[發明專利]電能的計量方法、裝置和電能表在審
| 申請號： | 202010083801.4 | 申請日： | 2020-02-10 |
| 公開（公告）號： | CN111089991A | 公開（公告）日： | 2020-05-01 |
| 發明（設計）人： | 鄭海鋒;陳建鋒;張亮;錢紅斌;牛延謀 | 申請（專利權）人： | 華立科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R11/00 | 分類號： | G01R11/00;G01R22/10 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 何少巖 |
| 地址： | 310000 浙江省杭*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 電能 計量 方法 裝置 電能表 | ||
1.一種電能的計量方法，其特征在于，所述方法應用于電能表，所述電能表內置有多個獨立的計量芯片，所述方法包括：
通過所述多個獨立的計量芯片，對三相相關參數進行采樣，得到所述相關參數的值；
根據所述相關參數的值，計量電能表的電能值。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述三相相關參數至少包括：A相、B相、C相的功率、電壓、電流和相位值；所述多個獨立的計量芯片包括錳銅電阻；
通過所述多個獨立的計量芯片，對三相相關參數進行采樣的步驟，包括：
通過所述多個獨立的計量芯片中的錳銅采樣電阻，對A相、B相、C相的功率、電壓、電流和相位值進行采樣。
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述電能表還內置有MCU；所述MCU和所述多個獨立的計量芯片通過光耦隔離的方式連接；
通過所述多個獨立的計量芯片，對三相相關參數進行采樣，得到相關參數值的步驟之后，所述方法還包括：利用MCU，從所述多個獨立的計量芯片中，讀取所述相關參數的值。
4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，利用MCU，從所述多個獨立的計量芯片中，讀取所述相關參數的值的步驟包括：利用MCU，通過SPI接口，從所述多個獨立的計量芯片中，讀取所述相關參數的值。
5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述相關參數的值，計量電能表的電能值的步驟，包括：
計算三相功率的累加和，得到當前功率；
將所述當前功率乘以用電時間，計量電能表的電能值。
6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述相關參數的值，計量電能表的電能值的步驟之后，所述方法還包括：
根據預設的脈沖常數，確定脈沖當量的目標電能；
定時讀取當前三相功率的累加電能；
如果所述累加電能大于所述目標電能，計算所述累加電能與所述目標電能的差值；將當前累加電能更新為所述差值；
發送脈沖；所述脈沖的能量為目標電能；繼續執行定時讀取當前三相功率的累加電能的步驟。
7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：
根據接收到的脈沖數量，以及所述脈沖當量的目標能量，進行電能表計量結果的誤差校準和檢測。
8.一種電能的計量裝置，所述裝置應用于電能表，所述電能表內置有多個獨立的計量芯片，所述裝置包括：
參數采樣模塊，用于通過所述多個獨立的計量芯片，對三相相關參數進行采樣，得到所述相關參數的值；
電能計量模塊，用于根據所述相關參數的值，計量電能表的電能值。
9.根據權利要求8所述的裝置，其特征在于，所述三相相關參數至少包括：A相、B相、C相的功率、電壓、電流和相位值；所述多個獨立的計量芯片包括錳銅電阻；
所述參數采樣模塊，用于通過所述多個獨立的計量芯片中的錳銅采樣電阻，對A相、B相、C相的功率、電壓、電流和相位值進行采樣。
10.一種電能表，其特征在于，所述電能表包括：處理設備和存儲裝置；
所述存儲裝置上存儲有計算機程序，所述計算機程序在被所述處理設備運行時執行如權利要求1至7任一項所述的電能的計量方法。
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