[發明專利]一種基于移動觸發閾方法評價SiPM探測器的方法

在審

• 申請號: 202010071950.9
• 申請日: 2020-01-21
• 公開（公告）號: CN111257919A
• 公開（公告）日: 2020-06-09
• 發明（設計）人: 郭維新;吳和宇
• 申請（專利權）人: 江蘇賽諾格蘭醫療科技有限公司
• 主分類號: G01T1/24
• 分類號: G01T1/24
• 代理公司: 北京易捷勝知識產權代理事務所(普通合伙) 11613
• 代理人: 齊勝杰

1.一種基于移動觸發閾方法評價SiPM探測器的方法，其特征在于，所述SiPM探測器連接一觸發裝置和計數裝置，所述計數裝置連接一分析裝置，所述方法包括：

S1、將SiPM探測器置于避光環境中，連續調整觸發裝置，獲取所述觸發裝置中各觸發閾值對應的本底計數率；

S2、采用所述分析裝置對所述本底計數率進行處理，獲取處理后的用于評價SiPM探測器的評價信息。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟S2包括：

采用所述分析裝置對所述本底計數率進行微分處理，來分析本底脈沖幅度分布規律，獲取用于評價SiPM探測器的評價信息；

所述評價信息包括：

用于評價SiPM本底噪聲水平的結合脈沖幅度的本底脈沖計數率；

用于評價單光子脈沖幅度信息的微分譜中相鄰峰位之差；

用于評價SiPM串擾性能的微分譜中多像素脈沖計數占總計數的比值。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟S1中的本底計數率包括：

原始的未經校正的第一本底計數率、結合觸發裝置和計數裝置固有的系統死時間做過校正的第二本底計數率。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

根據所述評價信息對所述SiPM探測器的探測結果進行校正；

或者，根據所述評價信息對所述SiPM探測器的探測結果進行預警。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，SiPM探測器包括：

將SiPM作為核心器件的光探測器和將SiPM作為核心光電轉換器件并耦合了閃爍體的輻射探測器。

6.一種用于評價SiPM探測器性能的性能評價電路，其特征在于，包括：

連接SiPM探測器的觸發裝置，所述觸發裝置用于產生可變觸發閾并獲取處于避光條件下的SiPM探測器在不同觸發閾值下的觸發事件；

連接SiPM探測器的計數裝置，用于統計所述SiPM探測器的觸發事件的本底計數，獲取本底計數率；

連接計數裝置的分析裝置，用于對所述本底計數率進行處理，獲取處理后的用于評價SiPM探測器的評價信息。

7.根據權利要求6所述的性能評價電路，其特征在于，所述觸發裝置包括：用于連接SiPM探測器的前置放大器、成形放大器和AD轉換器、使用數字電位器的觸發電路；

所述前置放大器、成形放大器、AD轉換器與所述觸發電路依次連接；

或者，

所述觸發裝置包括：用于連接SiPM探測器的前置放大器和AD轉換器、使用數字電位器的觸發電路；

所述前置放大器、AD轉換器與所述觸發電路依次連接。

8.根據權利要求7所述的性能評價電路，其特征在于，所述觸發電路中使用數字電位器調整觸發閾值范圍是由經過前置放大器放大后的單光子信號大小確定。

9.根據權利要求7所述的性能評價電路，其特征在于，經過所述前置放大器放大后的單光子信號為0.5V以上。