[發明專利]OCT成像系統、電子設備和機器可讀存儲介質

有效

• 申請號: 202010073479.7
• 申請日: 2020-01-22
• 公開（公告）號: CN111257282B
• 公開（公告）日: 2022-11-15
• 發明（設計）人: 王玲;彭世昌;王中昆;徐銘恩
• 申請（專利權）人: 杭州捷諾飛生物科技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/45
• 分類號: G01N21/45;G01N21/01;G06T11/00
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 張欣欣

1.一種OCT成像系統，其特征在于，所述OCT成像系統用于對被測樣品的原始干涉信號進行處理；所述OCT成像系統還用于對探頭掃描所述被測樣品得到的B-Scan圖像進行處理；所述OCT成像系統包括掃頻OCT技術構建的OCT成像系統、譜域OCT技術構建的OCT成像系統或時域OCT技術構建的OCT成像系統；

所述OCT成像系統包括主機箱、探頭、處理模塊；所述主機箱分別與所述探頭和所述處理模塊連接；

所述主機箱控制所述探頭掃描所述被測樣品，采集所述被測樣品的掃描數據；所述處理模塊用于生成控制信息、校準所述探頭和處理所述掃描數據；

所述探頭包括光纖準直器、第一振鏡、第一透鏡、反射鏡、第二透鏡、第二振鏡和物鏡；

所述主機箱用于為所述探頭提供光源；所述光纖準直器用于對所述光源發出的光束進行準直，并發射至所述第一振鏡；所述第一振鏡用于偏轉所述光束的方向，以使所述光束進入所述第一透鏡；所述第一透鏡用于聚焦所述光束，通過所述反射鏡使所述光束進入所述第二透鏡；所述第二透鏡用于聚焦所述光束，并發射至所述第二振鏡，所述第二振鏡用于偏轉所述光束的方向，通過所述物鏡照射在被測樣品上；

所述OCT成像系統還用于對所述探頭中的振鏡進行校準；所述OCT成像系統通過以下方式校準所述第一振鏡和所述第二振鏡：

在所述OCT成像系統的光源開啟狀態下，對所述第一振鏡進行校準，獲取所述第一振鏡的第一零位電壓；

對所述第二振鏡進行校準，獲取所述第二振鏡的第二零位電壓；

所述OCT成像系統還用于：

設置所述第一振鏡的第一零位電壓為預設的第一初始零位電壓；

控制所述第一振鏡進行X軸方向的B-Scan掃描，所述第二振鏡靜止，采集所述X軸方向的B-Scan數據；

分析所述X軸方向的B-Scan數據，得到第一光程差；

判斷所述第一光程差是否對稱；

如果不對稱，調整所述第一零位電壓，重復執行控制所述第一振鏡進行X軸方向的B-Scan掃描的步驟，直至所述第一光程差對稱；

獲取所述第一零位電壓；

如果所述OCT成像系統為掃頻OCT成像系統，所述掃頻OCT成像系統通過以下方式對被測樣品的原始干涉信號進行處理：

獲取所述被測樣品的原始干涉信號和數值補償數據；

對所述原始干涉信號進行處理，得到所述原始干涉信號的原始相位信號；

根據所述數值補償數據，對所述原始相位信號進行處理，得到數值補償后的干涉信號；

對所述數值補償后的干涉信號進行處理，得到數值補償后的A-Scan信號；

所述掃頻OCT成像系統還用于：

在被測樣品為平面鏡的狀態下，調節所述OCT成像系統中的延時線，以獲取多個光程差對應的多個第一干涉信號；

對所述多個第一干涉信號分別進行加窗和去直流項，得到多個第二干涉信號；

對所述多個第二干涉信號進行希爾伯特變換和相位解纏，得到與所述多個第二干涉信號對應的多個相位信號；

對所述多個相位信號進行線性擬合，得到線性擬合相位信號；

根據所述線性擬合相位信號，對所述多個相位信號分別進行處理，得到與所述多個光程差分別對應的多個相位差信號；

對所述多個相位差信號進行加權平均，得到所述數值補償數據。

2.根據權利要求1所述的OCT成像系統，其特征在于，所述OCT成像系統還用于：

設置所述第二振鏡的第二零位電壓為預設的第二初始零位電壓；

控制所述第二振鏡進行Ｙ軸方向的B-Scan掃描，所述第一振鏡靜止，采集所述Ｙ軸方向的B-Scan數據；

分析所述Ｙ軸方向的B-Scan數據，得到第二光程差；

判斷所述第二光程差是否對稱；

如果不對稱，調整所述第二零位電壓，重復執行控制所述第二振鏡進行Ｙ軸方向的B-Scan掃描的步驟，直至所述第二光程差對稱；

獲取所述第二零位電壓。

3.根據權利要求1所述的OCT成像系統，其特征在于，所述掃頻OCT成像系統還用于：

對所述原始干涉信號進行加窗和去直流項，得到第三干涉信號；

對所述第三干涉信號進行希爾伯特變換和相位解纏，得到所述原始干涉信號的原始相位信號。