[發(fā)明專利]漏電保護(hù)器的基礎(chǔ)漏電檢測(cè)芯片有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010067885.2 | 申請(qǐng)日: | 2020-01-20 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111208450B | 公開(公告)日: | 2020-12-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 羅將城;韓雁 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 浙江大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01R31/52 | 分類號(hào): | G01R31/52 |
| 代理公司: | 杭州求是專利事務(wù)所有限公司 33200 | 代理人: | 林松海 |
| 地址: | 310058 浙江*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 漏電 保護(hù) 基礎(chǔ) 檢測(cè) 芯片 | ||
本發(fā)明公開了一種漏電保護(hù)器的基礎(chǔ)漏電檢測(cè)芯片,基礎(chǔ)漏電概念可以理解為電器設(shè)備正常工作情況下產(chǎn)生的不足以使漏電保護(hù)器跳閘的漏電信號(hào)。發(fā)明包括峰值檢波電路、20ms時(shí)鐘產(chǎn)生器、60ms延時(shí)電路、2.5V參考電壓模塊、寄存器模塊、比較器模塊、計(jì)數(shù)器、數(shù)字減法器、ADC模塊、DAC模塊、模擬加/減法器、選擇電路、延時(shí)清零電路;本發(fā)明能夠?qū)⒒A(chǔ)漏電信號(hào)從輸入的漏電信號(hào)中識(shí)別并剔除,漏電信號(hào)檢測(cè)、判別、存儲(chǔ)、輸出過程不影響負(fù)載的正常工作,具有較大的實(shí)際應(yīng)用價(jià)值和市場(chǎng)價(jià)值。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及集成電路設(shè)計(jì)領(lǐng)域,尤其涉及漏電保護(hù)器相關(guān)的基礎(chǔ)漏電檢測(cè)芯片。
背景技術(shù)
隨著電器應(yīng)用的日益普及,電網(wǎng)負(fù)載多樣化復(fù)雜化,用電安全越來越受國家和社會(huì)的重視,漏電保護(hù)器成為了生產(chǎn)和生活中不可或缺的輔助電器。電器設(shè)備的漏電主要包括電容性漏電、電阻性漏電和短路性漏電三種形式。前兩種漏電形式會(huì)在電器設(shè)備工作中長期存在,故將這兩種形式的漏電定義為基礎(chǔ)漏電。基礎(chǔ)漏電的存在會(huì)導(dǎo)致漏電保護(hù)器跳閘閾值的減小,最終造成漏電保護(hù)器抗信號(hào)干擾能力降低,造成頻繁跳閘,給人們的生活和生產(chǎn)造成各種不便,如何消除基礎(chǔ)漏電引起漏電保護(hù)器頻繁跳閘不容忽視。
發(fā)明內(nèi)容
為了克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,本發(fā)明提供一種漏電保護(hù)器的基礎(chǔ)漏電檢測(cè)芯片。
一種漏電保護(hù)器的基礎(chǔ)漏電檢測(cè)芯片,包括:
峰值檢波電路,用于將輸入漏電信號(hào)的峰值檢出;
20ms時(shí)鐘產(chǎn)生器,為計(jì)數(shù)器、延時(shí)電路提供時(shí)鐘,為ADC模塊提供觸發(fā)使能信號(hào);
60ms延時(shí)電路,用于滯后漏電保護(hù)器的判斷、輸出,提高信號(hào)識(shí)別準(zhǔn)確性;
2.5V參考電壓模塊,為ADC、DAC、模擬加法器、模擬減法器提供參考電壓;
計(jì)數(shù)器模塊,用于產(chǎn)生寄存器模塊更新使能信號(hào);
延時(shí)清零電路,用于計(jì)數(shù)器輸出的使能信號(hào)有效之后,延時(shí)清零計(jì)數(shù)器;
寄存器模塊,用于存儲(chǔ)ADC模塊轉(zhuǎn)換之后得到的值;
第一數(shù)字比較器,用于判斷漏電信號(hào)是否超過閾值;
第二數(shù)字比較器,用于監(jiān)測(cè)漏電信號(hào)處在正半周期還是負(fù)半周期;
選擇電路,根據(jù)第二數(shù)字比較器得到的結(jié)果來選擇模擬加法器工作還是模擬減法器工作;
數(shù)字減法器,用于判斷并輸出使能信號(hào)使計(jì)數(shù)器工作;
ADC模塊,將輸入基礎(chǔ)漏電峰值模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)存入寄存器模塊;
DAC模塊,將寄存器模塊中的數(shù)字信號(hào)轉(zhuǎn)換成模擬信號(hào),分別輸出給模擬加法器、模擬減法器和數(shù)字比較器;
模擬加法器、模擬減法器,將輸入的漏電信號(hào)跟DAC轉(zhuǎn)換后的模擬信號(hào)加/減后輸出給漏電保護(hù)器。
所述數(shù)字減法器用于將輸入的漏電信號(hào)峰值經(jīng)過ADC模塊轉(zhuǎn)換之后跟寄存器A中原先存儲(chǔ)的基礎(chǔ)漏電值進(jìn)行相減,相減標(biāo)志位結(jié)果作為計(jì)數(shù)器的使能信號(hào)。
所述計(jì)數(shù)器用于判斷3個(gè)周期(60ms)內(nèi)都滿足當(dāng)前輸入漏電信號(hào)峰值不小于寄存器A中存儲(chǔ)的基礎(chǔ)漏電值,則將當(dāng)前漏電信號(hào)峰值更新到寄存器中作為新的基礎(chǔ)漏電值,反之則在一個(gè)周期內(nèi)將輸入的漏電信號(hào)峰值更新到寄存器A中。
所述模擬加/減法器模塊用于比較器模塊判斷得到處于波形的正半周期選擇模擬減法器工作,處于波形負(fù)半周期選擇模擬加法器工作,將當(dāng)前輸入的漏電信號(hào)與寄存器中基礎(chǔ)漏電DAC轉(zhuǎn)換后得到的值處理后的波形輸出給漏電保護(hù)器進(jìn)行判斷。
一種漏電保護(hù)器,采用了所述的基礎(chǔ)漏電檢測(cè)芯片。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
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