[發明專利]一種中子伽馬密度測井測量裝置及方法

有效

• 申請號: 202010081298.9
• 申請日: 2020-02-06
• 公開（公告）號: CN111335886B
• 公開（公告）日: 2023-04-28
• 發明（設計）人: 張泉瀅;張峰;鄧瑞;田立立
• 申請（專利權）人: 長江大學;中國石油大學（華東）
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00;E21B47/00
• 代理公司: 武漢智嘉聯合知識產權代理事務所(普通合伙) 42231
• 代理人: 趙澤夏

1.一種基于硼俘獲伽馬的中子伽馬密度測井測量裝置，其特征在于，包括：殼體、主屏蔽體、副屏蔽體、可控中子源、近探測組件以及遠探測組件，

所述殼體具有一設備腔；

所述主屏蔽體設置于所述設備腔內且將所述設備腔分隔成發射腔及接收腔；

所述副屏蔽體設置于所述接收腔內且將所述接收腔分隔成近接收腔及遠接收腔；

所述可控中子源設置于所述發射腔內且用于發射中子；

所述近探測組件設置于所述近接收腔內，所述近探測組件包括近伽馬探測器及第一碳化硼橡膠套，所述第一碳化硼橡膠套套設于所述近伽馬探測器上；

所述遠探測組件設置于所述遠接收腔內，所述遠探測組件包括遠伽馬探測器及第二碳化硼橡膠套，所述第二碳化硼橡膠套套設于所述遠伽馬探測器上；

通過采用外包硼套的設計，使硼套能夠吸收熱中子并放出硼俘獲伽馬射線，并通過伽馬探測器探測硼俘獲伽馬信息，再利用硼俘獲伽馬代替總俘獲伽馬進行HI校正，以降低礦化度對密度測量結果的影響。

2.如權利要求1所述的基于硼俘獲伽馬的中子伽馬密度測井測量裝置，其特征在于，所述可控中子源為D-T中子源，所述可控中子源的脈沖寬度為20μs，所述可控中子源的工作周期為400μs。

3.如權利要求1所述的基于硼俘獲伽馬的中子伽馬密度測井測量裝置，其特征在于，所述第一碳化硼橡膠套及所述第二碳化硼橡膠套的厚度均為5mm。

4.如權利要求1所述的基于硼俘獲伽馬的中子伽馬密度測井測量裝置，其特征在于，所述主屏蔽體及所述副屏蔽體的材質均為鎢鎳鐵，所述主屏蔽體及所述副屏蔽體的厚度均為5cm。

5.如權利要求1所述的基于硼俘獲伽馬的中子伽馬密度測井測量裝置，其特征在于，所述近伽馬探測器包括第一鋁合金外殼、第一NaI探測晶體以及第一光電倍增管，所述第一鋁合金外殼具有一密閉的第一容納腔；所述第一NaI探測晶體設置于所述第一容納腔內；所述第一光電倍增管設置于所述第一容納腔內且與所述第一NaI探測晶體連接；所述第一碳化硼橡膠套套設于所述第一鋁合金外殼上；

所述遠伽馬探測器包括第二鋁合金外殼、第二NaI探測晶體以及第二光電倍增管，所述第二鋁合金外殼具有一密閉的第二容納腔；所述第二NaI探測晶體設置于所述第二容納腔內；所述第二光電倍增管設置于所述第二容納腔內且與所述第二NaI探測晶體連接；所述第二碳化硼橡膠套套設于所述第二鋁合金外殼上。

6.如權利要求5所述的基于硼俘獲伽馬的中子伽馬密度測井測量裝置，其特征在于，所述第一NaI探測晶體與所述可控中子源的距離為30-40cm，所述第二NaI探測晶體與所述可控中子源的距離為60-70cm。

7.如權利要求5所述的基于硼俘獲伽馬的中子伽馬密度測井測量裝置，其特征在于，所述第一NaI探測晶體的長度為8cm，所述第二NaI探測晶體的長度為14cm。