[發明專利]檢測芯片及檢測系統在審
| 申請號: | 202010086487.5 | 申請日: | 2020-02-11 |
| 公開(公告)號: | CN111167531A | 公開(公告)日: | 2020-05-19 |
| 發明(設計)人: | 崔皓辰;李婧;胡濤;胡立教;袁春根;申曉賀 | 申請(專利權)人: | 京東方科技集團股份有限公司;北京京東方健康科技有限公司 |
| 主分類號: | B01L3/00 | 分類號: | B01L3/00;G01N27/26 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人: | 彭久云 |
| 地址: | 100015 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 檢測 芯片 系統 | ||
1.一種檢測芯片,包括:襯底基板、流道限定層和至少一個驅動電極組;
其中,所述至少一個驅動電極組位于所述襯底基板上,所述流道限定層位于所述至少一個驅動電極組遠離所述襯底基板的一側;
所述流道限定層包括流道結構,所述流道結構被配置為安裝液體;
所述至少一個驅動電極組中的每組包括多個驅動電極,所述多個驅動電極被配置為與所述液體接觸且驅動所述液體在所述流道結構內移動。
2.根據權利要求1所述的檢測芯片,其中,所述至少一個驅動電極組中的每組的多個驅動電極包括第一電極和第二電極;
所述第一電極和所述第二電極形成叉指狀電極結構,以傳輸交流電信號。
3.根據權利要求2所述的檢測芯片,其中,所述第一電極包括多個第一梳狀齒,所述第二電極包括多個第二梳狀齒,
所述多個第一梳狀齒與所述多個第二梳狀齒沿所述流道結構的延伸方向交替排布。
4.根據權利要求3所述的檢測芯片,其中,在所述流道結構的延伸方向上,所述第一梳狀齒的寬度不同于所述第二梳狀齒的寬度,以使所述第一電極和所述第二電極形成非對稱叉指狀電極結構。
5.根據權利要求4所述的檢測芯片,其中,在所述流道結構的延伸方向上,所述第一梳狀齒的寬度小于所述第二梳狀齒的寬度,相鄰的所述第一梳狀齒之間的距離大于相鄰的所述第二梳狀齒之間的距離。
6.根據權利要求4所述的檢測芯片,其中,在所述流道結構的延伸方向上,所述第一梳狀齒的寬度為2μm~20μm,所述第二梳狀齒的寬度為10μm~100μm。
7.根據權利要求2所述的檢測芯片,其中,所述第一電極和所述第二電極的材料包括惰性金屬材料。
8.根據權利要求1-7任一所述的檢測芯片,其中,所述流道結構在所述襯底基板上的正投影在第一方向上位于所述多個驅動電極在所述襯底基板上的正投影內,所述第一方向與所述流道結構的延伸方向垂直。
9.根據權利要求1-7任一所述的檢測芯片,還包括:依次設置的混合區、緩沖區和檢測區;
其中,所述流道限定層至少位于所述混合區、所述緩沖區和所述檢測區,
所述至少一個驅動電極組被配置為驅動所述液體依次通過所述混合區、所述緩沖區和所述檢測區。
10.根據權利要求9所述的檢測芯片,其中,所述至少一個驅動電極組包括第一驅動電極組、第二驅動電極組和第三驅動電極組;
所述第一驅動電極組位于所述混合區內,所述第一驅動電極組的多個驅動電極被配置為驅動所述液體在所述混合區內移動;
所述第二驅動電極組位于所述緩沖區內,所述第二驅動電極組的多個驅動電極被配置為驅動所述液體在所述緩沖區內移動;
所述第三驅動電極組位于所述檢測區內,所述第三驅動電極組的多個驅動電極被配置為驅動所述液體在所述檢測區內移動。
11.根據權利要求9所述的檢測芯片,其中,所述流道結構包括依次連通的第一流道部分、第二流道部分和第三流道部分;
所述第一流道部分位于所述混合區內,且被配置為允許所述液體與位于所述第一流道部分內的反應試劑混合,
所述第二流道部分位于所述緩沖區內,
所述第三流道部分位于所述檢測區內,且被配置為允許對所述第三流道部分內的至少一個檢測點處的所述液體進行光學檢測。
12.根據權利要求11所述的檢測芯片,其中,所述第一流道部分在平行于所述襯底基板的平面上的截面形狀為菱形。
13.根據權利要求11所述的檢測芯片,還包括檢測試劑,
其中,所述檢測試劑設置在所述至少一個檢測點處。
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