[發明專利]檢測故障的設備和方法

在審

• 申請號: 202010078786.4
• 申請日: 2020-02-03
• 公開（公告）號: CN111524478A
• 公開（公告）日: 2020-08-11
• 發明（設計）人: 李章煥
• 申請（專利權）人: 三星顯示有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G06N20/00;G06N3/08;G06N3/04;G01M11/00
• 代理公司: 北京德琦知識產權代理有限公司 11018
• 代理人: 史迎雪;康泉

1.一種檢測故障的方法，包括：

接收在電子裝置的一個或多個制造過程中獲取的多個時間序列傳感器數據；

將所述多個時間序列傳感器數據布置在二維2D數據陣列中；

將所述2D數據陣列提供至卷積神經網絡模型；

使用所述卷積神經網絡模型，在所述2D數據陣列中識別模式，所述模式與故障狀態相關聯；

提供在所述電子裝置的所述一個或多個制造過程中的所述故障狀態的故障指示器；并且

基于所述故障指示器，對所述電子裝置是否包括故障進行分類，

其中所述2D數據陣列具有到所述卷積神經網絡模型的輸入數據的維度。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，所述電子裝置是顯示裝置。

3.根據權利要求1所述的方法，其中，所述電子裝置是顯示裝置的玻璃面板。

4.根據權利要求1所述的方法，其中，所述卷積神經網絡模型是VGG、Resnet、Alexnet或Squeezenet。

5.根據權利要求1所述的方法，其中，所述分類的結果包括所述故障狀態的類型和位置。

6.根據權利要求1所述的方法，其中，所述2D數據陣列被轉換為第二2D數據陣列，所述第二2D數據陣列包括彼此分離的多個數據陣列。

7.根據權利要求1所述的方法，進一步包括：

在所述一個或多個制造過程期間丟棄包括所述故障的所述電子裝置。

8.根據權利要求1所述的方法，進一步包括：

將所述多個時間序列傳感器數據放置到原始蹤跡數據陣列中，所述原始蹤跡數據陣列具有與傳感器的數量對應的第一維度和與所述傳感器中的每一個傳感器的數據樣本的數量對應的第二維度；

確定所述原始蹤跡數據陣列是否符合所述2D數據陣列；

將所述原始蹤跡數據陣列分割為多個原始蹤跡數據陣列塊；并且

將所述多個原始蹤跡數據陣列塊放置到所述2D數據陣列中。

9.根據權利要求8所述的方法，其中，所述多個原始蹤跡數據陣列塊中的每一個原始蹤跡數據陣列塊包括重疊區域。

10.根據權利要求1所述的方法，進一步包括：

接收具有不同數量的數據樣本的多個時間序列傳感器數據集合；

在所述多個時間序列傳感器數據集合之中確定第一時間序列傳感器數據集合，所述第一時間序列傳感器數據集合具有最小數量的數據樣本；并且

調整所述多個時間序列傳感器數據集合的剩余時間序列傳感器數據集合的大小，以具有所述最小數量的數據樣本。

11.根據權利要求1所述的方法，進一步包括：

確定所述多個時間序列傳感器數據的子集，所述子集與所述故障狀態相關聯；并且

重新排列所述2D數據陣列，以將所述多個時間序列傳感器數據的所述子集放置在彼此附近。

12.根據權利要求1所述的方法，進一步包括：

接收多個時間序列傳感器數據集合，其中所述多個時間序列傳感器數據集合中的每一個包括與在所述一個或多個制造過程中的多個處理步驟相對應的數據；

比較在所述多個時間序列傳感器數據集合中的、所述多個處理步驟中的每個處理步驟的數據大小；

針對所述多個處理步驟中的每個處理步驟，確定在所述多個時間序列傳感器數據集合中的第一時間序列傳感器數據集合，所述第一時間序列傳感器數據集合具有最小步驟大小；

將在剩余時間序列傳感器數據集合中的與相應過程步驟相對應的時間序列傳感器數據映射為具有所述最小步驟大?。徊⑶?/p>

通過組合被映射為具有所述最小步驟大小的相應過程步驟，而針對所述多個時間序列傳感器數據集合中的每一個生成所述2D數據陣列。