[發(fā)明專利]麥克風(fēng)振膜振幅測(cè)量方法及其裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010087204.9 | 申請(qǐng)日: | 2020-02-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111289085B | 公開(公告)日: | 2021-06-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 祁志美;馬振鈞;吳高米;任迪鵬;劉欣 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院電子學(xué)研究所 |
| 主分類號(hào): | G01H9/00 | 分類號(hào): | G01H9/00;H04R29/00 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 吳夢(mèng)圓 |
| 地址: | 100190 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 麥克風(fēng) 振幅 測(cè)量方法 及其 裝置 | ||
1.一種麥克風(fēng)振膜振幅測(cè)量裝置,其特征在于,包括:?jiǎn)文9饫w、被測(cè)麥克風(fēng)、聲源、光源、光譜探測(cè)模塊以及控制與信號(hào)處理單元,其中:
單模光纖,包括位于兩端的第一端面和第二端面,第一端面為與光纖軸垂直的平面;
被測(cè)麥克風(fēng),具有一表面反光的振膜,所述振膜的局部區(qū)域正對(duì)于所述單模光纖的第一端面而構(gòu)成法布里-珀羅干涉腔;
聲源,用于產(chǎn)生單頻聲波來激勵(lì)所述被測(cè)麥克風(fēng)的振膜振動(dòng);
光源,用于提供入射光,所述入射光能夠通過所述單模光纖入射至所述法布里-珀羅干涉腔,并經(jīng)所述法布里-珀羅干涉腔產(chǎn)生干涉光;
光譜探測(cè)模塊,用于以預(yù)設(shè)的光譜采樣率連續(xù)探測(cè)在所述被測(cè)麥克風(fēng)的振膜振動(dòng)時(shí)經(jīng)所述法布里-珀羅干涉腔產(chǎn)生的干涉光,得到多個(gè)干涉光譜;
控制與信號(hào)處理單元,用于控制所述聲源產(chǎn)生的聲波頻率和聲壓,以及對(duì)所述光譜探測(cè)模塊輸出的多個(gè)干涉光譜進(jìn)行處理,以求取振膜振動(dòng)期間所述法布里-珀羅干涉腔的多個(gè)腔長(zhǎng),根據(jù)所述多個(gè)腔長(zhǎng)隨時(shí)間的變化來確定振膜局部區(qū)域的振幅大小;
其中,根據(jù)所述多個(gè)腔長(zhǎng)隨時(shí)間的變化來確定振膜局部區(qū)域的振幅大小,具體包括:
由各個(gè)干涉光譜對(duì)應(yīng)的腔長(zhǎng)和時(shí)刻組成一數(shù)組(t1、L1)、(t2、L2)…(tn、Ln),代入振動(dòng)方程計(jì)算被測(cè)麥克風(fēng)振膜局部區(qū)域的振幅ΔL,其中n為干涉光譜的數(shù)量,L0是振膜處于靜止?fàn)顟B(tài)時(shí)的腔長(zhǎng),f0是聲波頻率,t是時(shí)刻,是振膜振動(dòng)與聲波之間的相位差。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的麥克風(fēng)振膜振幅測(cè)量裝置,其特征在于,所述單模光纖的第一端面與所述振膜的正對(duì)單模光纖第一端面的局部區(qū)域之間的距離被調(diào)節(jié)為使所述干涉光譜出現(xiàn)至少1個(gè)波峰和至少1個(gè)波谷;和/或
所述光譜探測(cè)模塊的預(yù)設(shè)的光譜采樣率大于所述聲源產(chǎn)生的聲波頻率的2倍;和/或
在每次測(cè)試過程中由所述光譜探測(cè)模塊獲得不少于3個(gè)干涉光譜。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的麥克風(fēng)振膜振幅測(cè)量裝置,其特征在于,所述麥克風(fēng)振膜振幅測(cè)量裝置還包括一精密移動(dòng)平臺(tái),用于調(diào)節(jié)所述單模光纖相對(duì)于所述被測(cè)麥克風(fēng)的位置,使得所述單模光纖的第一端面與所述被測(cè)麥克風(fēng)的振膜的局部區(qū)域形成所述法布里-珀羅干涉腔。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的麥克風(fēng)振膜振幅測(cè)量裝置,其特征在于,所述精密移動(dòng)平臺(tái)設(shè)置有麥克風(fēng)固定件和單模光纖固定件,所述精密移動(dòng)平臺(tái)能夠使麥克風(fēng)固定件和/或單模光纖固定件平移或升降或轉(zhuǎn)動(dòng)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的麥克風(fēng)振膜振幅測(cè)量裝置,其特征在于,所述麥克風(fēng)振膜振幅測(cè)量裝置還包括光纖環(huán)形器或一分二光纖分路器,該光纖環(huán)形器或一分二光纖分路器包括第一端口、第二端口和第三端口,其中:
第一端口為輸入端,經(jīng)光纖與所述光源連接;
第二端口為輸出端口,經(jīng)光纖與所述光譜探測(cè)模塊連接;
第三端口,與所述單模光纖的第二端面對(duì)接。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的麥克風(fēng)振膜振幅測(cè)量裝置,其特征在于:
所述麥克風(fēng)振膜振幅測(cè)量裝置還包括一標(biāo)準(zhǔn)聲級(jí)計(jì)或一標(biāo)準(zhǔn)麥克風(fēng),用于測(cè)定所述聲源產(chǎn)生的聲波到達(dá)被測(cè)麥克風(fēng)振膜處的聲壓;和/或
所述麥克風(fēng)振膜振幅測(cè)量裝置還包括至少一單筒視頻顯微鏡,用于監(jiān)視所述單模光纖的第一端面與所述被測(cè)麥克風(fēng)的振膜的局部區(qū)域之間的相對(duì)位置;和/或
所述麥克風(fēng)振膜振幅測(cè)量裝置還包括一機(jī)箱,用于在測(cè)試過程中消除回音、隔絕噪音、隔離震動(dòng);和/或
所述光源為ASE光源或LED光源或鹵鎢燈,所述光源的發(fā)射光譜帶寬大于20納米;和/或
所述光譜探測(cè)模塊的光譜探測(cè)范圍覆蓋所述光源的發(fā)射光譜;和/或
所述被測(cè)麥克風(fēng)是駐極體麥克風(fēng)、MEMS麥克風(fēng)、光纖麥克風(fēng)、光柵麥克風(fēng)中的一種,或者是駐極體麥克風(fēng)、MEMS麥克風(fēng)、光纖麥克風(fēng)、光柵麥克風(fēng)中包含振膜的部件;和/或
所述振膜是由金屬、玻璃、石墨烯、硅、聚合物、金屬氧化物、氮化硅中的一種振膜材料形成的振膜,或是多種所述振膜材料形成的復(fù)合振膜。
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