[發明專利]閃爍體像素陣列、檢測器子模塊、模塊、檢測器及CT設備在審
| 申請號: | 202010075490.7 | 申請日: | 2020-01-22 |
| 公開(公告)號: | CN111281406A | 公開(公告)日: | 2020-06-16 |
| 發明(設計)人: | 李雙學;樓珊珊;于軍;王鳳晨 | 申請(專利權)人: | 東軟醫療系統股份有限公司 |
| 主分類號: | A61B6/00 | 分類號: | A61B6/00;A61B6/03 |
| 代理公司: | 北京博思佳知識產權代理有限公司 11415 | 代理人: | 靳玫 |
| 地址: | 110167 遼寧*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 閃爍 像素 陣列 檢測器 模塊 ct 設備 | ||
本申請公開一種閃爍體像素陣列、檢測器子模塊、模塊、檢測器及CT設備。該閃爍體像素陣列用于接收CT主機的X射線源發出的經掃描對象衰減后的射線,包括多個閃爍體像素。每個閃爍體像素是由頂表面、與頂表面相對的底表面以及與頂表面和底表面連接的側表面構成的多面體。相鄰的閃爍體像素相應的側表面構成間隔,構成所述間隔的側表面與通過其表面的X射線重合,使得射向該間隔的射線束中的射線全部穿過該間隔,這樣,射線束的射線不會與構成該間隔的側表面相交,因此,射線不會穿過閃爍體像素后進入與之相鄰的另一個閃爍體像素,從而,避免相鄰閃爍體像素間由射線串擾導致視差串擾信號的問題,不會產生圖像噪聲和偽影,提高了圖像質量。
技術領域
本申請涉及醫療技術領域,尤其涉及閃爍體像素陣列、檢測器子模塊、模塊、檢測器及CT設備。
背景技術
電子計算機斷層掃描設備(CT,Computed Tomography)包括X射線源和探測器(也叫檢測器)。X射線源發出X射線,該X射線穿過人體產生衰減。探測器接受衰減后的X射線并處理,得到人體的斷層圖像。其中,檢測器包括多個檢測器模塊,每個檢測器模塊包括多個檢測器子模塊,每個檢測器子模塊包括閃爍體像素陣列,以便將X射線轉化,以便進一步處理。基于該成像機理可知,為保證所得到的人體斷層圖像上各位置信息清晰且準確,成像系統要求每個閃爍體像素在整個成像過程中盡可能不受到周圍環境和相鄰閃爍體像素間的干擾。在閃爍體將X射線轉換的過程中,該干擾實際體現為相鄰閃爍體像素泄露的X射線的干擾。
基于此,業內需求一種能避免閃爍體的相鄰閃爍體像素發生干擾的技術。
發明內容
為克服相關技術中存在的部分或者所有問題,本申請提供一種閃爍體像素陣列。該陣列用于接收CT主機的X射線源發出的經掃描對象衰減后的射線,包括多個閃爍體像素,每個閃爍體像素是由頂表面、與頂表面相對的底表面和與相應的頂表面和底表面連接的側表面構成的多面體,相鄰的閃爍體像素相應的側表面構成間隔,構成所述間隔的側表面與通過其表面的X射線重合,使得射向該間隔的射線束中的射線全部穿過該間隔。
可選地,每個所述間隔填充有反射和吸收可見光的材料。
可選地,在該陣列中,位于同一行或者列的閃爍體像素的同一側的側表面與相應的底表面構成的夾角的角度相等,不同列的側表面所在的平面相交于同一直線,且該直線穿過所述X射線源的焦點中心;不同行的側表面所在的平面相交于同一直線,且該直線穿過所述X射線源的焦點中心。
可選地,所述陣列的行和列按照第一行列特征排列,或者,按照第一行列特征和第二行列特征排列,其中,所述第一行列特征為:同一行上不同列或者同一列上不同行的閃爍體像素同一側的側表面和底表面構成的夾角根據穿過該側表面構成的間隔的射線束的角度,自該行或列的兩側邊緣向該行或列的中間位置逐漸趨近90度;所述第二行列特征為:同一行上不同列或者同一列上不同行的閃爍體像素同一側的側表面和底表面構成的夾角根據穿過該側表面構成的間隔的射線束的角度,自該行或列的一側邊緣向該行或列的另一側邊緣逐漸增大或者減小。
另一方面,本申請還公開一種檢測器子模塊,該檢測器子模塊包括閃爍體像素陣列,該閃爍體像素陣列的頂表面構成檢測器子模塊的頂表面,該像素陣列的行和列在CT旋轉系統的Z向和X向按照所述第一行列特征排列,該陣列構成的檢測器子模塊作為第一檢測器子模塊;或者,所述閃爍體像素陣列在CT旋轉系統的Z向按照所述第二行列特征排列,在X向按照所述第一行列特征排列,該陣列構成的檢測器子模塊作為第二檢測器子模塊。
另一方面,本申請還公開另一種檢測器模塊。所述檢測器模塊包括支架和安裝于支架的多個檢測器子模塊,該多個檢測器子模塊的頂表面沿CT主機的CT旋轉系統的Z向弧形排列且包括至少一個所述的第一檢測器子模塊。
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