[發(fā)明專利]LED支架缺陷檢測(cè)及剔除設(shè)備

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010070720.0
• 申請(qǐng)日: 2020-01-21
• 公開（公告）號(hào): CN111162030A
• 公開（公告）日: 2020-05-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 薛春花;陳潤(rùn)康;鐘建平;林淼;張春平;劉志永;陳志列
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 研祥智能科技股份有限公司;研祥智慧物聯(lián)科技有限公司
• 主分類號(hào): H01L21/67
• 分類號(hào): H01L21/67;B07C5/34;B07C5/342
• 代理公司: 北京蘭亭信通知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11667
• 代理人: 趙永剛

本發(fā)明提供一種LED支架缺陷檢測(cè)及剔除設(shè)備。LED支架缺陷檢測(cè)及剔除設(shè)備包括：機(jī)柜、限位軌道、缺陷檢測(cè)裝置和缺陷剔除裝置，缺陷檢測(cè)裝置包括：相機(jī)鏡頭和計(jì)算模塊，相機(jī)鏡頭位于限位軌道的上方，相機(jī)鏡頭的拍攝方向朝向料帶，以獲取料帶的圖像，計(jì)算模塊與相機(jī)鏡頭通信連接，計(jì)算模塊用于判斷料帶是否存在缺陷顆粒；缺陷剔除裝置包括：剔除模組和剔除驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)；限位軌道包括：進(jìn)料口和出料口，料帶通過(guò)進(jìn)料口進(jìn)入限位軌道并通過(guò)出料口離開限位軌道，剔除模組位于出料口遠(yuǎn)離進(jìn)料口的一側(cè)。本發(fā)明能夠?qū)α蠋нM(jìn)行缺陷檢測(cè)，并對(duì)缺陷顆粒進(jìn)行剔除，方便快捷，節(jié)省人力。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及缺陷檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種LED支架缺陷檢測(cè)及剔除設(shè)備。

背景技術(shù)

傳統(tǒng)的LED支架檢測(cè)多為人工用放大鏡檢測(cè)，若發(fā)現(xiàn)LED支架在注塑后缺陷顆粒還需要人工進(jìn)行剔除。如此人工檢測(cè)不但效率底，而且人眼容易疲勞，誤檢和漏檢率較高，且LED支架缺陷顆粒及其微小，長(zhǎng)期進(jìn)行人工檢測(cè)，會(huì)人眼受到損傷；同時(shí)，人工剔除的方法費(fèi)時(shí)費(fèi)力，不利于LED支架的生產(chǎn)制造。

發(fā)明內(nèi)容

為解決上述問題，本發(fā)明提供的LED支架缺陷檢測(cè)及剔除設(shè)備，能夠?qū)α蠋нM(jìn)行缺陷檢測(cè)，并對(duì)缺陷顆粒進(jìn)行剔除，方便快捷，節(jié)省人力。

本發(fā)明提供一種LED支架缺陷檢測(cè)及剔除設(shè)備，包括：機(jī)柜、限位軌道、缺陷檢測(cè)裝置和缺陷剔除裝置，所述限位軌道用于限定料帶在所述LED支架缺陷檢測(cè)及剔除設(shè)備的傳送方向，所述機(jī)柜用于支撐所述限位軌道、缺陷檢測(cè)裝置和缺陷剔除裝置；

所述缺陷檢測(cè)裝置包括：相機(jī)鏡頭和計(jì)算模塊，所述相機(jī)鏡頭位于所述限位軌道的上方，所述相機(jī)鏡頭的拍攝方向朝向料帶，以獲取料帶的圖像，所述計(jì)算模塊與所述相機(jī)鏡頭通信連接，所述計(jì)算模塊用于根據(jù)通過(guò)相機(jī)鏡頭獲取到的圖像判斷料帶是否存在缺陷顆粒；

所述缺陷剔除裝置包括：剔除模組和用于驅(qū)動(dòng)所述剔除模組移動(dòng)的剔除驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)；

所述限位軌道包括：進(jìn)料口和出料口，所述料帶通過(guò)進(jìn)料口進(jìn)入所述限位軌道并通過(guò)出料口離開所述限位軌道，所述剔除模組位于所述出料口遠(yuǎn)離所述進(jìn)料口的一側(cè)；

在所述計(jì)算模塊確定料帶存在缺陷顆粒，且缺陷顆粒移動(dòng)至所述缺陷剔除裝置的情況下，所述計(jì)算模塊控制剔除驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)通過(guò)移動(dòng)所述剔除模組，以使所述剔除模組將料帶上的缺陷顆粒進(jìn)行剔除。

可選地，所述剔除模組包括：凸模和凹模；

所述凸模朝向所述凹模的一端固定設(shè)置有沖壓頭，所述凹模朝向所述沖壓頭的一端開設(shè)有沖壓口，所述沖壓口與所述沖壓頭適配；

在料帶上的缺陷顆粒移動(dòng)至所述凸模和所述凹模之間的情況下，所述剔除驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)帶動(dòng)所述沖壓頭通過(guò)所述沖壓口與所述凹模插接，以將料帶上的缺陷顆粒剔除。

可選地，所述剔除驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)包括：用于帶動(dòng)所述凸模上下移動(dòng)的沖壓組件、用于帶動(dòng)所述凸模和所述凹模左右移動(dòng)的平移組件，以及用于將所述沖壓組件和所述平移組件固定在所述機(jī)柜內(nèi)的支撐架；

在缺陷顆粒移動(dòng)至所述凸模和所述凹模之間的情況下，所述平移組件帶動(dòng)所述凸模和所述凹模水平移動(dòng)，以使缺陷顆粒位于所述沖壓頭和所述沖壓口之間，所述沖壓組件帶動(dòng)所述沖壓頭通過(guò)所述沖壓口與所述凹模插接，以將缺陷顆粒剔除出料帶。

可選地，所述剔除驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)還包括：用于帶動(dòng)所述凹模上下移動(dòng)的頂升組件；

在需要對(duì)料帶進(jìn)行剔除的情況下，所述頂升組件帶動(dòng)所述凹模向上移動(dòng)，以使所述凹模與所述料帶相抵觸。

可選地，所述缺陷檢測(cè)裝置還包括：用于驅(qū)動(dòng)所述相機(jī)鏡頭移動(dòng)的取像驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)；

所述取像驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)包括：與相機(jī)鏡頭固定連接的取像支座、用于帶動(dòng)所述取像支座上下移動(dòng)的升降驅(qū)動(dòng)組件、取像滑軌、與所述取像滑軌滑移連接的取像滑塊；