[發(fā)明專利]電子熔絲電路及其操作方法

有效

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• 申請日: 2020-02-10
• 公開（公告）號: CN111583985B
• 公開（公告）日: 2022-04-19
• 發(fā)明（設計）人: 森郁
• 申請（專利權）人: 華邦電子股份有限公司
• 主分類號: G11C17/16
• 分類號: G11C17/16;G11C17/18
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產(chǎn)權代理有限公司 11205
• 代理人: 羅英;臧建明

本發(fā)明提供一種電子熔絲電路，適用于存儲器裝置，電子熔絲電路包括多個電子熔絲組與控制電路。多個電子熔絲組的每一個具有多個電子熔絲。當電源開啟時，控制電路檢測多個電子熔絲組的每一個以產(chǎn)生檢測信號，并依據(jù)檢測信號判斷多個電子熔絲組的每一個的多個電子熔絲是否已燒斷，以決定是否對多個電子熔絲進行燒斷操作。當依據(jù)檢測信號判斷多個電子熔絲中至少一個電子熔絲是已燒斷電子熔絲時，控制電路閂鎖至少一個已燒斷電子熔絲的寫入數(shù)據(jù)，并禁能對至少一個已燒斷電子熔絲所屬電子熔絲組的覆寫操作。

技術領域

本發(fā)明涉及一種適用于存儲器裝置的電子熔絲電路及其操作方法，尤其涉及一種無須經(jīng)使用比特(use bit)的電子熔絲電路及其操作方法。

背景技術

對于存儲器裝置的制程缺陷問題，電子熔絲(eFuse)被廣泛被使用。通過對電子熔絲通入大電流而燒斷電子熔絲，以替換具有缺陷的存儲單元。

現(xiàn)有技術通過經(jīng)使用比特(use bit)以確認電子熔絲所屬的電子熔絲組(eFuseset)是否具有已燒斷電子熔絲，但經(jīng)使用比特使得芯片總面積增加。另一方面，為了等待燒斷電壓回復(recovery)至足夠的電壓值，現(xiàn)有技術加長了燒斷時脈信號的等待時間(waittime)，但造成多個電子熔絲的處理速度(throughput)劣化。

并且，在現(xiàn)有技術中暫存數(shù)據(jù)只在電源開啟與關閉時更新，因此在電源開啟與關閉之間會對具有已燒斷電子熔絲的電子熔絲組進行覆寫操作，導致對電子熔絲進行燒斷操作的可靠性劣化。此外，當短時間有多個電子熔絲將被燒斷而其中一個電子熔絲先被燒斷時，大電流將流入先被燒斷的電子熔絲，使得其他電子熔絲的燒斷電壓被拉低，導致對其他電子熔絲的燒斷操作的可靠性劣化。

發(fā)明內容

本發(fā)明提供一種電子熔絲電路及其操作方法，用以判斷電子熔絲是否燒斷而無須經(jīng)使用比特，從而減少芯片面積，并提高燒斷操作的處理速度與可靠性。

本發(fā)明的實施例提供一種電子熔絲電路，適用于存儲器裝置，電子熔絲電路包括多個電子熔絲組與控制電路，每個電子熔絲組具有多個電子熔絲。當電源開啟時，控制電路檢測每個電子熔絲組以產(chǎn)生檢測信號，并依據(jù)檢測信號判斷每個電子熔絲組的多個電子熔絲是否已燒斷，以決定是否對多個電子熔絲進行燒斷操作。當依據(jù)檢測信號判斷多個電子熔絲中至少一個電子熔絲是已燒斷電子熔絲時，控制電路禁能對至少一個已燒斷電子熔絲所屬電子熔絲組的覆寫操作。另外，當閂鎖電子熔絲的寫入數(shù)據(jù)且當電源開啟期間有再度燒斷要求時，依據(jù)各電子熔絲組的寫入數(shù)據(jù)更新檢測信號，并依據(jù)檢測信號判斷多個電子熔絲組的多個電子熔絲中的每一個是否已燒斷，決定是否對多個電子熔絲進行燒斷操作。

本發(fā)明的實施例提供一種電子熔絲電路的操作方法，電子熔絲電路適用于存儲器裝置，電子熔絲包括多個電子熔絲組與控制電路，每個電子熔絲組具有多個電子熔絲，操作方法包括但不限于當電源開啟時，檢測每個電子熔絲組以產(chǎn)生檢測信號。依據(jù)檢測信號判斷每個電子熔絲組的多個電子熔絲是否已燒斷。決定是否對多個電子熔絲進行燒斷操作。當依據(jù)檢測信號判斷多個電子熔絲中至少一個電子熔絲是已燒斷電子熔絲時，禁能對至少一個已燒斷電子熔絲所屬電子熔絲組的覆寫操作。

基于上述，在本發(fā)明一些實施例中，所述電子熔絲電路及其操作方法判斷多個電子熔絲是否已燒斷而無須經(jīng)使用比特。當控制電路判斷多個電子熔絲中至少一個電子熔絲是已燒斷電子熔絲時，禁能至少一個已燒斷電子熔絲所屬電子熔絲組的覆寫操作，以減少芯片面積，并提高燒斷操作的處理速度與可靠性。

為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉實施例，并配合附圖作詳細說明如下。

附圖說明

圖1是本發(fā)明一實施例的電子熔絲電路的示意圖；

圖2是本發(fā)明一實施例的電子熔絲電路的電路方塊圖；

圖3是本發(fā)明一實施例的包括燒斷電路內部電路的電子熔絲電路的電路方塊圖；

圖4是本發(fā)明一實施例的傳感器的電路圖；