[發明專利]晶硅太陽能電池片光衰測試裝置

在審

• 申請號: 202010091794.2
• 申請日: 2020-02-14
• 公開（公告）號: CN111200398A
• 公開（公告）日: 2020-05-26
• 發明（設計）人: 宋彥藝
• 申請（專利權）人: 山東博遠智能裝備有限公司
• 主分類號: H02S50/15
• 分類號: H02S50/15
• 代理公司: 北京一格知識產權代理事務所(普通合伙) 11316
• 代理人: 宋迪

本發明提供晶硅太陽能電池片光衰測試裝置，主要涉及檢測設備領域。晶硅太陽能電池片光衰測試裝置，包括箱體，所述箱體底部安裝下爐體，所述箱體頂部安裝上爐體，所述上爐體與下爐體之間設置輸送裝置，所述下爐體包括排風系統與溫度監測裝置，所述上爐體包括強光源、隔熱裝置，所述輸送裝置兩側設置吹氣口，所述吹氣口吹入空氣由所述排風系統排出。本發明的有益效果在于：本發明能夠極大的縮短晶體硅太陽能電池片抗光衰能力的檢測時間，從而減少檢測出不合格產品時生產線生產的殘次品數量，使操作人員可以及時的調整生產參數，大大減少生產損失。

技術領域

本發明主要涉及檢測設備領域，具體是晶硅太陽能電池片光衰測試裝置。

背景技術

晶體硅太陽能電池片是目前太陽能電池市場的主流產品。由于硅晶體生長過程中引入了雜質，對電池的初期光照會導致其中的摻雜劑和氧、鐵等雜質形成復合中心，從而使硅片的少子壽命降低，引起電池轉換效率下降，產生光衰現象。隨著光伏技術的發展，晶硅太陽能電池的轉換效率越來越高，光致衰減對太陽電池的影響也越來越大，終端市場對多晶硅太陽能電池的光衰率有嚴格的要求，因此，在多晶硅太陽能電池的生產過程中，需要對成品晶體硅太陽能電池片的抗光衰能力進行實時測試，目前光衰測試箱測試時間需要幾十個小時才能出具測試結果，而抗光衰能力的測試是伴隨著生產同時進行的，一旦發現性能不達標的問題，生產線在幾十個小時內已經生產了大量的殘次品，無法及時的調整生產參數，從而造成巨大的損失。

發明內容

為解決現有技術的不足，本發明提供了晶硅太陽能電池片光衰測試裝置，它能夠極大的縮短晶體硅太陽能電池片抗光衰能力的檢測時間，從而減少檢測出不合格產品時生產線生產的殘次品數量，使操作人員可以及時的調整生產參數，大大減少生產損失。

本發明為實現上述目的，通過以下技術方案實現：

晶硅太陽能電池片光衰測試裝置，包括箱體，所述箱體底部安裝下爐體，所述箱體頂部安裝上爐體，所述上爐體與下爐體之間設置輸送裝置，所述下爐體包括排風系統與溫度監測裝置，所述上爐體包括強光源、隔熱裝置，所述隔熱裝置位于強光源與輸送裝置之間，所述輸送裝置兩側設置吹氣口，所述吹氣口吹入空氣由所述排風系統排出。

所述隔熱裝置為透光殼體，所述透光殼體底部為玻璃，所述隔熱裝置內為緩沖腔，所述緩沖腔一端接入風源，所述緩沖腔另一端設置排風口。

所述強光源為LED燈板。

所述強光源頂部設置水冷板，所述水冷板內通入循環冷卻水。

所述輸送裝置為線性設置的一排傳動輥，所述下爐體一側設置驅動電機，所述驅動電機用于通過傳動裝置驅動傳動輥轉動。

所述傳動輥為空心傳動輥，所述傳動輥側壁上開設若干氣孔，所述傳動輥一端接入氣管，所述氣管接入端與所述傳動輥進氣口轉動接觸。

所述排風系統包括排風腔、排風管和排風機，所述排風腔位于所述輸送裝置下方，所述排風管連通所述排風腔底部與外界，所述排風機安裝在排風腔中部。

所述排風腔底部為倒錐形。

所述上爐體外側設置爐蓋，所述箱體頂面與爐蓋之間設置舉升動力裝置。

對比現有技術，本發明的有益效果是：

本發明通過強光源替代鹵素燈來進行抗光衰能力的測試，將測試時間由10-30小時縮短到2小時內，極大的節省了測試時間。一旦產生測試產品不合格的情況，就可以迅速的對生產工藝參數進行調整，從而減少生產出殘次品的數量，相對于目前的檢測方式來說極大的節省了損失。針對強光源相對于鹵素燈發熱更嚴重的問題，為防止晶硅太陽能電池片熱衰減，為本裝置配置隔熱與冷卻裝置，保障晶硅太陽能電池片的衰減完全來自于光照，從而保障光衰測試的準確性。

附圖說明

附圖1是本發明主視結構示意圖；