[發(fā)明專利]一種測試裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010074622.4
• 申請日: 2020-01-22
• 公開（公告）號: CN111147171A
• 公開（公告）日: 2020-05-12
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 曹寶華
• 申請（專利權(quán)）人: 南京捷希科技有限公司
• 主分類號: H04B17/391
• 分類號: H04B17/391;H04B7/0413;H04B7/0452
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202
• 代理人: 郝傳鑫;賈允

1.一種測試裝置，其特征在于，包括：

波束模擬器，用于與基站連接并接收所述基站發(fā)送的激勵信號，對所述激勵信號進行幅相調(diào)節(jié)處理，并生成波束信號；

信道仿真模塊，所述信道仿真模塊與所述波束模擬器連接，所述信道仿真模塊用于對所述波束信號進行信道模擬處理并生成第一信號；

放大器組，所述放大器組與所述信道仿真模塊連接，所述放大器組用于對所述第一信號進行放大處理并生成第二信號；

暗室，所述暗室設(shè)有天線陣列，所述天線陣列與所述放大器組連接，所述天線陣列用于發(fā)射所述第二信號。

2.如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述波束模擬器與所述信道仿真模塊之間、所述信道仿真模塊與所述放大器組之間以及所述放大器組與所述暗室之間均通過穩(wěn)幅穩(wěn)相電纜連接。

3.如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，還包括轉(zhuǎn)接板，所述轉(zhuǎn)接板的第一側(cè)設(shè)有與所述基站的端口相匹配的第一接口，所述轉(zhuǎn)接板的第二側(cè)設(shè)有與所述波束模擬器的端口相匹配的第二接口，所述第一接口用于與所述基站的端口連接，所述第二接口與所述波束模擬器的端口連接。

4.如權(quán)利要求3所述的測試裝置，其特征在于，所述第一接口為SMP接口，所述第二接口為SMA接口。

5.如權(quán)利要求3所述的測試裝置，其特征在于，所述轉(zhuǎn)接板的第一接口用于插設(shè)至所述基站的端口，所述轉(zhuǎn)接板的第二接口通過穩(wěn)幅穩(wěn)相電纜與所述波束模擬器的端口連接。

6.如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述波束模擬器包括M個功分器、N個合路器和M×N的射頻模塊，所述射頻模塊設(shè)有M個第一端和N個第二端；

M個所述功分器與M個所述第一端對應(yīng)連接，所述功分器用于接收所述激勵信號，將所述激勵信號分為N個第三信號；

所述射頻模塊接收所述第三信號，并對M×N個所述第三信號進行幅相調(diào)節(jié)處理生成M×N個第四信號；

N個所述合路器與N個所述第二端對應(yīng)連接，所述合路器用于接收所述第四信號，將M×N個所述第四信號合為N個波束信號，所述合路器還與所述信道仿真模塊連接；

M為2ⁱ，N為2^j，i和j均為正整數(shù)。

7.如權(quán)利要求6所述的測試裝置，其特征在于，i為1、2、3、4、5、6、7或8，j為1、2、3、4、5、6、7或8。

8.如權(quán)利要求6所述的測試裝置，其特征在于，所述信道仿真模塊設(shè)有N個第三端和N個第四端，N個所述第三端與N個所述第二端對應(yīng)連接；

所述放大器組包括N個放大器，N個所述放大器與N個所述第四端對應(yīng)連接。

9.如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括時鐘源和觸發(fā)源；

所述時鐘源分別與所述波束模擬器和所述信道仿真模塊連接，所述時鐘源分別向所述波束模擬器和所述信道仿真模塊發(fā)送同一時鐘信號；

所述觸發(fā)源分別與所述波束模擬器和所述信道仿真模塊連接，所述觸發(fā)源分別向所述波束模擬器和所述信道仿真模塊發(fā)送同一觸發(fā)信號。

10.如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述天線陣列為環(huán)形天線陣列。