[發(fā)明專(zhuān)利]一種PCB互聯(lián)可靠性測(cè)試方法和裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010077214.4 | 申請(qǐng)日: | 2020-01-24 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111142009B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-04-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 許如意 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 上海煒綾測(cè)試技術(shù)有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/28 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 201620 上海市松江區(qū)*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 pcb 可靠性 測(cè)試 方法 裝置 | ||
1.一種PCB互聯(lián)可靠性測(cè)試方法,其特征在于,包括如下步驟:
步驟1,室溫下測(cè)量孔鏈的電阻;
步驟2,升溫階段,將加熱電流施加在孔鏈上,使孔鏈的溫度在設(shè)置的升溫測(cè)試時(shí)間窗口內(nèi)上升達(dá)到設(shè)定的測(cè)試溫度下限;
步驟3,停止施加加熱電流,并將孔鏈冷卻至室溫;
步驟4,室溫下測(cè)量孔鏈的電阻;
步驟5,判斷孔鏈?zhǔn)欠裢ㄟ^(guò)測(cè)試,
所述步驟2與步驟3之間可加入以下保溫階段步驟2.1,
步驟2.1,保溫階段,繼續(xù)施加加熱電流,在設(shè)置的保溫時(shí)間內(nèi)使孔鏈的溫度保持在設(shè)定的測(cè)試溫度下限與測(cè)試溫度上限之間,
所述步驟5判斷孔鏈?zhǔn)欠裢ㄟ^(guò)測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)為以下4種中的一種或幾種,
第1種,根據(jù)電流判斷,包括以下2種電流判斷標(biāo)準(zhǔn),2種電流判斷標(biāo)準(zhǔn)都通過(guò)時(shí)視為孔鏈通過(guò)測(cè)試,
第1種電流判斷標(biāo)準(zhǔn)為,根據(jù)實(shí)際負(fù)載電流與設(shè)置加熱電流的比值判斷,如果在加熱電流施加的測(cè)試時(shí)間內(nèi),電路中實(shí)際負(fù)載電流與設(shè)置加熱電流的比值不低于設(shè)定的閥值,則孔鏈視為通過(guò)測(cè)試,如果在加熱電流施加的測(cè)試時(shí)間內(nèi),電路中實(shí)際負(fù)載電流與設(shè)置加熱電流的比值低于設(shè)定的閥值,則孔鏈視為不通過(guò)測(cè)試,如果根據(jù)實(shí)際負(fù)載電流與設(shè)置加熱電流的比值判斷孔鏈?zhǔn)欠袷В瑒t可以不進(jìn)行步驟1,步驟3和步驟4,在步驟2和步驟2.1中需檢測(cè)電路中實(shí)際負(fù)載電流并判斷是否孔鏈?zhǔn)?,如果失效可以選擇終止測(cè)試或繼續(xù)測(cè)試;
第2種電流判斷標(biāo)準(zhǔn)為,根據(jù)實(shí)際負(fù)載電流判斷,如果在加熱電流施加的測(cè)試時(shí)間內(nèi),電路中實(shí)際負(fù)載電流不低于設(shè)定的閥值,則孔鏈視為通過(guò)測(cè)試,如果在加熱電流施加的測(cè)試時(shí)間內(nèi),電路中實(shí)際負(fù)載電流低于設(shè)定的閥值,則孔鏈視為不通過(guò)測(cè)試,如果根據(jù)實(shí)際負(fù)載電流與設(shè)置加熱電流的比值判斷孔鏈?zhǔn)欠袷?,則可以不進(jìn)行步驟1,步驟3和步驟4,在步驟2和步驟2.1中需檢測(cè)電路中實(shí)際負(fù)載電流并判斷是否孔鏈?zhǔn)В绻Э梢赃x擇終止測(cè)試或繼續(xù)測(cè)試;
第2種,根據(jù)電阻判斷,包括以下2種電阻判斷標(biāo)準(zhǔn),2種電阻判斷標(biāo)準(zhǔn)都通過(guò)時(shí)視為孔鏈通過(guò)測(cè)試,
第1種電阻判斷標(biāo)準(zhǔn)為,根據(jù)室溫下電阻變化率判斷,如果施加加熱電流前后室溫下孔鏈的電阻變化率不超過(guò)設(shè)定的閥值,則孔鏈視為通過(guò)測(cè)試,如果施加加熱電流前后室溫下孔鏈的電阻變化率超過(guò)設(shè)定的閥值,則孔鏈視為不通過(guò)測(cè)試;第2種電阻判斷標(biāo)準(zhǔn)為,根據(jù)電阻大小判斷,如果測(cè)試過(guò)程中孔鏈的電阻不超過(guò)設(shè)定的閥值電阻,則孔鏈視為通過(guò)測(cè)試,如果測(cè)試過(guò)程中孔鏈的電阻超過(guò)設(shè)定的閥值電阻,則孔鏈視為不通過(guò)測(cè)試,如果根據(jù)電阻判斷孔鏈?zhǔn)欠袷?,則在步驟2至步驟3中檢測(cè)孔鏈的電阻并判斷是否孔鏈?zhǔn)В绻Э梢赃x擇終止測(cè)試或繼續(xù)測(cè)試;
第3種,根據(jù)溫度上升速度判斷,如果在加熱電流施加的測(cè)試時(shí)間內(nèi),孔鏈的溫度上升速度不超過(guò)設(shè)定的閥值,則孔鏈視為通過(guò)測(cè)試,如果在加熱電流施加的測(cè)試時(shí)間內(nèi),孔鏈的溫度上升速度超過(guò)設(shè)定的閥值,則孔鏈視為不通過(guò)測(cè)試,如果根據(jù)溫度上升速度判斷孔鏈?zhǔn)欠袷В瑒t在步驟2至步驟3中檢測(cè)孔鏈的溫度和溫度上升速度并判斷是否孔鏈?zhǔn)?,如果失效可以選擇終止測(cè)試或繼續(xù)測(cè)試;
第4種,根據(jù)溫度上升速度變化比率判斷,如果在加熱電流施加的測(cè)試時(shí)間內(nèi),孔鏈的溫度上升速度變化比率不超過(guò)設(shè)定的閥值,則孔鏈視為通過(guò)測(cè)試,如果在加熱電流施加的測(cè)試時(shí)間內(nèi),孔鏈的溫度上升速度變化比率超過(guò)設(shè)定的閥值,則孔鏈視為不通過(guò)測(cè)試,如果根據(jù)溫度上升速度變化比率判斷孔鏈?zhǔn)欠袷?,則在步驟2至步驟3中檢測(cè)孔鏈的溫度和溫度上升速度和計(jì)算變化比率并判斷是否孔鏈?zhǔn)?,如果失效可以選擇終止測(cè)試或繼續(xù)測(cè)試,
針對(duì)某一型號(hào)PCB的某一種孔鏈,其批量測(cè)試所設(shè)定的加熱電流值通過(guò)抽樣的測(cè)試方法測(cè)得,抽樣測(cè)試方法包括如下步驟:
步驟一,設(shè)置測(cè)試參數(shù),
設(shè)定升溫測(cè)試時(shí)間,升溫測(cè)試時(shí)間窗口,測(cè)試溫度下限和測(cè)試溫度上限,如批量測(cè)試時(shí)進(jìn)行步驟2.1保溫階段,則還需設(shè)定保溫時(shí)間;
步驟二,升溫階段,
在抽樣的孔鏈上施加一預(yù)設(shè)的嘗試加熱電流,如果孔鏈溫度在該設(shè)定的升溫測(cè)試時(shí)間窗口內(nèi)達(dá)到設(shè)定的測(cè)試溫度下限,則進(jìn)入下一步驟,如果抽樣的孔鏈的溫度未在該設(shè)定的升溫測(cè)試時(shí)間窗口內(nèi)達(dá)到設(shè)定的測(cè)試溫度下限,則調(diào)整嘗試加熱電流后,重復(fù)本步驟,直到孔鏈溫度在該設(shè)定的升溫測(cè)試時(shí)間窗口內(nèi)達(dá)到設(shè)定的測(cè)試溫度下限;
步驟三,保溫階段,進(jìn)入保溫階段后,繼續(xù)施加加熱電流,如果抽樣的孔鏈溫度在該設(shè)定的保溫時(shí)間內(nèi)未超過(guò)測(cè)試溫度上限并且未低于測(cè)試溫度下限,則初步選擇該電流值作為該型號(hào)的該種孔鏈的加熱電流值,如果抽樣的孔鏈溫度在該設(shè)定的保溫時(shí)間內(nèi)超過(guò)測(cè)試溫度上限或低于測(cè)試溫度下限,則調(diào)整嘗試加熱電流,重復(fù)步驟二至步驟三,直到抽樣的孔鏈溫度在該設(shè)定的保溫時(shí)間內(nèi)未超過(guò)測(cè)試溫度上限并且未低于測(cè)試溫度下限,如批量測(cè)試時(shí)不進(jìn)行步驟2.1保溫階段,則可以不進(jìn)行本步驟;
步驟四,測(cè)試其他所有抽樣樣品,
批量測(cè)試時(shí)進(jìn)行步驟2.1保溫階段時(shí),對(duì)所有抽樣樣品進(jìn)行步驟二和步驟三,直到所有的抽樣孔鏈在某加熱電流下,在設(shè)定的升溫測(cè)試時(shí)間窗口內(nèi)達(dá)到設(shè)定的測(cè)試溫度下限,在設(shè)定的保溫時(shí)間內(nèi)未超過(guò)測(cè)試溫度上限并且未低于測(cè)試溫度下限,則最終選擇該電流值作為該型號(hào)的該種孔鏈的加熱電流值;批量測(cè)試時(shí)不進(jìn)行步驟2.1保溫階段時(shí),對(duì)所有抽樣樣品進(jìn)行步驟二,直到所有的抽樣孔鏈在某加熱電流下,在設(shè)定的升溫測(cè)試時(shí)間窗口內(nèi)達(dá)到設(shè)定的測(cè)試溫度下限,則最終選擇該電流值作為該型號(hào)的該種孔鏈的加熱電流值。
2.一種用于實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1所述的PCB互聯(lián)可靠性測(cè)試方法的測(cè)試裝置,其包括:電源模塊、測(cè)試模塊、控制模塊,和顯示及輸入模塊,
所述電源模塊,通過(guò)電纜以及連接器與測(cè)試樣品連接,用于提供測(cè)試電流,對(duì)樣品進(jìn)行加熱,通過(guò)電纜與控制模塊連接,接受控制模塊的控制指令,其輸出的電流和電壓可以被控制模塊讀取;
所述測(cè)試模塊,通過(guò)電纜以及連接器與測(cè)試樣品連接,用于測(cè)量樣品的溫度和電阻,通過(guò)電纜與控制模塊連接,接受控制模塊的控制指令,并將測(cè)試數(shù)據(jù)傳輸至控制模塊;
所述控制模塊,通過(guò)電纜與電源模塊,測(cè)量模塊和顯示及輸入模塊連接,用于發(fā)出控制指令控制其模塊,并接受其他模塊的信號(hào)和數(shù)據(jù),進(jìn)行數(shù)據(jù)處理;
所述顯示及輸入模塊,將測(cè)試過(guò)程中數(shù)據(jù)和圖表顯示輸出,輸入測(cè)試設(shè)置。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
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