[發(fā)明專利]X射線計算機斷層掃描裝置及X射線計算機斷層掃描攝像方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010090704.8 | 申請日： | 2020-02-13 |
| 公開（公告）號： | CN111948232B | 公開（公告）日： | 2023-08-25 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 欅泰行;鈴木淳史 | 申請（專利權(quán)）人： | 株式會社島津制作所 |
| 主分類號： | G01N23/046 | 分類號： | G01N23/046;G01T1/29;G01T7/00 |
| 代理公司： | 北京派特恩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11270 | 代理人： | 薛恒;王琳 |
| 地址： | 日本京都府京都*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 射線 計算機 斷層 掃描 裝置 攝像 方法 | ||
1.一種X射線計算機斷層掃描裝置，基于投影數(shù)據(jù)，對被攝體的斷層圖像進行重構(gòu)，所述投影數(shù)據(jù)是一邊使所述被攝體旋轉(zhuǎn)，一邊對所述被攝體照射X射線而獲取，所述X射線計算機斷層掃描裝置，其特征在于，包括：
X射線源，產(chǎn)生X射線；
X射線檢測器，用于檢測從所述X射線源照射并穿過所述被攝體的X射線；
旋轉(zhuǎn)平臺，以第一旋轉(zhuǎn)軸為中心旋轉(zhuǎn)，所述第一旋轉(zhuǎn)軸與從所述X射線源到所述X射線檢測器的X射線的光軸正交；以及
旋轉(zhuǎn)單元，配設(shè)于所述旋轉(zhuǎn)平臺上，對所述被攝體進行支撐，以與所述第一旋轉(zhuǎn)軸正交的第二旋轉(zhuǎn)軸為中心旋轉(zhuǎn)，所述旋轉(zhuǎn)單元包括立設(shè)于所述旋轉(zhuǎn)平臺上的支撐支柱，以及設(shè)置于所述支撐支柱的馬達與旋轉(zhuǎn)構(gòu)件，且所述旋轉(zhuǎn)構(gòu)件以所述第二旋轉(zhuǎn)軸為中心旋轉(zhuǎn)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線計算機斷層掃描裝置，其中
所述旋轉(zhuǎn)單元還包括：
支撐構(gòu)件，相對于所述旋轉(zhuǎn)構(gòu)件拆裝自如地構(gòu)成，對所述被攝體進行支撐。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的X射線計算機斷層掃描裝置，其中
所述被攝體具有立方體形狀，
所述支撐構(gòu)件通過夾持所述被攝體的彼此相對的一對面，而對所述被攝體進行固定。
4.一種X射線計算機斷層掃描攝像方法，使用根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項所述的X射線計算機斷層掃描裝置而進行X射線計算機斷層掃描攝像，其特征在于，
所述被攝體具有立方體形狀，
利用所述旋轉(zhuǎn)平臺使所述被攝體以所述第一旋轉(zhuǎn)軸為中心旋轉(zhuǎn)而進行X射線計算機斷層掃描攝像之后，利用所述旋轉(zhuǎn)單元使所述被攝體以所述第二旋轉(zhuǎn)軸為中心旋轉(zhuǎn)，通過反復多次進行如上所述的操作，來獲得所述被攝體的角部的斷層圖像。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的X射線計算機斷層掃描攝像方法，其中所述被攝體是具有立體形狀的電池。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于株式會社島津制作所，未經(jīng)株式會社島津制作所許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010090704.8/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
