[發(fā)明專利]一種電磁測(cè)溫裝置及溫度補(bǔ)償方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010087436.4
• 申請(qǐng)日: 2020-02-11
• 公開（公告）號(hào): CN111551274A
• 公開（公告）日: 2020-08-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳景超
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 陳景超
• 主分類號(hào): G01K7/16
• 分類號(hào): G01K7/16;G01K7/24;G01K1/20
• 代理公司: 廣州粵高專利商標(biāo)代理有限公司 44102
• 代理人: 隆翔鷹

本發(fā)明涉及一種所述電磁測(cè)溫裝置，包括順序連接的正弦波發(fā)生電路、信號(hào)放大電路、鑒相電路、積分濾波電路、微處理器、橋式電路，所述橋式電路內(nèi)設(shè)有橋臂，所述橋臂包括檢測(cè)線圈和感溫層，所述檢測(cè)線圈能與感溫層產(chǎn)生耦合阻抗，所述感溫層感應(yīng)電磁信號(hào)，所述橋式電路獲取所述檢測(cè)線圈與感溫層的耦合電阻值從而獲取檢測(cè)線圈和感溫層的溫度。本發(fā)明還涉及電磁測(cè)溫裝置的溫度補(bǔ)償方法，對(duì)電磁測(cè)溫裝置進(jìn)行溫度補(bǔ)償減少誤差，從而實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)測(cè)溫。本發(fā)明能實(shí)現(xiàn)快速、準(zhǔn)確測(cè)溫。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明為測(cè)溫領(lǐng)域，涉及一種電磁測(cè)溫裝置，同時(shí)還涉及一種電磁測(cè)溫裝置的溫度補(bǔ)償方法。

背景技術(shù)

現(xiàn)有的測(cè)溫裝置通常設(shè)有溫度傳感器，但溫度傳感器對(duì)溫度的檢測(cè)具有一定的滯后性；且由于溫度傳感器自身溫度升高，溫度傳感器溫度的升高會(huì)影響被測(cè)物的實(shí)際溫度，使被測(cè)物的實(shí)際溫度與溫度傳感器所測(cè)的的溫度存在差異；此外，現(xiàn)有的測(cè)溫裝置其對(duì)溫度的檢測(cè)需要設(shè)置較多元件。由于，加熱裝置利用溫度傳感器等傳感器在固定時(shí)間間隔或隨機(jī)檢測(cè)溫度。由于受熱不均、火焰對(duì)溫度影響，容易使溫度檢測(cè)的產(chǎn)生較大的誤差。

當(dāng)不再設(shè)置溫度傳感器，通過設(shè)置檢測(cè)線圈來檢測(cè)溫度時(shí)，由于檢測(cè)線圈自身的阻抗會(huì)受溫度影響發(fā)生變化，檢測(cè)線圈自身參數(shù)的變化也會(huì)影響檢測(cè)結(jié)果出現(xiàn)誤差。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于克服上述現(xiàn)有技術(shù)中測(cè)溫裝置存在測(cè)溫存在誤差的技術(shù)問題，提供一種能夠減少測(cè)溫誤差、快速精準(zhǔn)測(cè)溫的電磁測(cè)溫裝置，從而消除線圈自身參數(shù)的變化對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，從而減小測(cè)量誤差。

本發(fā)明的目的通過以下技術(shù)方案予以實(shí)現(xiàn)：

一種電磁測(cè)溫裝置，包括順序連接的正弦波發(fā)生電路、信號(hào)放大電路、鑒相電路、積分濾波電路和微處理器；

正弦波發(fā)生電路，用于產(chǎn)生正弦波信號(hào)；

鑒相電路，用于信號(hào)相位的處理；

積分濾波電路，用于將鑒相電路輸出的信號(hào)進(jìn)行積分、濾波成平直信號(hào)，以供微處理器采樣處理；

微處理器，用于控制正弦波發(fā)生電路產(chǎn)生至少二種頻率的正弦信號(hào)，同時(shí)對(duì)積分濾波電路輸出的電信號(hào)處理并進(jìn)行溫度補(bǔ)償；

還設(shè)有橋式電路，所述橋式電路包括橋臂，所述橋臂包括檢測(cè)線圈和感溫層；所述橋臂包括相互連接的第一橋臂和第二橋臂，第一橋臂包括檢測(cè)線圈和感溫層；

所述感溫層用于感應(yīng)電磁信號(hào)，并與檢測(cè)線圈產(chǎn)生耦合阻抗；

優(yōu)選的，所述感溫層由精密合金材料中的熱敏電阻材料制成。

優(yōu)選的，所述精密合金為恒彈性合金3J58、彈性合金3J54。

優(yōu)選的，所述感溫層與檢測(cè)線圈形成耦合阻抗，感溫層存在溫度變化初始臨界值和溫度變化結(jié)束臨界值，且感溫層在溫度變化初始臨界值和溫度變化結(jié)束臨界值所限定的溫度區(qū)間內(nèi)；

優(yōu)選的，在所述電磁信號(hào)的作用下與耦合阻抗存在如下關(guān)系：

K＝|(Rb-Ra)/[Ra×(Tb-Ta)]|，其中，Ra表示感溫層溫度為Ta時(shí)，感溫層與檢測(cè)線圈所產(chǎn)生的阻抗值；R₂表示感溫層溫度為T2時(shí)，感溫層與檢測(cè)線圈所產(chǎn)生的阻抗值；

Tb-Ta＝1；K為(Rb-Ra)/[Ra×(Tb-Ta)]的絕對(duì)值，且不小于0.05；

所述Ra、Rb是假定在特定條件下通過電橋測(cè)得的檢測(cè)線圈兩端的阻抗值，本專利定義所述特定條件是指檢測(cè)線圈是由直徑為10mm，長(zhǎng)度為10mm的TDKPC40 磁棒，以直徑為0.2mm的銅線繞制300圈制得，且檢測(cè)線圈與感溫層距離定為 5mm，功率為25kHz。

所述橋式電路用于測(cè)量感溫層的溫度，并用于溫度補(bǔ)償，獲取所述檢測(cè)線圈與感溫層的阻抗值；