[發(fā)明專利]手機缺陷位置識別方法及設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010074696.8
• 申請日: 2020-01-21
• 公開（公告）號: CN111325717B
• 公開（公告）日: 2023-08-29
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 常樹林;陳敏
• 申請（專利權(quán)）人: 上海萬物新生環(huán)保科技集團有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/136;G06T7/13;G06T7/70
• 代理公司: 上海百一領(lǐng)御專利代理事務(wù)所(普通合伙) 31243
• 代理人: 汪祖樂;邵棟

本發(fā)明的目的是提供一種手機缺陷位置識別方法及設(shè)備，本發(fā)明通過拍攝待檢測手機的屏幕照片，從所述屏幕照片中識別出所述待檢測手機的屏幕缺陷，然后確定所述屏幕缺陷的平面像素坐標，接著基于預(yù)設(shè)空間轉(zhuǎn)換公式，將屏幕缺陷的平面像素坐標轉(zhuǎn)換為三維坐標，可以準確、高效的定位出屏幕缺陷的三維坐標位置。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及計算機領(lǐng)域，尤其涉及一種手機缺陷位置識別方法及設(shè)備。

背景技術(shù)

手機回收中，需要對手機屏幕是否存在缺陷進行檢測。但現(xiàn)有的檢測方案存在屏幕缺陷檢測不準的問題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的一個目的是提供一種手機缺陷位置識別方法及設(shè)備。

根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供了一種手機缺陷位置識別方法，該方法包括：

拍攝待檢測手機的屏幕照片，從所述屏幕照片中識別出所述待檢測手機的屏幕缺陷；

確定所述屏幕缺陷的平面像素坐標；

基于預(yù)設(shè)空間轉(zhuǎn)換公式，將屏幕缺陷的平面像素坐標轉(zhuǎn)換為三維坐標；

其中，基于預(yù)設(shè)空間轉(zhuǎn)換公式，將屏幕缺陷的平面像素坐標轉(zhuǎn)換為三維坐標之前，還包括：

控制檢測設(shè)備的軸分別點擊待檢測手機的屏幕上的非直線的多個點，對應(yīng)記錄每個點的點擊位置的三維坐標和屏幕感應(yīng)到的對應(yīng)的平面像素坐標；

基于每個點的點擊位置的軸坐標和對應(yīng)的平面像素坐標，得到所述預(yù)設(shè)空間轉(zhuǎn)換公式。

進一步的，上述方法中，拍攝待檢測手機的屏幕照片，從所述屏幕照片中識別出所述待檢測手機的屏幕缺陷，包括：

將屏幕亮屏顯示為白底畫面；

拍攝包括所述白底畫面的屏幕照片；

從所述屏幕照片中識別出所述白底畫面的邊界，將所述邊界作為所述屏幕的輪廓；

將屏幕亮屏顯示為滿屏黃色畫面，并控制光源照亮顯示為滿屏黃色畫面的屏幕區(qū)域；

拍攝包含顯示為滿屏黃色畫面的屏幕區(qū)域的第一照片；

將屏幕亮屏顯示為滿屏白色畫面，并控制光源照亮顯示為滿屏白色畫面的屏幕區(qū)域；

拍攝包含顯示為滿屏白色畫面的屏幕區(qū)域的第二照片；

檢測所述第一照片或第二照片中所述屏幕的輪廓所圍成的范圍內(nèi)是否存在裂紋或劃痕，若存在，判定所述屏幕存在裂紋或劃痕。

進一步的，上述方法中，從所述屏幕照片中識別出所述白底畫面的邊界，將所述邊界作為所述屏幕的輪廓，包括：

將所述屏幕照片轉(zhuǎn)換為灰度圖片；

指定預(yù)設(shè)像素閾值T1對所述灰度圖片進行分割，其中，將所述照片中超過所述預(yù)設(shè)像素閾值T1的像素點的像素值設(shè)為255，將所述照片中未超過所述預(yù)設(shè)像素閾值T1的像素點的像素值設(shè)為0；

獲取所述灰度圖片中的像素值為255的各個像素點連續(xù)的區(qū)域；

計算每個像素點連續(xù)的區(qū)域中的像素點的個數(shù)，對每個像素點連續(xù)的區(qū)域進行篩選，其中，舍棄像素點的個數(shù)量小于預(yù)設(shè)個數(shù)閾值T2的像素點連續(xù)的區(qū)域，并保留像素點的個數(shù)量大于等于預(yù)設(shè)個數(shù)閾值T2的像素點連續(xù)的區(qū)域；

計算每個保留的像素點連續(xù)的區(qū)域的最小外接旋轉(zhuǎn)矩形的面積，計算每個保留的像素點連續(xù)的區(qū)域的最小外接旋轉(zhuǎn)矩形的飽滿度s，其中，飽滿度s＝某個保留的像素點連續(xù)的區(qū)域中的像素點的個數(shù)/該個保留的像素點連續(xù)的區(qū)域的最小外接旋轉(zhuǎn)矩形的面積；