[發明專利]一種顯示面板的數據修復方法和裝置

有效

• 申請號: 202010074144.7
• 申請日: 2020-01-22
• 公開（公告）號: CN111145692B
• 公開（公告）日: 2020-10-23
• 發明（設計）人: 曾超;姚憲;李剛
• 申請（專利權）人: 華興源創（成都）科技有限公司
• 主分類號: G09G3/3208
• 分類號: G09G3/3208
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

本發明公開了一種顯示面板的數據修復方法和裝置。顯示面板包括平面區和彎折區，方法包括：獲取平面區的顯示數據和彎折區的顯示數據；根據平面區部分列的顯示數據計算目標顯示數據參考值；根據目標顯示數據參考值獲得彎折區的修復系數，并修復彎折區的顯示數據，使彎折區的顯示數據基準值與目標顯示數據參考值相同。從而使得彎折區的顯示數據不受彎折作用的影響。此時彎折區的顯示數據的補償基準與平面區的顯示數據的補償基準相同，在此基礎上對彎折區和平面區的顯示數據進行補償，避免了彎折區的Demura補償受到彎折作用的影響，提高了彎折區Demura補償的準確性，進而提高了顯示面板顯示的均一性。

技術領域

本發明實施例涉及顯示技術領域，尤其涉及一種顯示面板的數據修復方法和裝置。

背景技術

有機發光二極管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)顯示面板包含大量發光二極管單元，在常規OLED顯示面板的制程工藝中，因材料不純，生產工藝等原因，不同發光二極管單元的電學參數存在不均一性，進而會導致OLED顯示面板在顯示時亮度存在不均勻性。業內稱這種不均勻性為mura。通常使用外部補償法(Demura)來解決面板顯示時不均勻問題。

Demura補償時，主要包括數據采集和補償數據產生兩個步驟。對有彎折的OLED顯示面板，進行數據采集的時候，在彎折區沿平面區指向彎折區的方向，所采集到的亮度逐漸變暗。當直接用這樣的數據對彎折區進行補償時，會出現補償不準確的問題。

發明內容

本發明提供一種顯示面板的數據修復方法和裝置，以實現對顯示面板彎折區的像素的發光亮度的補償，從而提高了顯示面板彎折區和平面區的顯示均一性。

第一方面，本發明實施例提供了一種顯示面板的數據修復方法，其特征在于，所述顯示面板包括平面區和彎折區，所述方法包括：

獲取所述平面區顯示數據和所述彎折區顯示數據；

根據所述平面區部分列的顯示數據計算所述彎折區的目標顯示數據參考值；

根據所述彎折區的目標顯示數據參考值獲得所述彎折區的修復系數，并修復所述彎折區的顯示數據，使所述彎折區的顯示數據基準值與所述目標顯示數據參考值相同。

可選地，根據所述平面區部分列的顯示數據計算所述彎折區的目標顯示數據參考值，包括：

根據所述平面區靠近所述彎折區的部分列的顯示數據，計算所述彎折區的目標顯示數據參考值。

可選地，根據所述平面區部分列的顯示數據計算所述彎折區的目標顯示數據參考值，包括：

將所述平面區部分列的顯示數據按行劃分為多個行區域；每個所述平面區的行區域包括多行所述平面區的顯示數據；

計算每個所述平面區的行區域中顯示數據的平均值；并將所述平均值作為所述平面區的行區域對應的彎折區的目標顯示數據參考值。

可選地，計算每個所述平面區的行區域中顯示數據的平均值，包括：

計算每個所述平面區的行區域中每列顯示數據的平均值；

根據所述平面區中每列顯示數據的平均值，計算對應行區域中沿行方向的顯示數據的平均值，作為每個所述平面區的行區域中顯示數據的平均值。

可選地，根據所述平面區部分列的顯示數據計算對應的彎折區目標顯示數據參考值，還包括：

將所述彎折區的顯示數據按行劃分為多個行區域；每個所述彎折區的行區域的行數與所述平面區的行區域的行數相等；

計算每個所述彎折區的行區域中每列顯示數據的平均值。