[發(fā)明專利]手機缺陷位置識別方法及設備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010074751.3
• 申請日: 2020-01-21
• 公開（公告）號: CN111311556B
• 公開（公告）日: 2023-02-03
• 發(fā)明（設計）人: 常樹林;陳敏
• 申請（專利權）人: 上海萬物新生環(huán)保科技集團有限公司
• 主分類號: G06T7/73
• 分類號: G06T7/73;G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/62
• 代理公司: 上海百一領御專利代理事務所(普通合伙) 31243
• 代理人: 汪祖樂;邵棟

本發(fā)明的目的是提供一種手機缺陷位置識別方法及設備，本發(fā)明通過拍攝待檢測手機的屏幕照片，從所述屏幕照片中識別出所述待檢測手機的屏幕缺陷，然后確定所述屏幕缺陷的平面像素坐標，接著基于預設空間轉換公式，將屏幕缺陷的平面像素坐標轉換為三維坐標，可以準確、高效的定位出屏幕缺陷的三維坐標位置。

技術領域

本發(fā)明涉及計算機領域，尤其涉及一種手機缺陷位置識別方法及設備。

背景技術

手機回收中，需要對手機屏幕是否存在缺陷進行檢測。但現有的檢測方案存在屏幕缺陷檢測不準的問題。

發(fā)明內容

本發(fā)明的一個目的是提供一種手機缺陷位置識別方法及設備。

根據本發(fā)明的一個方面，提供了一種手機缺陷位置識別方法，該方法包括：

拍攝待檢測手機的屏幕照片，從所述屏幕照片中識別出所述待檢測手機的屏幕缺陷；

確定所述屏幕缺陷的平面像素坐標；

基于預設空間轉換公式，將屏幕缺陷的平面像素坐標轉換為三維坐標；

其中，拍攝待檢測手機的屏幕照片，從所述屏幕照片中識別出所述待檢測手機的屏幕缺陷，包括：

確定待檢測手機的屏幕的輪廓位置；

控制屏幕顯示低于預設曝光值的滿屏黃色的圖像，基于屏幕的輪廓位置，拍攝黃色屏幕圖像；

控制屏幕顯示高于預設曝光值的滿屏黑色的圖像，基于屏幕的輪廓位置，拍攝黑色屏幕圖像；

將所述黃色屏幕圖像輸入卷積神經網絡，提取到所述黃色屏幕圖像對應的圖像特征；將所述黑色屏幕圖像輸入卷積神經網絡，提取到所述黑色屏幕圖像對應的圖像特征；

分別基于所述黃色屏幕圖像和黑色屏幕圖像對應的圖像特征，得到所述黃色屏幕圖像和黑色屏幕圖像中的目標類別為劃痕紋類別和碎裂紋類別的目標候選框。

進一步的，上述方法中，基于預設空間轉換公式，將屏幕缺陷的平面像素坐標轉換為三維坐標之前，還包括：

控制檢測設備的軸分別點擊待檢測手機的屏幕上的非直線的多個點，對應記錄每個點的點擊位置的三維坐標和屏幕感應到的對應的平面像素坐標；

基于每個點的點擊位置的軸坐標和對應的平面像素坐標，得到所述預設空間轉換公式。

進一步的，上述方法中，分別基于所述黃色屏幕圖像和黑色屏幕圖像對應的圖像特征，得到所述黃色屏幕圖像和黑色屏幕圖像中，目標類別為劃痕紋類別和碎裂紋類別的目標候選框，包括：

基于所述黃色屏幕圖像對應的圖像特征，并通過FPN方法，得到對應的所述黃色屏幕圖像對應的不同尺度的多層特征層；基于所述黑色屏幕圖像對應的圖像特征和黑色屏幕圖像對應的圖像特征，并通過FPN方法，得到對應的所述黑色屏幕圖像對應的不同尺度的多層特征層；

通過RPN網絡在所述黃色屏幕圖像對應的不同尺度的多層特征層進行所述黃色屏幕圖像中的目標候選框的提取，并預設所述黃色屏幕圖像中的每個目標候選框存在劃痕紋和碎裂紋的概率值；通過RPN網絡在所述黑色屏幕圖像對應的不同尺度的多層特征層進行所述黑色屏幕圖像中的目標候選框的提取，并預設所述黑色屏幕圖像中的每個目標候選框存在劃痕紋和碎裂紋的概率值；

選取概率值較大的所述黃色屏幕圖像中的前預設個數的目標候選框；選取概率值較大的所述黑色屏幕圖像中的前預設個數的目標候選框；