[發(fā)明專利]一種深度應(yīng)力檢測用電磁超聲激勵裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010075726.7
• 申請日: 2020-01-22
• 公開（公告）號: CN111157628A
• 公開（公告）日: 2020-05-15
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張闖;魏琦;劉素貞;楊慶新
• 申請（專利權(quán)）人: 河北工業(yè)大學(xué)
• 主分類號: G01N29/24
• 分類號: G01N29/24;G01N29/04;G01N29/07;G01N29/28;G01N29/34;G01L5/00;G01L1/25
• 代理公司: 天津翰林知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 12210
• 代理人: 王瑞

1.一種深度應(yīng)力檢測用電磁超聲激勵裝置，其特征在于該裝置包括支撐體、永磁體、入射楔塊和印刷電路板；

所述支撐體由激勵介質(zhì)底板、永磁體放置架和連接擋板組成；激勵介質(zhì)底板的左右兩側(cè)設(shè)置有永磁體放置架；兩個永磁體放置架之間設(shè)置有連接擋板，用于連接兩個永磁體放置架并對永磁體放置架中的永磁體進行限位同時起到聚磁作用；兩個永磁體放置架內(nèi)部各自放置有一個永磁體；兩個永磁體的對應(yīng)位置的磁極的極性相反，通過異性相吸作用將兩個永磁體吸向中間并通過連接擋板進行限位，從而固定在永磁體放置架內(nèi)；

所述印刷電路板的一面上印刷有激勵線圈；印刷電路板以印刷有激勵線圈的一面向下的方式固定到支撐體內(nèi)，使得激勵線圈與激勵介質(zhì)底板的上表面正對；入射楔塊的上表面與激勵介質(zhì)底板的下表面連接；測試時，入射楔塊的上表面與激勵介質(zhì)底板的下表面之間涂抹有耦合介質(zhì)；入射楔塊的前表面制有波紋槽，用于消除在入射楔塊內(nèi)的反射縱波；入射楔塊的上表面與下表面之間具有根據(jù)斯涅耳定律計算得到的第一臨界角的角度相同的傾斜角。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的深度應(yīng)力檢測用電磁超聲激勵裝置，其特征在于激勵線圈與激勵介質(zhì)底板的上表面接觸。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的深度應(yīng)力檢測用電磁超聲激勵裝置，其特征在于激勵介質(zhì)底板設(shè)置有通透的入射楔塊固定槽，入射楔塊固定槽的位置與激勵線圈不重合；入射楔塊的上表面設(shè)置有凸起，與入射楔塊固定槽配合，實現(xiàn)連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的深度應(yīng)力檢測用電磁超聲激勵裝置，其特征在于激勵介質(zhì)底板設(shè)置有左右兩個通透的入射楔塊固定槽，兩個入射楔塊固定槽距離大于激勵線圈的寬度；入射楔塊的上表面的左右兩側(cè)中心位置各設(shè)置有一個凸起，與各自的入射楔塊固定槽配合。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的深度應(yīng)力檢測用電磁超聲激勵裝置，其特征在于激勵介質(zhì)底板與永磁體放置架之間設(shè)置有印刷電路板固定槽；印刷電路板以印刷有激勵線圈的一面向下的方式從印刷電路板固定槽插入并固定到支撐體內(nèi)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的深度應(yīng)力檢測用電磁超聲激勵裝置，其特征在于所述激勵線圈由激發(fā)區(qū)和連通區(qū)構(gòu)成，激發(fā)區(qū)通過連通區(qū)連接形成激勵線圈；所述激發(fā)區(qū)采用平行排列的導(dǎo)線；激發(fā)區(qū)位于兩個永磁體之間；激發(fā)區(qū)的水平長度不大于入射楔塊的上表面的水平長度。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的深度應(yīng)力檢測用電磁超聲激勵裝置，其特征在于激發(fā)區(qū)與兩個永磁體的距離相同且激發(fā)區(qū)的中線與兩個永磁體的中線共線。

8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的深度應(yīng)力檢測用電磁超聲激勵裝置，其特征在于激發(fā)區(qū)的豎直長度不小于入射楔塊的上表面的豎直長度，使得連通區(qū)和印刷電路板上的焊孔均位于入射楔塊的上表面的范圍外。

9.根據(jù)權(quán)利要求1或6所述的深度應(yīng)力檢測用電磁超聲激勵裝置，其特征在于所述激勵線圈的形狀為長圓形或矩形。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的深度應(yīng)力檢測用電磁超聲激勵裝置，其特征在于所述印刷電路板設(shè)置有焊孔；焊孔分別與激勵線圈的進出端以及外部激勵源相連。