[發明專利]顯示裝置和測試顯示裝置的方法

在審

• 申請號: 202010090135.7
• 申請日: 2020-02-13
• 公開（公告）號: CN111736397A
• 公開（公告）日: 2020-10-02
• 發明（設計）人: 辛官燁;裵峻晧;尹在亨;李茶英
• 申請（專利權）人: 三星顯示有限公司
• 主分類號: G02F1/1362
• 分類號: G02F1/1362;G02F1/13;H01L27/12
• 代理公司: 北京銘碩知識產權代理有限公司 11286
• 代理人: 張逍遙;劉燦強

提供了一種顯示裝置和測試該顯示裝置的方法。所述顯示裝置包括：顯示面板，包括位于顯示區域和外圍區域中的信號線，信號線在列方向上延伸并分隔開；以及測試線，在外圍區域中電連接到信號線，在列方向上延伸并布置為分隔開。外圍區域包括：第一外圍區域；以及第二外圍區域，位于顯示區域與第一外圍區域之間。測試線包括：第一測試線，包括設置在第一外圍區域上的1?1測試部分和設置在第二外圍區域上的1?2測試部分；以及第二測試線，包括設置在第二外圍區域上的2?1測試部分。第一測試線的1?1測試部分的寬度大于第一測試線的1?2測試部分的寬度。

本申請要求于2019年3月25日提交的第10-2019-0033704號韓國專利申請的優先權和權益，所述韓國專利申請出于所有目的而通過引用包含于此，如同在此充分闡述的一樣。

技術領域

發明的示例性實施例總體上涉及一種顯示裝置和一種測試顯示裝置的方法。

背景技術

通常，液晶顯示裝置可以包括陣列基底、柵極驅動電路和數據驅動電路，陣列基底設置有多條柵極線、多條數據線和多個像素，柵極驅動電路將柵極信號輸出到柵極線，數據驅動電路將數據信號輸出到數據線。

每個像素包括像素電極和薄膜晶體管，并且薄膜晶體管連接到柵極線、數據線和像素電極以驅動像素。

在前述液晶顯示裝置中，可以在制造工藝期間執行各種測試。例如，在液晶顯示裝置的制造工藝期間，可以以接觸方式或非接觸方式來執行數據線的導通測試以確定是否有任何數據線斷路或短路。

在該背景技術部分中公開的以上信息僅用于理解發明構思的背景，因此，它可以包含不構成現有技術的信息。

發明內容

根據發明的示例性實施例構造的裝置和方法能夠提供在前述測試工藝期間具有數據線的高測試可靠性的裝置。

發明構思的附加特征將在下面的描述中闡述，并且部分地將通過該描述而明顯，或者可以通過發明構思的實踐而獲知。

根據發明的一個或更多個示例性實施例，一種顯示裝置包括：顯示面板，包括顯示區域以及在列方向上設置在顯示區域的一側處的外圍區域；多條柵極線，位于顯示面板的顯示區域上，所述多條柵極線在與列方向交叉的行方向上延伸；多條數據線，與所述多條柵極線絕緣并與所述多條柵極線交叉，所述多條數據線位于顯示區域和外圍區域上，并且在列方向上延伸，并沿著行方向彼此分隔開；以及多條測試線，在外圍區域中電連接到所述多條數據線，所述多條測試線在列方向上延伸并且布置為沿著行方向彼此分隔開，其中，外圍區域包括：第一外圍區域；以及第二外圍區域，位于顯示區域與第一外圍區域之間，其中，所述多條測試線包括：第一測試線，包括設置在第一外圍區域上的1-1測試部分和設置在第二外圍區域上的1-2測試部分；以及第二測試線，包括設置在第二外圍區域上的2-1測試部分，并且其中，第一測試線的1-1測試部分在行方向上的寬度大于第一測試線的1-2測試部分在行方向上的寬度。

第二測試線在行方向上的寬度可以大于第一測試線的1-2測試部分在行方向上的寬度。

所述多條測試線還可以包括第三測試線，第三測試線在列方向上延伸并且與第一測試線分隔開，且第二測試線位于第三測試線與第一測試線之間，第三測試線包括：3-1測試部分，設置在第一外圍區域上；以及3-2測試部分，設置在第二外圍區域上。

第三測試線的3-1測試部分在行方向上的寬度可以大于第三測試線的3-2測試部分在行方向上的寬度，并且第二測試線在行方向上的寬度可以大于第三測試線的3-2測試部分在行方向上的寬度。

所述多條測試線還可以包括第四測試線，第四測試線在列方向上延伸并且與第二測試線分隔開，且第三測試線位于第四測試線與第二測試線之間，并且，第四測試線包括設置在第二外圍區域上的4-1測試部分。

第四測試線在行方向上的寬度可以大于第三測試線的3-2測試部分在行方向上的寬度。