面的光柵條紋圖像；

任選其中一部相機記為第一相機，另一相機記為第二相機，對第一相機采集到的圖像進行處理，標記出缺陷區域；

2)利用最小外接圖形框選所述缺陷區域，從所述最小外接圖形的邊緣中選取多個邊緣點記為預選點集；

3)從所述預選點集中任選一點記為標記點，將其轉換到世界坐標系下，得出三維坐標p₁(x_p1,y_p1,z_p1)；通過絕對相位相等，得出點p₁對應在投影裝置中的點為q₁，將其轉換到世界坐標系下，得出三維坐標q₁(x_q1,y_q1,z_q1)；

記所述標記點對應在被測物表面上的點為s₁(x_s1,y_s1,z_s1)，其中，z_s1＝a×D，a為比例系數，D為第一相機的工作距；