[發明專利]工件孔洞測量方法有效
| 申請號: | 202010078864.0 | 申請日: | 2020-02-03 |
| 公開(公告)號: | CN113074656B | 公開(公告)日: | 2023-03-07 |
| 發明(設計)人: | 李俊毅;高彩齡;鄭憲君 | 申請(專利權)人: | 財團法人工業技術研究院 |
| 主分類號: | G01B11/24 | 分類號: | G01B11/24;G06T7/00;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/60 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人: | 李芳華 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 工件 孔洞 測量方法 | ||
1.一種工件孔洞量測方法,用于量測設有孔洞的工件,包括:
分別取得關于該工件的三維點云模型以及二維圖像;
依據該二維圖像的圖像強度差異,以便于該三維點云模型界定第一輪廓;
依據該第一輪廓分別建立第二輪廓以及第三輪廓;
界定該第二輪廓與該第三輪廓之間為數據點測試區域;
沿著該數據點測試區域的多個剖線方向分別建立多個數據點取樣區域,每一剖線方向從該第三輪廓延伸至該第二輪廓;
分別取樣每一所述數據點取樣區域內的轉折幅度最大的數據點作為轉折點以建立轉折點集合;
將該轉折點集合內的這些轉折點相互連接以建立該孔洞的邊緣,
其中分別取樣每一所述數據點取樣區域內的該轉折幅度最大的數據點作為該轉折點以建立該轉折點集合包含:計算每一數據點取樣區域內的多個數據點的起伏標準差;依據所述起伏標準差分別對所述數據點取樣區域執行直線擬合算法以建立多個數據點分布線段,每一數據點分布線段的寬度等于該起伏標準差;分別濾除位于所述數據點分布線段之外的部分所述數據點;分別于所述數據點分布線段執行窗口算法以建立該轉折點集合。
2.如權利要求1所述的工件孔洞量測方法,其中該二維圖像包含第一區域圖像以及第二區域圖像,該第一區域圖像的灰階值強度小于該第二區域圖像的灰階值強度,估計該第一區域圖像的位置對應于該孔洞于該工件的表面的位置。
3.如權利要求1所述的工件孔洞量測方法,其中該第一輪廓具有一中心點,該第一輪廓、該第二輪廓以及該第三輪廓共享該中心點,該第一輪廓包圍該第二輪廓且第一輪廓與該第二輪廓之間具有第一半徑比,該第三輪廓包圍該第一輪廓與該第二輪廓且該第三輪廓與該第一輪廓之間具有第二半徑比,而該第一半徑比等于該第二半徑比。
4.如權利要求1所述的工件孔洞量測方法,其中該第一輪廓與該第二輪廓之間具有第一半徑比,該第三輪廓與該第一輪廓之間具有第二半徑比,該第一半徑比相異于該第二半徑比。
5.如權利要求1所述的工件孔洞量測方法,更包括在將該轉折點集合內的所有轉折點相互連接以建立該孔洞的該邊緣之后,執行過濾該轉折點集合內的噪聲的方法。
6.如權利要求5所述的工件孔洞量測方法,其中該過濾該轉折點集合內的噪聲的方法包含:映像橢圓立方環于該該轉折點集合;濾除分布于該橢圓立方環之外的數據點;判斷分布于該橢圓立方環內的任意兩個數據點之間的夾角變異是否大于或等于第一閾值;當該夾角變異大于或等于該第一閾值,取樣分布于該橢圓立方環內的數據點以建立邊緣點集合;當該夾角變異小于該第一閾值,持續遞減該橢圓立方環內的環半徑,直到位于該橢圓立方環內的任意兩個數據點之間的夾角變異大于或等于該第一閾值為止。
7.如權利要求1所述的工件孔洞量測方法,更包括在將該轉折點集合內的所有轉折點相互連接以建立該孔洞的該邊緣之后,執行孔洞類型判斷程序。
8.如權利要求7所述的工件孔洞量測方法,其中該孔洞類型判斷程序包含:計算該孔洞的該邊緣的外側的外側數據點密度;計算該孔洞的該邊緣的內側的內側數據點密度;判斷該外側數據點密度與該內側數據點密度的密度差是否大于或等于第二閾值;當該密度差大于或等于該第二閾值時,判斷該孔洞為直孔。
9.如權利要求8所述的工件孔洞量測方法,其中該孔洞類型判斷程序更包含:當該密度差小于該第二閾值時,判斷該孔洞的該邊緣的外側與該孔洞的該邊緣的內側之間的夾角變異是否大于或等于第三閾值;當該夾角變異大于或等于該第三閾值,判斷該孔洞為直孔;當該夾角變異小于該第三閾值,判斷該孔洞為埋孔。
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