[發明專利]一種天線面材料高功率脈沖沖擊響應測試裝置

有效

• 申請號: 202010074257.7
• 申請日: 2020-01-22
• 公開（公告）號: CN111239165B
• 公開（公告）日: 2023-07-21
• 發明（設計）人: 胡祥剛;成克偉;蘇建倉;朱曉欣;李銳;程杰;滕雁;李小澤;譚維兵
• 申請（專利權）人: 西北核技術研究院
• 主分類號: G01N22/00
• 分類號: G01N22/00
• 代理公司: 西安智邦專利商標代理有限公司 61211
• 代理人: 史曉麗

本發明屬于高功率微波輻射的天線系統的測試裝置，為解決現有技術中缺少測試天線面材料對高功率微波輻射影響的測試系統的技術問題，提供一種天線面材料高功率脈沖沖擊響應測試裝置，包括高功率微波發生單元和真空罐，以及設置于真空罐內的第一耦合器、第二耦合器和支架；支架上安裝有發射喇叭、接收喇叭、測試板、第一橢球反射面和第二橢球反射面；測試板位于第一橢球反射面和第二橢球反射面相互重合的焦點處，測試板的材質與待測天線面材料相同；第一耦合器與發射喇叭固定連接，發射喇叭位于第一橢球反射面的另一個焦點上，第二耦合器與接收喇叭固定連接，接收喇叭位于第二橢球反射面的另一個焦點上。

技術領域

本發明屬于高功率微波輻射天線系統的測試裝置，具體涉及一種天線面材料高功率脈沖沖擊響應測試裝置。

背景技術

隨著高功率微波技術的不斷發展，高功率微波在多領域具有廣泛的應用前景。為了將高功率微波作用于目標，需要將高功率微波源產生的高功率微波進行輻射，天線系統是進行高功率微波輻射的關鍵系統。傳統的天線形式有很多種，但是能應用在高功率微波領域的天線形式并不多，主要是受限于天線的輻射效率、天線面材料的功率容量和天線在短脈沖下的響應特性。為了確定輻射天線，首先要尋找滿足高功率微波輻射要求的天線材料。研究表明，天線材料在特定高功率微波激勵下，由于材料二次電子發射或表面局部釋氣產生電離，會造成天線材料的反射效率下降，甚至造成材料損傷，影響天線工作性能與壽命。因此需要對天線面材料在高功率微波激勵下的表面二次電子發射特性以及反射效率特性進行測試，以確認選用的天線面材料對高功率微波輻射的影響，但目前缺乏關于天線面材料相關性能測試的系統。

發明內容

本發明的主要目的是解決現有技術中缺少測試天線面材料對高功率微波輻射影響的測試系統的技術問題，提供一種天線面材料高功率脈沖沖擊響應測試裝置。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：

一種天線面材料高功率脈沖沖擊響應測試裝置，其特殊之處在于，包括高功率微波發生單元和真空罐，以及設置于真空罐內的第一耦合器、第二耦合器和支架；

所述真空罐的內壁上設有尖劈吸波材料；

所述支架上安裝有發射喇叭、接收喇叭、測試板、第一橢球反射面和第二橢球反射面；

所述第一橢球反射面和第二橢球反射面并排設置，第一橢球反射面和第二橢球反射面有一個焦點相互重合，所述測試板位于第一橢球反射面和第二橢球反射面相互重合的焦點處，測試板的材質與待測天線面材料相同；

所述第一耦合器與發射喇叭固定連接，發射喇叭位于第一橢球反射面的另一個焦點上，發射喇叭的輸出端朝向第一橢球反射面；所述第二耦合器與接收喇叭固定連接，接收喇叭位于第二橢球反射面的另一個焦點上，接收喇叭的接收端朝向第二橢球反射面，第二耦合器上連接有微波吸收負載，所述微波吸收負載位于真空罐內；第一耦合器和第二耦合器均連接有微波測試組件，兩個微波測試組件均設置于真空罐之外，分別通過設置于真空罐上的第一穿艙法蘭、第二穿艙法蘭與第一耦合器、第二耦合器相連；

所述高功率微波發生單元向第一耦合器輸送高功率微波，第一耦合器接收高功率微波，經發射喇叭輻射至第一橢球反射面，反射后匯聚至測試板，再反射至第二橢球反射面，經反射后匯聚至接收喇叭。

進一步地，所述高功率微波發生單元通過輻射的方式注入微波，高功率微波發生單元包括微波暗室、高功率微波源和饋入喇叭；

所述微波暗室的內表面上設有尖劈吸波材料；真空罐位于微波暗室內；

所述高功率微波源的輸出端上設有輻射喇叭，所述輻射喇叭的輻射端位于微波暗室內；

所述饋入喇叭通過第一穿艙法蘭安裝于真空罐的外側，饋入喇叭與第一耦合器相連，饋入喇叭與輻射喇叭相對設置。