[發明專利]一種量子密鑰分配系統及其反饋校正系統

有效

• 申請號: 202010076339.5
• 申請日: 2020-01-23
• 公開（公告）號: CN113162757B
• 公開（公告）日: 2022-08-16
• 發明（設計）人: 劉鵬;湯艷琳
• 申請（專利權）人: 科大國盾量子技術股份有限公司;上海國盾量子信息技術有限公司
• 主分類號: H04L9/08
• 分類號: H04L9/08;H04B10/70;H04B10/572;H04B10/50;H04B10/548
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 楊華

1.一種反饋校正系統，其特征在于，包括第一分束器、分子吸收池、第一探測器和第一控制模塊；

所述第一分束器用于將第一激光器出射的信號光分成光路不同的第一信號光和第二信號光，并將所述第一信號光傳輸至所述分子吸收池；

所述分子吸收池用于對所述第一信號光進行吸收；

所述第一探測器用于探測經過所述分子吸收池吸收后的所述第一信號光的實際透射光功率；

所述第一控制模塊用于將所述第一信號光的實際透射光功率與參考點的實際透射光功率進行比較得到所述第一信號光的實際透射光功率比值，將所述第一信號光的實際透射光功率比值與第一信號光的標準透射光功率比值進行比較，獲得第一功率漂移量，根據所述第一功率漂移量以及預先獲得的透射光功率比值與激光器波長校正參數的對應關系獲得第一校正量，并根據所述第一校正量對所述第一激光器進行波長校正。

2.根據權利要求1所述的校正系統，其特征在于，還包括第二激光器、第二分束器、第一環形器、第二環形器、第二探測器和第二控制模塊，所述第二激光器為連續光激光器；

所述第二分束器用于將所述第二激光器出射的參考光分成光路不同的第一參考光和第二參考光，并將所述第一參考光傳輸至所述第一環形器；

所述第一環形器用于將所述第一參考光傳輸至所述分子吸收池，以使所述分子吸收池對所述第一參考光進行吸收；所述第一環形器還用于將所述分子吸收池出射的經過吸收后的第一信號光傳輸至所述第一探測器；

所述第二環形器用于將所述分子吸收池出射的經過吸收后的第一參考光傳輸至所述第二探測器，以及，將所述第一分束器出射的第一信號光傳輸至所述分子吸收池；

所述第二探測器用于探測經過所述分子吸收池吸收后的所述第一參考光的實際透射光功率；

所述第二控制模塊用于將所述第一參考光的實際透射光功率與所述參考點的實際透射光功率進行比較得到所述第一參考光的實際透射光功率比值，將所述第一參考光的實際透射光功率比值與所述第一參考光的標準透射光功率比值進行比較，獲得第二功率漂移量，根據所述第二功率漂移量以及預先獲得的透射光功率比值與激光器波長校正參數的對應關系獲得第二校正量，并根據所述第二校正量對所述第二激光器進行波長校正。

3.根據權利要求2所述的校正系統，其特征在于，還包括干涉儀和第三探測器；

所述第二分束器還用于將所述第二參考光傳輸至所述干涉儀；

所述干涉儀用于根據所述第二參考光產生具有相位差的兩束連續光，并獲得發生干涉后的所述兩束連續光的第一干涉光；

所述第三探測器用于探測所述第一干涉光的實際光功率；

所述第二控制模塊還用于將所述第一干涉光的實際光功率與第二標準光功率進行比較，獲得第三功率漂移量，根據所述第三功率漂移量以及預先獲得的光功率與干涉儀移相器驅動電壓的對應關系獲得第一電壓校正量，并將所述第一電壓校正量傳輸至所述干涉儀移相器，以使所述干涉儀根據所述第一電壓校正量對所述相位差進行校正。

4.根據權利要求3所述的校正系統，其特征在于，所述第一分束器還用于將所述第二信號光傳輸至所述干涉儀；

所述干涉儀還用于根據所述第二信號光產生具有固定時間差的兩個脈沖，以對所述兩個脈沖進行時間相位編碼。

5.根據權利要求2所述的校正系統，其特征在于，還包括干涉儀、第三環形器、第三探測器和第四探測器；

所述干涉儀用于根據所述第二參考光產生具有相位差的兩束連續光，并獲得發生干涉后的所述兩束連續光的第一干涉光和第二干涉光；

所述第三探測器用于探測所述第一干涉光的實際光功率；

所述第三環形器用于將所述第二干涉光傳輸至所述第四探測器；

所述第四探測器用于探測所述第二干涉光的實際光功率；

所述第二控制模塊還用于將所述第三探測器輸出的實際光功率與所述第四探測器輸出的實際光功率進行比較獲得第一實際光功率比值，將所述第一實際光功率比值與第一光功率比值進行比較獲得第一功率比漂移量，根據所述第一功率比漂移量以及預先獲得的光功率比值與干涉儀驅動電壓的對應關系獲得第二電壓校正量，并將所述第二電壓校正量傳輸至所述干涉儀，以使所述干涉儀根據所述第二電壓校正量對所述相位差進行校正。