[發明專利]裝修可視面選擇方法、裝置、存儲介質、電子設備在審
| 申請號: | 202010084028.3 | 申請日: | 2020-02-10 |
| 公開(公告)號: | CN111310263A | 公開(公告)日: | 2020-06-19 |
| 發明(設計)人: | 周毅 | 申請(專利權)人: | 廣聯達科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F30/13 | 分類號: | G06F30/13;G06T17/20;G06Q50/08 |
| 代理公司: | 北京和信華成知識產權代理事務所(普通合伙) 11390 | 代理人: | 林靜濤 |
| 地址: | 100193 北京市海淀區西*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 裝修 可視 選擇 方法 裝置 存儲 介質 電子設備 | ||
1.一種裝修可視面選擇方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取裝修構件實體,遍歷所述裝修構件實體中的每一個面,獲取面上采樣點;
獲取所述采樣點所在面的預設方向,根據所述預設方向以及所述采樣點對應的采樣位置構造探測射線進行探測;
根據所述探測射線查找最近相交的裝修構件,根據距離以及類型判斷所述最近相交的裝修構件是否滿足可視條件;
若滿足,合并所有滿足可視條件的每一個子面,合并所有面滿足可視條件的字面,返回選擇的可視面。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述遍歷所述裝修構件實體中的每一個面,獲取面上采樣點,包括:
遍歷所述裝修構件實體中的每一個面,扣減建筑以及裝修構件;
遍歷所述裝修構件實體中經過扣減的每一個面,獲取面上采樣點。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述扣減建筑以及裝修構件,包括:
扣減相交的建筑以及裝修構件。
4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲取所述采樣點所在面的預設方向,包括:
獲取所述采樣點所在面的切線方向;
所述根據所述預設方向以及所述采樣點對應的采樣位置構造探測射線進行探測,包括:
根據所述切線方向以及所述采樣點對應的采樣位置構造探測射線進行探測。
5.一種裝修可視面選擇裝置,其特征在于,所述裝置包括:
實體獲取模塊,用于獲取裝修構件實體,遍歷所述裝修構件實體中的每一個面,獲取面上采樣點;
探測模塊,用于獲取所述采樣點所在面的預設方向,根據所述預設方向以及所述采樣點對應的采樣位置構造探測射線進行探測;
判斷模塊,用于根據所述探測射線查找最近相交的裝修構件,根據距離以及類型判斷所述最近相交的裝修構件是否滿足可視條件;
可視面返回模塊,用于若滿足,合并所有滿足可視條件的每一個子面,合并所有面滿足可視條件的字面,返回選擇的可視面。
6.根據權利要求5所述的裝置,其特征在于,所述實體獲取模塊包括:
扣減子模塊,用于遍歷所述裝修構件實體中的每一個面,扣減建筑以及裝修構件;
采樣點獲取子模塊,用于遍歷所述裝修構件實體中經過扣減的每一個面,獲取面上采樣點。
7.根據權利要求6所述的裝置,其特征在于,所述扣減子模塊具體用于:
扣減相交的建筑以及裝修構件。
8.根據權利要求5所述的裝置,其特征在于,所述探測模塊具體用于:
獲取所述采樣點所在面的切線方向;
所述探測模塊具體用于:
根據所述切線方向以及所述采樣點對應的采樣位置構造探測射線進行探測。
9.一種電子設備,其特征在于,包括:處理器和存儲器,所述處理器用于執行所述存儲器中存儲的裝修可視面選擇程序,以實現權利要求1~4中任一項所述的裝修可視面選擇方法。
10.一種存儲介質,其特征在于,所述存儲介質存儲有一個或者多個程序,所述一個或者多個程序可被一個或者多個處理器執行,以實現權利要求1~4中任一項所述的裝修可視面選擇方法。
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