[發明專利]一種帶內孔的圓柱形零件的測量裝置

在審

• 申請號: 202010068570.X
• 申請日: 2020-01-21
• 公開（公告）號: CN111174741A
• 公開（公告）日: 2020-05-19
• 發明（設計）人: 徐旭松;朱敏浩;葉超;許孟然;劉建;劉夢;曹清林;孫志英
• 申請（專利權）人: 江蘇理工學院
• 主分類號: G01B21/02
• 分類號: G01B21/02;G01B21/10;G01B21/14;G01B21/18
• 代理公司: 常州佰業騰飛專利代理事務所(普通合伙) 32231
• 代理人: 常瑩瑩

本發明屬于圓柱形零件檢測技術領域，尤其涉及一種帶內孔的圓柱形零件的測量裝置，包括基座、豎直支架、水平支架、第一連桿和第二連桿，豎直支架沿水平方向與基座滑動連接，水平支架沿豎直方向與豎直支架滑動連接，第一連桿和第二連桿均沿水平方向與水平支架滑動連接，且第一連桿和第二連桿的滑動方向一致；第一連桿上固設有第一測頭，第二連桿上固設有第二測頭，第一測頭和第二測頭位于同一水平線上，第一測頭和第二測頭的結構相同，第一測頭的一端為圓弧測量端，其另一端為平面測量端，第一測頭和第二測頭的平面測量端相對設置；第一連桿或第二連桿上固定設置有第一距離傳感器，第一連桿和/或第二連桿上固定設置有位移傳感器。

技術領域

本發明屬于圓柱形零件檢測技術領域，尤其涉及一種帶內孔的圓柱形零件的測量裝置。

背景技術

目前，一般采用內徑測量尺測量內孔的直徑，采用千分尺測量外圓的直徑，需要使用兩種測量工具進行測量，比較麻煩，要想快速的測量出較為精確的尺寸需要一定的測量經驗，即使是測量同一內孔直徑或者外圓直徑也可能出現不同的值，而且受到工件內孔直徑大小的影響，要更換不同的內徑測量尺和千分尺測量，費時費力，測量效率低；另外，想要測量內孔環槽的直徑以及內孔環槽的寬度卻很困難，必須借助一些其它輔助工具進行測量，測量不穩定，精度不高，而且受到測量工件大小的影響，要更換不同的測量裝置進行測量，即使是一些經驗豐富的測量員進行測量時，也相當費時費力，測量效率低；又如現在的三坐標測量工具雖然具有很高的測量精度，但其檢測成本高，不適合大批量檢測，而且在操作前需要較長時間的培訓，也比較費時。

發明內容

為解決現有技術存在的帶內孔圓柱形零件的測量工具操作麻煩、測量效率低、測量精度低和成本較高的問題，本發明提供一種帶內孔的圓柱形零件的測量裝置，能夠克服目前存在問題，使測量更加高效，操作簡單，結果精確，成本較低，適用范圍較廣，有一定的市場推廣前景。

為解決上述技術問題，本發明所采用的技術方案如下，一種帶內孔的圓柱形零件的測量裝置，包括基座、豎直支架、水平支架、第一連桿和第二連桿，所述豎直支架沿水平方向與基座滑動連接，所述水平支架沿豎直方向與豎直支架滑動連接，所述第一連桿和第二連桿均沿水平方向與水平支架滑動連接，且所述第一連桿和第二連桿的滑動方向一致；

所述第一連桿上固定設置有第一測頭，所述第二連桿上固定設置有第二測頭，所述第一測頭和第二測頭位于同一水平線上，所述第一測頭和第二測頭的結構相同，所述第一測頭的一端為圓弧測量端，所述第一測頭的另一端為平面測量端，所述第一測頭和第二測頭的平面測量端相對設置；

所述第一連桿或第二連桿上固定設置有第一距離傳感器，所述第一連桿和/或第二連桿上固定設置有位移傳感器。

作為優選，所述第一測頭和/或第二測頭上固定設置有第二距離傳感器。如第一測頭上固定設置有第二距離傳感器，移動第一測頭的位置，使第一測頭與圓柱形零件表面的適當位置接觸，第二距離傳感器測出其內孔的深度；移動第一測頭的位置，使第一測頭與圓柱形零件表面的適當位置接觸，第二距離傳感器測出圓柱形零件的總高度；第一測頭和第二測頭上均固定設置有第二距離傳感器，可同時操作第一測頭和第二測頭，得出內孔深度的平均值和圓柱形零件總高度的平均值，提高測量精度和測量效率；操作便捷，測量效率高，結合傳感技術，測量精度高。

作為優選，所述第一測頭通過第一測桿與第一連桿固定連接，所述第二測頭通過第二測桿與第二連桿固定連接。第一測桿的設置便于第一測頭與第一連桿的裝配，第二測桿的設置便于第二測頭與第二連桿的裝配。

作為優選，所述豎直支架與基座、水平支架與豎直支架、第一連桿與水平支架、以及第二連桿與水平支架之間均通過滑槽和滑塊結構滑動連接?；酆突瑝K結構簡單可靠，便于操作，成本較低。

進一步地，所述滑槽為十字滑槽，所述滑塊為與十字滑槽配合的十字滑塊。有效提高各部件滑動的精度，同時提高該測量裝置的測量精度。