[發(fā)明專利]基于光子晶體光纖的振動(dòng)探測(cè)器及系統(tǒng)

在審

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• 申請(qǐng)日: 2020-01-21
• 公開（公告）號(hào): CN111220261A
• 公開（公告）日: 2020-06-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 不公告發(fā)明人
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 金華伏安光電科技有限公司
• 主分類號(hào): G01H9/00
• 分類號(hào): G01H9/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種基于光子晶體光纖的振動(dòng)探測(cè)器，其特征在于，所述振動(dòng)探測(cè)器包括：第一光纖、第二光纖、填充液和反射層；所述第二光纖一端與所述第一光纖的一端熔融連接，所述第二光纖的纖芯挖設(shè)有貫穿所述第二光纖中線的孔洞，所述孔洞中填充有填充液，所述反射層設(shè)置在所述第二光纖的纖芯另一端的所述孔洞洞口位置，其中，所述填充液未將所述孔洞完全填充。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于光子晶體光纖的振動(dòng)探測(cè)器，其特征在于，所述第二光纖和所述第一光纖之間還設(shè)置有貴金屬層，所述貴金屬層上設(shè)置有透射孔，所述透射孔與所述孔洞的圓心在同一條直線上。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于光子晶體光纖的振動(dòng)探測(cè)器，其特征在于，所述透射孔的直徑小于所述孔洞的直徑。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于光子晶體光纖的振動(dòng)探測(cè)器，其特征在于，所述填充液中摻雜有貴金屬納米顆粒。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于光子晶體光纖的振動(dòng)探測(cè)器，其特征在于，所述貴金屬納米顆粒的直徑為1納米-10納米。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于光子晶體光纖的振動(dòng)探測(cè)器，其特征在于，所述第一光纖為單模光纖或者光子晶體光纖，所述第二光纖為單模光纖或者光子晶體光纖。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于光子晶體光纖的振動(dòng)探測(cè)器，其特征在于，所述反射層與所述孔洞對(duì)應(yīng)的位置設(shè)置為凸起結(jié)構(gòu)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于光子晶體光纖的振動(dòng)探測(cè)器，其特征在于，所述振動(dòng)探測(cè)器還包括多個(gè)與所述孔洞平行的空腔結(jié)構(gòu)。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的基于光子晶體光纖的振動(dòng)探測(cè)器，其特征在于，多個(gè)所述空腔結(jié)構(gòu)中靠近所述反射層的一端設(shè)置有貴金屬結(jié)構(gòu)。

10.一種基于光子晶體光纖的振動(dòng)探測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述振動(dòng)探測(cè)系統(tǒng)，光譜儀和權(quán)利要求1-9任意一項(xiàng)所述的振動(dòng)探測(cè)器，所述光譜儀用于檢測(cè)所述振動(dòng)探測(cè)器的輸出光的光學(xué)特性。